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賽默飛電子顯微鏡

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當(dāng)前位置:賽默飛電子顯微鏡>>技術(shù)文章展示

  • 2023

    08-11

    電子顯微鏡正在催生新一代更輕、更耐用的金屬

    從橋梁和摩天大樓到發(fā)動(dòng)機(jī)和工具,再到汽車和飛機(jī),金屬材料是經(jīng)濟(jì)繁榮的支柱。事實(shí)上,隨著全球人口的增長和經(jīng)濟(jì)的發(fā)展,我們對鋁、銅、鉛、鋰、鈦和其他金屬的需求也在持續(xù)增加。隨著世界經(jīng)濟(jì)的活躍,需要更高性能的合金來推進(jìn)工業(yè)生產(chǎn),更省油的汽車也需要輕質(zhì)合金材料,更牢固的內(nèi)部結(jié)構(gòu)需要耐用、無腐蝕性的合金。人們正在尋找新的合金來開發(fā)能夠承受極端天氣的導(dǎo)彈、衛(wèi)星和軍艦。發(fā)現(xiàn)金屬性能的秘密為了實(shí)現(xiàn)這些目標(biāo),研究機(jī)構(gòu)和企業(yè)正在努力創(chuàng)造更輕、更強(qiáng)、更耐用、更耐腐蝕的合金。在掃描和透射電子顯微鏡以及其他多模態(tài)數(shù)據(jù)采集
  • 2023

    08-02

    場發(fā)射掃描電子顯微鏡可用于觀察哪些材料或結(jié)構(gòu)?

    場發(fā)射掃描電子顯微鏡是一種強(qiáng)大的工具,可用于觀察各種材料和結(jié)構(gòu)。它利用高能電子束與樣品相互作用的原理來生成顯微圖像。以下是場發(fā)射掃描電子顯微鏡可用于觀察的一些常見材料或結(jié)構(gòu):1、金屬:可用于觀察金屬的晶體結(jié)構(gòu)、表面形貌和成分分布。它可以揭示金屬中的缺陷、晶界和相界,以及金屬合金中的相分離和相變現(xiàn)象。2、半導(dǎo)體:對于研究半導(dǎo)體材料的微觀結(jié)構(gòu)非常有用。它可以檢測和表征半導(dǎo)體器件中的納米尺度特征,如晶體生長缺陷、摻雜劑分布和金屬線路的形態(tài)。3、陶瓷和玻璃:可用于觀察陶瓷和玻璃材料的微觀結(jié)構(gòu)和表面特征。
  • 2023

    07-12

    sem掃描電鏡如何實(shí)現(xiàn)高分辨率成像?

    sem掃描電鏡是一種使用聚焦的電子束來成像樣品表面的顯微鏡。它可以實(shí)現(xiàn)高分辨率成像,主要有以下幾個(gè)原因:1、電子束的短波長:相比可見光的波長范圍,電子束的波長非常短,通常在納米級(jí)別。這使得它能夠克服光學(xué)顯微鏡的衍射極限,從而實(shí)現(xiàn)更高的分辨率。根據(jù)決解能力公式,分辨率與波長成反比關(guān)系,因此短波長的電子束使得其具有更高的分辨率。2、聚焦電子束:電子束經(jīng)過精確的聚焦系統(tǒng),使其能夠被集中到非常小的尺寸。這種強(qiáng)大的聚焦能力有助于提高分辨率,并且能夠產(chǎn)生細(xì)致的圖像細(xì)節(jié)。通過優(yōu)化聚焦系統(tǒng)和使用適當(dāng)?shù)奶结橂娏鳎?
  • 2023

    07-12

    淺析fei掃描電鏡的工作方式和操作流程

    fei掃描電鏡是一種高分辨率的電子顯微鏡,它利用電子束而不是光束來形成圖像。下面是fei掃描電鏡的工作方式和操作流程的概述。1、準(zhǔn)備樣品:首先,需要準(zhǔn)備要觀察的樣品。樣品通常需要被切割、研磨、涂覆導(dǎo)電材料或冷凍處理等預(yù)處理步驟,以便在FE-SEM中進(jìn)行觀察。樣品也可以是固體、粉末、薄片、纖維等不同形式。2、投射電子束:電子槍生成高能電子束。這個(gè)電子束通過一個(gè)稱為“透鏡系統(tǒng)”的裝置來控制和聚焦。透鏡系統(tǒng)由多個(gè)磁透鏡組件組成,用于聚焦和形成非常小的束斑。3、掃描樣品表面:樣品放置在一個(gè)可移動(dòng)的樣品臺(tái)
  • 2023

