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賽默飛電子顯微鏡

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  • 2024

    01-31

    利用iDPC-STEM技術實現鈣鈦礦材料熱致相變過程的原子級原位表征

    金屬鹵化物鈣鈦礦材料在光電相關領域有著非常廣泛的應用前景。而在實際應用過程中,伴隨著材料優異性能,材料的穩定性問題成為了制約其發展和應用的重要因素。由于鈣鈦礦結構的可調性和復雜性,從原子級尺度研究其穩定性的結構基礎成為了新的挑戰,而鈣鈦礦的相變就是其結構演化過程中的重要問題。然而,金屬鹵化物鈣鈦礦材料是典型的電子敏感材料。要實現對鈣鈦礦相變過程的原子級原位觀察,需要我們將低劑量成像技術和原位技術緊密結合起來,其中仍有諸多難點。一方面,連續拍攝過程中的電子劑量累積,使得我們在單次拍攝的電子劑量要遠
  • 2024

    01-03

    FEI場發射掃描電子顯微鏡結合了靜電和磁浸沒技術,可產生高分辨率和材料對比度

    場發射掃描電子顯微鏡是一種高分辨率、高性能的電子顯微鏡,具有超高分辨率和強大的圖像處理能力。它利用場發射電子槍產生電子束,通過電子束在樣品表面掃描,收集并處理二次電子信號,以獲取樣品表面的顯微圖像。Apreo場發射掃描電子顯微鏡是研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的平臺,而不會降低磁性樣品性能。傳統的高分辨率SEM透鏡技術分為兩類:磁浸沒或靜電。FEI將兩種技術結合到一個儀器中。這樣做所產生的成效遠遠超過任一種鏡筒的個體性能。兩種技術均使電子束形成細小探針,以提高低電壓下的分辨率,并使信號電子
  • 2023

    12-25

    Cryo-FIB助力電池材料科學研究

    為什么需要Cryo-FIB材料的組成、結構、性能和服役之間存在密切關系,這是材料科學研究的核心內容。01組成材料組成是指構成材料的基本成分。材料的組成決定了其化學性質和基本特征。02結構材料結構是指其內部的原子排列、晶格結構、晶體形貌等。材料的結構決定了材料的物理性質、化學性質等。03性能材料性能是指材料在特定條件下所表現出的物理、化學等方面的特征。這包括材料的強度、導電性、導熱性、耐腐蝕性等。04服役材料服役是指材料在特定環境和條件下的應用和表現。材料的性能在實際使用中會受到各種因素的影響,如
  • 2023

    12-13

    古羅馬神Janus帶來的科學靈感:雙層石墨烯增強銅抗腐蝕性能

    這個長得像奧利奧的圓餅,其實已經有兩千一百多年的歷史。它是古羅馬共和國早期的銀幣。銀幣表面,依稀可以看到兩張面孔,祂就是兩面神雅努斯(Janus)。在神話中,Janus守護著天門,早晨打開天門,讓陽光普照人間,晚上又把天門關上,使黑暗降臨大地。祂的兩張面孔一張看著過去,一張看著未來,代表著無限的時間。西方的神話往往充滿著哲學的思辨精神,即便在今天,這種特殊的結構帶給人們無限啟發,其中所蘊含的“辯證統一”哲理與中國古代哲學的“陰陽合一”思想相得益彰,成為科學家靈感迸發的焦點。圖1古羅馬神Janus
  • 2023

    12-08

    透射電子顯微鏡可用于觀察亞顯微結構或超微結構

    透射電子顯微鏡(TEM)是一種把經加速和聚集的電子束透射到非常薄的樣品上,電子與樣品中的原子碰撞而改變方向,從而產生立體角散射的顯微鏡。它主要用于觀察光學顯微鏡下無法看清的小于0.2um的細微結構,這些結構稱為亞顯微結構或超微結構。為了清晰地觀察到這些構造,需要選用較短波長光源來提高顯微鏡分辨率。透射電子顯微鏡的工作原理是利用經加速和聚集的電子束透射到非常薄的樣品上,電子與樣品中的原子碰撞而改變方向,從而產生立體角散射。樣品厚度通常在幾十到幾百納米,這個厚度對電子的散射角度影響較小,因此可以認為
  • 2023

    11-09

    為什么說環境掃描電鏡是一種“特殊”的掃描電鏡?

