透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope, 簡稱TEM)是一種把經加速和聚集的電子束透射到非常薄的樣品上,電子與樣品中的原子碰撞而改變方向,從而產生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度等相關,因此可以形成明暗不同的影像,影像在放大、聚焦后在成像器件(如熒光屏,膠片以及感光耦合組件)上顯示出來的顯微鏡。 作為實驗室常用科學儀器設備,可以清晰地觀察到生物樣品的納米級微觀內部結構,目前已廣泛應用于各類生物學科的分析研究。
影響透射電子顯微鏡的三個因素分別是:
1、分辨率 2、放大倍數 3、襯度
影響透射電子顯微鏡的三個因素分別是:
大孔徑角的磁透鏡,100KV時,分辨率可達0.005nm。實際TEM只能達到0.1-0.2nm,這是由于透鏡的固有像差造成的。提高加速電壓可以提高分辨率。已有300KV以上的商品高壓(或超高壓)電鏡,高壓不僅提高了分辨率,而且允許樣品有較大的厚度,推遲了樣品受電子束損傷的時間,因而對高分子的研究很有用。但高加速電壓意味著大的物鏡,500KV時物鏡直徑45-50cm。對高分子材料的研究所適合的加速電壓,最好在250KV左右。
電鏡最大的放大倍數等于肉眼分辨率(約0.2mm)除以電鏡的分辨率0.2nm,因而在106數量級以上。
a.樣品越厚,圖像越暗;
b.原于序數越大,圖像越暗;
c.密度越大,圖像越暗;
其中,密度的影響最重要,因為高分子的組成中原于序數差別不大,所以樣品排列緊密程度的差別是其反差的主要來源。
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