    07-12

    掃描電子顯微鏡的工作原理及儀器結(jié)構(gòu)

    掃描電子顯微鏡是一種高分辨率的顯微鏡,利用電子束與樣品相互作用并檢測所產(chǎn)生的各種信號(hào)來觀察樣品的表面形貌和組成。掃描電子顯微鏡的工作原理:1、電子源:使用的電子源通常是熱發(fā)射陰極或場發(fā)射陰極,通過加熱或施加高電壓來產(chǎn)生高能電子。2、聚焦系統(tǒng):聚焦系統(tǒng)由幾個(gè)透鏡組成,用于控制電子束的聚焦和定位。3、高真空環(huán)境:工作時(shí)需要在高真空環(huán)境中進(jìn)行,以避免電子束與氣體分子的碰撞散射,影響圖像質(zhì)量。4、樣品臺(tái):樣品被放置在樣品臺(tái)上,可以水平或傾斜放置,以便于不同角度的觀察和分析。5、掃描線圈:掃描線圈用于控制
  • 2023

    07-04

    FEI Scios DualBeam 雙束電子顯微鏡技術(shù)上有哪些特點(diǎn)?

    聚焦離子束掃描電子顯微鏡雙束系統(tǒng)(以下簡稱雙束電子顯微鏡)是指同時(shí)具備聚焦離子束(FIB)和掃描電子顯微鏡(SEM)功能的系統(tǒng)。就是把FIB系統(tǒng)和傳統(tǒng)掃描電子顯微系統(tǒng)按一定的角度同時(shí)裝在一個(gè)裝置上,把試樣調(diào)節(jié)到共心高度位置。這就使得試驗(yàn)時(shí)可通過轉(zhuǎn)動(dòng)試樣臺(tái)使試樣表面與電子束或者離子束垂直,從而最終達(dá)到對電子束進(jìn)行實(shí)時(shí)觀測和對離子束進(jìn)行切割或者微加工等效果。FEISciosDualBeam雙束電子顯微鏡是一款超高分辨率DualBeam™分析系統(tǒng),能為包括磁性材料在內(nèi)的眾多樣本提供出色的二維和三維性能
  • 2023

    07-03

    fei透射電子顯微鏡在材料科學(xué)中的應(yīng)用

    fei透射電子顯微鏡在材料科學(xué)中具有廣泛的應(yīng)用。利用電子束穿透樣品,通過收集和分析透射電子的信息,可以提供高分辨率、高對比度的圖像以及豐富的材料結(jié)構(gòu)和性質(zhì)信息。fei透射電子顯微鏡在材料科學(xué)中的主要應(yīng)用:1、結(jié)構(gòu)表征:可以揭示材料的晶體結(jié)構(gòu)、晶格缺陷以及界面和界面相互作用等細(xì)節(jié)。它能夠觀察到納米尺度下的原子排列、晶格畸變和晶體缺陷,幫助研究者理解材料的物理和化學(xué)性質(zhì)。2、成分分析:與能譜儀或電子能量損失光譜結(jié)合使用,可以實(shí)現(xiàn)元素成分分析。通過分析樣品中散射或吸收的特定能量的電子,可以確定材料的組
  • 2023

    06-13

    sem掃描電子顯微鏡的成像原理和操作流程

    sem掃描電子顯微鏡是一種高分辨率的顯微鏡,利用電子束與樣品相互作用來進(jìn)行成像。其主要優(yōu)勢在于能夠獲得非常高的空間分辨率和表面形貌信息,同時(shí)還可以通過所觀察樣品的反射電子、散射電子和次級(jí)電子等信號(hào)來獲取其化學(xué)組成和結(jié)構(gòu)信息。sem掃描電子顯微鏡的成像原理:其工作原理與傳統(tǒng)的光學(xué)顯微鏡有所不同。采用一個(gè)電子槍產(chǎn)生高速的電子束,并將該束聚焦到非常小的直徑上。樣品表面被電子束擊中后,產(chǎn)生出各種類型的信號(hào),包括反射電子、散射電子和次級(jí)電子等。這些信號(hào)將被探測器捕獲并轉(zhuǎn)換為圖像信號(hào),從而形成數(shù)字圖像。se
  • 2023

