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185HLE 實惠S-VANS 晶圓鹵素照明光源燈 185HLEPX 5106
SELONE N 精品S-VANS日本 晶圓缺陷光學照明燈 SELONE NPX 5106
KLA Candela® 8520表面缺陷檢測系統PX 3562
KLA Candela® 8420表面缺陷檢測系統PX 3562
晶圓缺陷光學檢測設備PX 6370
AWL系列半導體晶圓缺陷檢測/國產晶圓搬運機PX 6370
KLA Candela® 7100系列缺陷檢測和分類系統PX 3562
KLA Candela® 6300系列光學表面分析儀系統PX 3562
UltraINSP - 晶圓表面缺陷檢測系統PX 7120
LODAS™ – LI系列FPD Photomask缺陷檢查裝置PX 7120
LODAS™ – BI12GlassWafe缺陷檢查裝置PX 7120
CI8化合物半導體SiC、GaN晶圓檢查裝置PX 7120
LODAS™ – BI8Photomask Blanks缺陷檢查裝置PX 7120
LODAS™ – AI50/100Photomask Blanks缺陷檢查裝置PX 7120
Nanotronics nSpec LS晶圓缺陷檢測光學系統PX 7120
AX7900晶圓缺陷X-RAY檢測設備PX 0
QG-150/QG-250中科微電子 晶圓目檢強光燈PX 0
晶圓缺陷檢測:寬場熒光顯微成像模組PX 5015
半導體缺陷檢測 PULSAR系列PX 0
透明晶圓缺陷掃描Lumina AT2-EFEMPX 0
透明晶圓缺陷掃描Lumina AT2PX 0
透明晶圓缺陷掃描Lumina AT1PX 0
Sneox高精度晶圓測試儀晶圓厚度測量儀PX 2033
OPTELICS AI 2晶圓缺陷檢測儀PX 0
AWL系列舜宇晶圓檢查系統PX 0
KINO LOADERwafer loaderPX 0
薄膜生長設備
工藝測量和檢測設備
集成電路測試與分選設備
光刻及涂膠顯影設備
熱工藝設備/熱處理設備
硅片制備/晶體生長設備
掩模版和中間掩模版制造設備
離子注入設備
干法工藝設備
濕法工藝設備
組裝與封裝設備
其它半導體行業儀器設備
晶圓光學檢測鑷MEISTER-00C
INTECS英特斯 半導體晶圓異物照明檢查燈
INTECS英特斯 晶圓玻璃劃痕光學檢查燈
INTECS英特斯 半導體晶圓表面劃痕檢查燈
S-VANS 晶圓鏡片玻璃照明燈泡 實惠
S-VANS 晶圓缺陷鹵素照明燈 350LSFI
S-VANS 晶圓缺陷光纖導鹵素聚光燈 370TFI/R
S-VANS 晶圓光纖鹵素照明燈 185FI
晶圓缺陷光學檢查燈185LE目視光源185LE現貨
國產晶圓搬運機
晶圓缺陷X-RAY檢測設備
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