    環境掃描電鏡(ESEM)是一種特殊的掃描電鏡,可以在自然狀態(非真空狀態)下對樣品進行成像。原理是利用電子束掃描樣品表面,產生多種物理信號,如二次電子、背散射電子等,從而獲取樣品的形貌、成分等信息。相比傳統的掃描電鏡,ESEM可以在較低的真空狀態下工作,甚至可以在水汽或其他氣體環境中工作,從而實現對非導電、非導熱樣品的直接成像。環境掃描電鏡的主要特點:1、動態原位實驗對自然狀態下的材料進行原位研究:具有環境模式的高分辨場發射掃描電鏡(ESEM)。原位分析的溫度范圍為-165°C至1400°C,搭
  • 2023

    11-08

    冷凍透射電子顯微鏡的工作原理是什么?

    冷凍透射電子顯微鏡是一種用于觀察和分析生物樣品的高級顯微技術。它的工作原理基于低溫下的電子束穿透樣品,并通過電子顯微鏡成像系統來捕捉樣品的結構和形態信息。首先,樣品需要經過冷凍處理。在冷凍過程中,樣品被迅速冷卻到極低的溫度,通常是液氮或液態二氧化碳的溫度。這種低溫處理可以有效地保持樣品的結構和形態,并防止樣品在電子束照射下發生損傷或化學反應。接下來,樣品被放置在一個特殊的支架上,這個支架通常是一個金屬網格或碳膜。這個支架的作用是支撐樣品并提供導電性,以便電子束能夠通過樣品。然后,將樣品放置在電子
  • 2023

    11-08

    3D可視化軟件助您探索晶粒的微觀世界

    不管增加強度還是引起缺陷,晶粒的結構對材料的性能都起著非常重要的作用。通常,想要了解合金內部的晶粒結構是一項復雜且耗時的過程。它還涉及合金成分的化學信息,并且需要了解每個成分如何與其他成分相互作用。關鍵信息可能來自不同的檢測器,不同的分辨率,很難將低分辨率的化學信息與高分辨率的灰度數據結合起來。研究機構需要一種更自動化和可復制的方式,以不同的分辨率分析來自不同模式的數據集。在本文中,將SEM和EBSD結合在一起進行分析。一旦導入兩個數據集,通常需要準備數據,使用圖像增強工具來“清理”它,試圖去除
  • 2023

    11-03

    Cryo-FIB結合iDPC技術實現COF@MOF兩相界面處精細結構的表征

    金屬有機骨架(MOF)材料和共價有機骨架材料(COF)因其靈活的可設計性及結構的多樣性,受到研究者們的高度關注。以MOF晶體為核,COF為殼,通過核-殼結構的設計合成,有望顯著提升復合材料的結構/水穩定性,界面相容性、吸/脫附動力學等性能。然而MOF材料的在電子束作用下極易坍塌失去晶體結構,同時MOF和COF的結構中都包含大量的輕質元素,傳統的成像方式難以提供具有完整結構信息的高信噪比圖像。雖然透射電子顯微技術是表征界面結構的最重要手段,MOF和COF的界面結構圖像依然難以獲得。主要的原因包含兩
  • 2023

    11-03

    X射線光電子能譜—掃描電鏡聯用表征技術最新進展

    科學技術在不斷的蓬勃發展,日新月異的創新不僅改變著我們的生活方式,也推動著樣品分析表征領域的進步與探索。目前,在樣品分析表征中,仍然存在著多項挑戰:01對樣品的全面了解通常需要使用不同的儀器進行分析掃描電子顯微鏡(SEM):提供高空間分辨的樣品表面形貌圖像,利用配套的X射線能譜分析EDS獲取成分信息。然而,EDS的檢測深度較深(得到體相信息),存在化學分辨能力不足、對輕元素的測試不準確等問題,無法揭示對理解材料性能至關重要的表面化學成分。X射線光電子能譜(XPS):檢測深度非常淺(得到表面信息)
  • 2023

    11-02

    如何選擇合適的鎢燈絲掃描電鏡以滿足實驗需求?