    06-13

    fei雙束電子顯微鏡可以用于哪些應(yīng)用領(lǐng)域?

    fei雙束電子顯微鏡是一種電子顯微鏡,具有雙束掃描電子顯微鏡(SEM)和透射電子顯微鏡(TEM)兩種模式。它可以用于各種應(yīng)用領(lǐng)域,如材料科學(xué)、納米科技、生物醫(yī)學(xué)等。fei雙束電子顯微鏡的應(yīng)用領(lǐng)域如下:1、材料科學(xué)在材料科學(xué)中,可以被用來研究材料的結(jié)構(gòu)和性質(zhì)。通過SEM模式,可以對樣品表面進(jìn)行高分辨率成像,以了解其形貌、晶體學(xué)和化學(xué)組成。而在TEM模式下,可以對樣品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)進(jìn)行考察,如晶格結(jié)構(gòu)、缺陷和界面等。此外,還可以進(jìn)行光譜分析,并提供原子分辨率的成像,從而提供更深入和全面的信息。2、納米科
  • 2023

    06-13

    什么是冷凍聚焦離子束顯微鏡?

    冷凍聚焦離子束顯微鏡是一種高分辨率生物成像技術(shù),可以在低溫下對生物樣品進(jìn)行三維成像。該技術(shù)結(jié)合了冷凍電鏡和離子束切割技術(shù)。首先,要將樣品冷凍在液氮中,以避免樣品受到損傷和變形。然后,使用離子束來制備樣品的切片,以便觀察其內(nèi)部結(jié)構(gòu)。離子束可以控制其射入深度,因此可以選擇在樣品的不同深度上制備切片,并且可以制備非常薄的切片,使得樣品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)能夠被清晰地看到。在樣品制備過程中,還可以利用離子束進(jìn)行雕刻和清除不需要的區(qū)域。完成制備后,樣品需要進(jìn)行成像。這通常是通過透射電子顯微鏡或高分辨率掃描電子顯微鏡
  • 2023

    06-12

    新視角揭示細(xì)胞器的獨(dú)特形態(tài)特征 - 3D 可視化

    細(xì)胞器執(zhí)行維持細(xì)胞(以及組織、器官和有機(jī)體)存活和運(yùn)作的基本過程。近幾十年來,光學(xué)顯微鏡和透射電子顯微鏡(TEM)已被證明有助于闡明細(xì)胞器的基本結(jié)構(gòu)。然而,這些都是2D技術(shù)-只有通過獲取詳細(xì)的3D圖像才能徹底了解活細(xì)胞內(nèi)的細(xì)胞器結(jié)構(gòu)和相互作用。因此,細(xì)胞器的高分辨率3D成像成為目前細(xì)胞生物學(xué)的重中之重。2022年在Cells上發(fā)表的一篇文章中闡述了如何結(jié)合ThermoScientific™Amira™軟件和細(xì)胞串行模塊掃描電子顯微鏡(SBFSEM)生成詳細(xì)的3D重建細(xì)胞器。通過直接觀測細(xì)胞器形態(tài)
  • 2023

    06-07

    哪些因素可以影響透射電子顯微鏡?

    透射電子顯微鏡(TransmissionElectronMicroscope,簡稱TEM)是一種把經(jīng)加速和聚集的電子束透射到非常薄的樣品上,電子與樣品中的原子碰撞而改變方向,從而產(chǎn)生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度等相關(guān),因此可以形成明暗不同的影像,影像在放大、聚焦后在成像器件(如熒光屏,膠片以及感光耦合組件)上顯示出來的顯微鏡。作為實(shí)驗(yàn)室常用科學(xué)儀器設(shè)備,可以清晰地觀察到生物樣品的納米級(jí)微觀內(nèi)部結(jié)構(gòu),目前已廣泛應(yīng)用于各類生物學(xué)科的分析研究。影響透射電子顯微鏡的三個(gè)因素分別是:1、分辨
  • 2023

