當(dāng)前位置:賽默飛電子顯微鏡>>技術(shù)文章展示
您好, 歡迎來到化工儀器網(wǎng)! 登錄| 免費(fèi)注冊| 產(chǎn)品展廳| 收藏商鋪|
當(dāng)前位置:賽默飛電子顯微鏡>>技術(shù)文章展示
2023
08-112023
08-02場發(fā)射掃描電子顯微鏡可用于觀察哪些材料或結(jié)構(gòu)?
場發(fā)射掃描電子顯微鏡是一種強(qiáng)大的工具,可用于觀察各種材料和結(jié)構(gòu)。它利用高能電子束與樣品相互作用的原理來生成顯微圖像。以下是場發(fā)射掃描電子顯微鏡可用于觀察的一些常見材料或結(jié)構(gòu):1、金屬:可用于觀察金屬的晶體結(jié)構(gòu)、表面形貌和成分分布。它可以揭示金屬中的缺陷、晶界和相界,以及金屬合金中的相分離和相變現(xiàn)象。2、半導(dǎo)體:對于研究半導(dǎo)體材料的微觀結(jié)構(gòu)非常有用。它可以檢測和表征半導(dǎo)體器件中的納米尺度特征,如晶體生長缺陷、摻雜劑分布和金屬線路的形態(tài)。3、陶瓷和玻璃:可用于觀察陶瓷和玻璃材料的微觀結(jié)構(gòu)和表面特征。2023
07-122023
07-122023
07-122023
07-04FEI Scios DualBeam 雙束電子顯微鏡技術(shù)上有哪些特點(diǎn)?
聚焦離子束掃描電子顯微鏡雙束系統(tǒng)(以下簡稱雙束電子顯微鏡)是指同時(shí)具備聚焦離子束(FIB)和掃描電子顯微鏡(SEM)功能的系統(tǒng)。就是把FIB系統(tǒng)和傳統(tǒng)掃描電子顯微系統(tǒng)按一定的角度同時(shí)裝在一個(gè)裝置上,把試樣調(diào)節(jié)到共心高度位置。這就使得試驗(yàn)時(shí)可通過轉(zhuǎn)動(dòng)試樣臺(tái)使試樣表面與電子束或者離子束垂直,從而最終達(dá)到對電子束進(jìn)行實(shí)時(shí)觀測和對離子束進(jìn)行切割或者微加工等效果。FEISciosDualBeam雙束電子顯微鏡是一款超高分辨率DualBeam™分析系統(tǒng),能為包括磁性材料在內(nèi)的眾多樣本提供出色的二維和三維性能2023
07-03fei透射電子顯微鏡在材料科學(xué)中的應(yīng)用
fei透射電子顯微鏡在材料科學(xué)中具有廣泛的應(yīng)用。利用電子束穿透樣品,通過收集和分析透射電子的信息,可以提供高分辨率、高對比度的圖像以及豐富的材料結(jié)構(gòu)和性質(zhì)信息。fei透射電子顯微鏡在材料科學(xué)中的主要應(yīng)用:1、結(jié)構(gòu)表征:可以揭示材料的晶體結(jié)構(gòu)、晶格缺陷以及界面和界面相互作用等細(xì)節(jié)。它能夠觀察到納米尺度下的原子排列、晶格畸變和晶體缺陷,幫助研究者理解材料的物理和化學(xué)性質(zhì)。2、成分分析:與能譜儀或電子能量損失光譜結(jié)合使用,可以實(shí)現(xiàn)元素成分分析。通過分析樣品中散射或吸收的特定能量的電子,可以確定材料的組2023
06-132023
06-13fei雙束電子顯微鏡可以用于哪些應(yīng)用領(lǐng)域?
fei雙束電子顯微鏡是一種電子顯微鏡,具有雙束掃描電子顯微鏡(SEM)和透射電子顯微鏡(TEM)兩種模式。它可以用于各種應(yīng)用領(lǐng)域,如材料科學(xué)、納米科技、生物醫(yī)學(xué)等。fei雙束電子顯微鏡的應(yīng)用領(lǐng)域如下:1、材料科學(xué)在材料科學(xué)中,可以被用來研究材料的結(jié)構(gòu)和性質(zhì)。通過SEM模式,可以對樣品表面進(jìn)行高分辨率成像,以了解其形貌、晶體學(xué)和化學(xué)組成。而在TEM模式下,可以對樣品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)進(jìn)行考察,如晶格結(jié)構(gòu)、缺陷和界面等。此外,還可以進(jìn)行光譜分析,并提供原子分辨率的成像,從而提供更深入和全面的信息。2、納米科2023
06-132023
06-12新視角揭示細(xì)胞器的獨(dú)特形態(tài)特征 - 3D 可視化
細(xì)胞器執(zhí)行維持細(xì)胞(以及組織、器官和有機(jī)體)存活和運(yùn)作的基本過程。近幾十年來,光學(xué)顯微鏡和透射電子顯微鏡(TEM)已被證明有助于闡明細(xì)胞器的基本結(jié)構(gòu)。然而,這些都是2D技術(shù)-只有通過獲取詳細(xì)的3D圖像才能徹底了解活細(xì)胞內(nèi)的細(xì)胞器結(jié)構(gòu)和相互作用。因此,細(xì)胞器的高分辨率3D成像成為目前細(xì)胞生物學(xué)的重中之重。2022年在Cells上發(fā)表的一篇文章中闡述了如何結(jié)合ThermoScientific™Amira™軟件和細(xì)胞串行模塊掃描電子顯微鏡(SBFSEM)生成詳細(xì)的3D重建細(xì)胞器。通過直接觀測細(xì)胞器形態(tài)2023
06-072023
06-052023
06-012023
05-312023
05-172023
05-152023
05-152023
05-152023
05-15臺(tái)式掃描電鏡更易用的特性使其應(yīng)用大眾化
自20世紀(jì)30年代電子顯微鏡面世以來,SEM掃描電鏡已成為眾多不同研究領(lǐng)域中的一個(gè)關(guān)鍵工具,范圍覆蓋從材料科學(xué)、到法醫(yī)學(xué)、工業(yè)生產(chǎn)甚至生命科學(xué)領(lǐng)域所涉及的一切內(nèi)容。只要需要關(guān)于樣品表面或近表面區(qū)域的形貌、成分和結(jié)構(gòu)信息,掃描電鏡分析都是常見的步驟,SEM掃描電鏡也就成為常見的工具。因此,該方法幾乎在科學(xué)、技術(shù)和工業(yè)的每個(gè)分支中都得到了應(yīng)用。SEM掃描電鏡具有高度的靈活性和豐富的功能,包括多種檢測器、附件,可以滿足廣泛的研究和工業(yè)需求。無論樣品尺寸、重量、導(dǎo)電性如何,掃描電鏡都可以讓您輕松應(yīng)對挑戰(zhàn)以上信息由企業(yè)自行提供,信息內(nèi)容的真實(shí)性、準(zhǔn)確性和合法性由相關(guān)企業(yè)負(fù)責(zé),化工儀器網(wǎng)對此不承擔(dān)任何保證責(zé)任。
溫馨提示:為規(guī)避購買風(fēng)險(xiǎn),建議您在購買產(chǎn)品前務(wù)必確認(rèn)供應(yīng)商資質(zhì)及產(chǎn)品質(zhì)量。