    選擇合適的鎢燈絲掃描電鏡以滿足實驗需求需要考慮以下幾個因素:1、分辨率:分辨率是鎢燈絲掃描電鏡最重要的參數之一,它決定了圖像的清晰度和細節。一般來說,分辨率越高,圖像越清晰。因此,根據實驗需求選擇具有足夠分辨率的SEM是至關重要的。2、放大倍數范圍:不同的實驗可能需要不同的放大倍數范圍。因此,在選擇SEM時,需要確保其能夠提供所需的放大倍數范圍。一般來說,SEM的放大倍數范圍可以從幾倍到幾十萬倍不等。3、樣品類型:不同類型的樣品可能需要不同的SEM配置。例如,對于非導電樣品,需要使用低真空SEM
  • 2023

    10-14

    fei掃描電鏡的原理和工作方式是什么?

    fei掃描電鏡是一種常用的高分辨率掃描電子顯微鏡。它利用電子束與樣品相互作用產生的信號來獲得樣品的形貌和結構信息。fei掃描電鏡的工作原理基于電子物質相互作用和成像原理。在掃描電中,電子源產生一個高亮度的電子束,并通過一系列的電子透鏡系統聚焦到極小的尺寸。這個電子束被稱為原始電子束。當原始電子束與樣品表面相互作用時,會發生多種相互作用,包括散射、吸收和退火等。這些相互作用產生的不同信號由探測器捕獲和分析,從而生成圖像。fei掃描電鏡的工作過程可以分為四個主要步驟:電子發射、聚焦、掃描和信號檢測。
  • 2023

    10-08

    sem掃描電鏡在材料科學中的應用有哪些?

    sem掃描電鏡是一種常用的材料科學工具,具有高分辨率和表面成像能力,廣泛應用于材料科學研究領域。以下是sem掃描電鏡在材料科學中的主要應用:1、表面形貌觀察:可以提供高分辨率的表面形貌圖像,用于觀察材料的表面紋理、結構和形貌特征。這對于分析材料的粗糙度、晶粒形貌、表面缺陷以及其他與材料性質相關的表面特征非常重要。2、微觀組織分析:可以觀察材料的微觀結構,例如晶體結構、晶粒大小和形狀等。通過SEM的能量散射譜(EDS)功能,還可以進行元素定性和定量分析,了解材料的化學成分和分布情況。3、界面和界面
  • 2023

    10-07

    賽默飛 Helios 5 聚焦離子束掃描電子顯微鏡可以利用納米級分辨率實現快速3D表征毫米尺度材料

    聚焦離子束掃描電子顯微鏡(FocusedIonBeam-ScanningElectronMicroscope,簡稱FIB-SEM)是一種復合分析儀器,它結合了聚焦離子束(FIB)和掃描電子顯微鏡(SEM)的功能。賽默飛Helios5聚焦離子束掃描電子顯微鏡可以利用納米級分辨率實現快速3D表征毫米尺度材料。1、它集成了SEM鏡筒(用于超高分辨率成像和先進的分析能力)、等離子FIB鏡筒(可在所有操作條件下實現最佳性能)以及飛秒激光,可實現以從前無法通過商業化產品獲得的速率進行原位材料刻蝕。2、它加快
  • 2023

    09-07

    掃描電子顯微鏡在生物學研究中的應用

    掃描電子顯微鏡在生物學研究中具有廣泛的應用。它是一種重要的顯微鏡技術,能夠提供高分辨率、表面形貌和微觀結構信息,對于生物學研究起到了至關重要的作用。首先,掃描電子顯微鏡被廣泛應用于細胞和組織的超微結構研究。可以觀察細胞和組織表面的形態特征,揭示細胞器的分布和形狀,如細胞核、線粒體、內質網等。它還可以幫助觀察細胞膜的形態和細胞表面的紋理,以及細胞與周圍環境的相互作用。其次,在生物材料研究方面也發揮著重要作用。生物材料,如骨骼、牙齒、殼類、植物組織等,具有復雜的結構和形態特征。通過使用,可以觀察這些
  • 2023

    09-05

    Fei冷凍透射電鏡有哪些優勢特點?