    06-05

    fei雙束電子顯微鏡的特點(diǎn)和使用方法

    FEI雙束電子顯微鏡是一種高級(jí)的電子顯微鏡,具有很高的分辨率和成像質(zhì)量。下面將介紹其主要特點(diǎn)和使用方法。特點(diǎn):1.雙束設(shè)計(jì):可以同時(shí)使用高能電子束和低能電子束進(jìn)行成像。高能電子束可以提供高分辨率的成像,而低能電子束可以用于分析樣品表面化學(xué)組成和確定晶格結(jié)構(gòu)等信息。2.高分辨率:具有很高的分辨率,在納米尺度下可以觀察到樣品的細(xì)節(jié)結(jié)構(gòu)和表面形貌。3.多功能成像:除了常規(guī)的透射電子顯微鏡成像外,還支持掃描電子顯微鏡、反射高能電子衍射和透射電子衍射等多種成像模式,可以實(shí)現(xiàn)更加全面的樣品分析。4.穩(wěn)定性:
  • 2023

    06-01

    什么是fei掃描電子顯微鏡,它有哪些應(yīng)用?

    fei掃描電子顯微鏡是一種高分辨率的電子顯微鏡,利用聚焦的電子束與樣品相互作用,通過捕獲和放大反射、散射或透射的電子信號(hào)來獲得樣品的表面形貌和結(jié)構(gòu)信息。fei掃描電子顯微鏡具有廣泛的應(yīng)用。以下是其中一些最常見的應(yīng)用:1、材料科學(xué):可用于研究材料的結(jié)構(gòu)、成分和性質(zhì)。它可以用于材料的表面形貌和晶體結(jié)構(gòu)的分析,從而幫助科學(xué)家們開發(fā)新型材料以滿足各種需求。2、生命科學(xué):在生命科學(xué)領(lǐng)域也有廣泛的應(yīng)用。它可以用于觀察細(xì)胞和組織的結(jié)構(gòu),以及細(xì)胞內(nèi)分子的位置和分布。這些信息對于研究細(xì)胞生物學(xué)和疾病機(jī)制等方面非常
  • 2023

    05-31

    冷凍聚焦離子束顯微鏡在生物學(xué)中的應(yīng)用

    冷凍聚焦離子束顯微鏡(Cryo-FIB)是一種新興的高分辨率成像技術(shù),它結(jié)合了冷凍樣品制備和離子束切割技術(shù),可以用于生物學(xué)領(lǐng)域的多種應(yīng)用。首先,Cryo-FIB可用于生物大分子的三維重建。該技術(shù)可以在冷凍狀態(tài)下將樣品切割成極薄的切片,并通過掃描電子顯微鏡(SEM)進(jìn)行成像,這使得研究人員能夠獲取高分辨率的三維重建數(shù)據(jù)。與傳統(tǒng)的電子顯微鏡技術(shù)相比,Cryo-FIB不需要使用化學(xué)染色或其他處理技術(shù)來增強(qiáng)圖像對比度,因此可以更好地保持樣品的原始形態(tài)和構(gòu)象。其次,Cryo-FIB還可以用于解析細(xì)胞超分辨
  • 2023

    05-17

    fei透射電子顯微鏡在納米材料研究中的應(yīng)用

    fei透射電子顯微鏡是一種非常重要的材料科學(xué)工具,在納米材料研究中有著廣泛的應(yīng)用。以下是該設(shè)備在納米材料研究中的一些主要應(yīng)用:1.納米結(jié)構(gòu)表征TEM可以用來對納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行高分辨率成像和表征,探測納米尺度下微觀結(jié)構(gòu)的特性、形貌和大小等。通過TEM的高空間分辨率,可以有效地分析納米材料的晶體結(jié)構(gòu)、缺陷及其它微觀結(jié)構(gòu)特征。2.納米材料成分分析TEM可以使用能量色散X射線譜儀對樣品進(jìn)行化學(xué)成分分析。EDS技術(shù)能夠在空間分辨率為納米級(jí)別的同時(shí)分析出樣品中主要元素以及少量的雜質(zhì)元素,從而揭示納米材料的組成、
  • 2023

    05-15

    fei透射電鏡分析的應(yīng)用范圍十分廣泛!

    fei透射電鏡是一種高分辨率的顯微鏡,可以將物質(zhì)中的原子和分子結(jié)構(gòu)進(jìn)行可視化和分析。它使用高能電子束穿過樣品,產(chǎn)生原子級(jí)別的影像和衍射圖案,從而揭示材料性質(zhì)和結(jié)構(gòu)信息。通過觀察樣品的衍射圖案和成像對比,可以確定晶體結(jié)構(gòu)、晶格常數(shù)、晶界和缺陷等性質(zhì),并對納米尺度的材料進(jìn)行研究和分析。fei透射電鏡分析的應(yīng)用范圍:1、材料科學(xué)能夠?qū)Σ牧系木w結(jié)構(gòu)、晶界、位錯(cuò)、孿晶、相變、納米顆粒等進(jìn)行高分辨率成像和化學(xué)分析。這在研究材料的機(jī)械性能、電學(xué)性能、光學(xué)性能、催化性能、熱穩(wěn)定性等方面具有非常重要的意義。2、
  • 2023

    05-15

    透射電鏡是什么?它的工作原理是什么?

    透射電鏡是一種強(qiáng)大的高分辨率顯微鏡,能夠通過將電子束透過樣品來獲得非常高分辨率的圖像。其工作原理基于電子物理學(xué)和光學(xué)原理,通過控制電子束在樣品中的傳播路徑、散射方式和收集模式來實(shí)現(xiàn)高清晰度成像。透射電鏡的關(guān)鍵組件包括電子源、準(zhǔn)直器、樣品臺(tái)、目標(biāo)屏和檢測器。電子源通常是一個(gè)鎢絲或石墨棒,在高真空條件下被加熱以釋放電子。準(zhǔn)直器用于將發(fā)射出的電子束聚焦并使其垂直于樣品表面。樣品臺(tái)則用于支撐和精確定位樣品,并控制其位置和傾角。目標(biāo)屏通常是一個(gè)熒光屏或二維探測器,用于收集穿過樣品的電子束并產(chǎn)生成像信號(hào)。透
  • 2023

    05-15

    3分鐘學(xué)會(huì)fei冷凍透射電鏡的使用步驟

    fei冷凍透射電鏡是一種高級(jí)顯微技術(shù),能夠讓科學(xué)家們觀察和分析生物分子的結(jié)構(gòu)和功能。在冷凍樣品的同時(shí),這種電鏡可以將電子束通過樣品,并記錄下被散射的電子,以獲得高清晰度的圖像和數(shù)據(jù)。fei冷凍透射電鏡的使用步驟:1、樣品制備:首先需要準(zhǔn)備好樣品。通常使用的樣品是純化過的蛋白質(zhì)或其他生物分子。樣品應(yīng)該含有足夠數(shù)量的目標(biāo)分子,并且需要通過特殊的處理方法(如冷凍)保存其天然狀態(tài)。2、冷凍樣品:為了保持樣品的天然狀態(tài),需要將其冷凍。這可以通過放置樣品在液氮中或者使用液氮噴霧器來完成。樣品應(yīng)該盡可能快地被
  • 2023

    05-15

    臺(tái)式掃描電鏡更易用的特性使其應(yīng)用大眾化

    自20世紀(jì)30年代電子顯微鏡面世以來,SEM掃描電鏡已成為眾多不同研究領(lǐng)域中的一個(gè)關(guān)鍵工具,范圍覆蓋從材料科學(xué)、到法醫(yī)學(xué)、工業(yè)生產(chǎn)甚至生命科學(xué)領(lǐng)域所涉及的一切內(nèi)容。只要需要關(guān)于樣品表面或近表面區(qū)域的形貌、成分和結(jié)構(gòu)信息,掃描電鏡分析都是常見的步驟,SEM掃描電鏡也就成為常見的工具。因此,該方法幾乎在科學(xué)、技術(shù)和工業(yè)的每個(gè)分支中都得到了應(yīng)用。SEM掃描電鏡具有高度的靈活性和豐富的功能,包括多種檢測器、附件,可以滿足廣泛的研究和工業(yè)需求。無論樣品尺寸、重量、導(dǎo)電性如何,掃描電鏡都可以讓您輕松應(yīng)對挑戰(zhàn)
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