    Fei冷凍透射電鏡是指Fei公司生產的冷凍透射電子顯微鏡(Cryo-EM)。Cryo-EM是一種用于研究生物大分子復合體、膜蛋白復合體和病毒等的亞納米分辨率三維結構的電子顯微技術。Fei冷凍透射電鏡具有高穩定性和高分辨率,其配備了高穩定性的場發射電子槍和三級聚光鏡照明系統,可實現寬范圍連續可調的平行光照明。此外,Fei冷凍透射電鏡配備了革命性的冷凍技術,可以一次裝入最多達12個樣品,并連續自動使樣品處于液氮溫度。該儀器適用于低溫單顆粒三維重構、低溫蛋白質電子晶體學和低溫電子斷層三維成像等三種研究
  • 2023

    09-01

    fei透射電子顯微鏡樣品制備技術和注意事項

    fei透射電子顯微鏡是一種強大的工具,用于研究物質的微觀結構和性質。樣品制備是TEM中至關重要的步驟之一,以下是關于fei透射電子顯微鏡樣品制備技術和注意事項的一些建議。1、樣品選擇:選擇適合觀察的樣品非常重要。典型的TEM樣品包括金屬、陶瓷、半導體、聚合物、生物樣品等。確保樣品尺寸小于TEM的限制分辨率,通常在納米至亞納米尺度范圍內。2、樣品切片:大多數樣品需要進行切片以獲得透明的樣品,這可以通過機械或離子切割來實現。機械切割使用鉆磨機和超聲波切割機,而離子切割則使用離子束薄化儀。切割時需要小
  • 2023

    08-14

    冷凍透射電子顯微鏡在生物學研究中的應用介紹

    冷凍透射電子顯微鏡是一種先進的生物學研究工具,可以通過高分辨率成像技術對生物樣品進行觀察和分析。以下是冷凍透射電子顯微鏡在生物學研究中的主要應用:1、蛋白質結構解析:它已經成為研究蛋白質結構的重要工具之一。它可以直接觀察到生物樣品中的蛋白質分子,幫助研究人員揭示其精確的三維結構和功能機制。通過使用,科學家們已經解析了許多復雜蛋白質的結構,包括酶、離子通道、受體等,這些結構信息對于藥物設計和疾病治療具有重要意義。2、大分子復合物研究:可用于研究大分子復合物的結構和組裝方式。許多重要的生物過程依賴于
  • 2023

    08-14

    進口掃描電鏡的維護和保養需要注意哪些方面?

    進口掃描電鏡的維護和保養非常重要,可以幫助確保其性能和壽命長久。以下是進口掃描電鏡維護保養時需要注意的方面:1、定期清潔:定期清潔是保持掃描電鏡正常運行的關鍵。使用清潔劑和柔軟的布料或棉簽輕輕擦拭儀器的外部表面和內部零件。避免使用化學藥品或磨砂材料,以免損壞儀器。2、高真空系統的維護:高真空部分是掃描電鏡的核心部分,需要特別注意。定期檢查真空密封件、密封環等部件是否完好無損,并根據需要更換。同時,定期檢查真空泵的運行狀態,保持其清潔并及時更換油。3、燈絲維護:掃描電鏡的燈絲是發射電子的關鍵組件,
  • 2023

    08-14

    鎢燈絲掃描電鏡在哪些領域中得到廣泛應用?

    鎢燈絲掃描電鏡是一種重要的顯微鏡技術,在許多科學和工程領域中得到了廣泛應用。下面是一些主要領域:1、材料科學與工程:鎢燈絲掃描電鏡在材料研究和工程領域中非常有用。它可以提供高分辨率的表面形貌和微觀結構信息,幫助研究人員了解材料的晶體結構、相互作用和缺陷分布。這對于材料設計、性能優化和故障分析都非常關鍵。2、生物學:在生物學研究中也發揮著重要作用。它可以用于觀察和研究生物樣品的表面形態、細胞結構和納米級結構。例如,可用于研究細胞、組織、微生物和昆蟲等生物樣品,并提供有關其形貌、紋理和相互作用的詳細
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