RRDE-3A旋轉(zhuǎn)環(huán)盤(pán)電極儀 參考價(jià)：面議
旋轉(zhuǎn)圓盤(pán)電極儀（環(huán)盤(pán)）：基于流體動(dòng)力學(xué)控制旋轉(zhuǎn)環(huán)盤(pán)電化學(xué)測(cè)量用的高精度電極旋轉(zhuǎn)儀，RRDE-3A 的轉(zhuǎn)速是由 PWM( 脈寬調(diào)制 ) 信號(hào)進(jìn)行控制。 電極小巧且...
電動(dòng)涂膜機(jī) 參考價(jià)：100000
電動(dòng)涂膜樣品均勻，厚度精確可控。
數(shù)據(jù)采集系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
Keysight DAQ970A/973A數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)內(nèi)置六位半數(shù)字萬(wàn)用表，可測(cè)量和轉(zhuǎn)換12 種不同的輸入信號(hào)，采用主機(jī)+插入式模塊設(shè)計(jì)。
數(shù)據(jù)采集系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)DAQ6510 采用 6½ 位分辨率和 15 個(gè)內(nèi)置測(cè)量功能進(jìn)行測(cè)量。 執(zhí)行低電流、低電阻和溫度測(cè)量，并使用內(nèi)置數(shù)字化器查看瞬態(tài)信號(hào)。
紅外熱像儀 參考價(jià)：面議
全新1024級(jí)分辨率——TiX1060紅外熱成像儀，配備超像素技術(shù)，可增強(qiáng)至314萬(wàn)像素。
勻膠旋涂?jī)x 參考價(jià)：80000
勻膠旋涂?jī)x又名勻膠機(jī)、旋涂?jī)x，美國(guó)Laurell勻膠機(jī)650系列勻膠機(jī)適用于半導(dǎo)體、硅片、晶片、基片、導(dǎo)電玻璃及制版等表面涂覆工藝。
微型真空探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
Mini CPS微型真空探針臺(tái)介電/壓電/鐵電/熱釋電/光電材料的電學(xué)性能表征，機(jī)械彈性設(shè)計(jì)，避免探針損壞薄膜樣品。
鐵電分析儀 參考價(jià)：面議
FEMS100鐵電分析儀采用虛擬接地測(cè)量技術(shù)模式，提高測(cè)量精度，適用溫度-160℃～450℃。
介電溫譜測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
介電溫譜測(cè)量系統(tǒng)測(cè)量介電常數(shù)、介電損耗、阻抗以及它們隨溫度、時(shí)間、頻率變化的曲線，同時(shí)得出相位θ、Cole-Cole圖、導(dǎo)納圖和壓電材料的機(jī)電耦合系數(shù)（選配）等...
高壓極化裝置 參考價(jià)：面議
高壓極化裝置可以對(duì)不同材料、厚度的陶瓷樣品進(jìn)行多路同步極化。每路可設(shè)置不同的的極化電壓和電壓時(shí)間，并且每路極化互不影響。具有安全互鎖功能，取樣和放樣時(shí)，高壓切斷...
高溫電阻測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
高溫電阻測(cè)量系統(tǒng)使用多種測(cè)量方法測(cè)量材料電阻，如四線電阻法，2線法，三環(huán)電極法，4探針?lè)ǖ取?
薄膜電阻測(cè)試儀(四探針、電渦流) 參考價(jià)：面議
電阻測(cè)量和監(jiān)控對(duì)于任何使用導(dǎo)電薄膜的行業(yè)都至關(guān)重要，從半導(dǎo)體制造到可穿戴技術(shù)所需的柔性電子產(chǎn)品。R50薄膜電阻測(cè)試儀(四探針、電渦流)在金屬膜均勻性分布、離子摻...
超低溫力學(xué)測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
超低溫力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)專用于超低溫環(huán)境的材料力學(xué)試驗(yàn)機(jī)，溫度低至-269℃。
力電聯(lián)測(cè)試驗(yàn)機(jī) 參考價(jià)：面議
力電聯(lián)測(cè)試驗(yàn)機(jī)通過(guò)軟件關(guān)聯(lián)試驗(yàn)機(jī)和電學(xué)儀表（LCR），實(shí)現(xiàn)力--電同步測(cè)試，除常規(guī)的試驗(yàn)機(jī)測(cè)試外，還可得到：載荷\\應(yīng)力-電阻\\電容、位移\\應(yīng)變-電阻\\電...
材料試驗(yàn)機(jī) 參考價(jià)：面議
材料力學(xué)試驗(yàn)機(jī)，包括靜態(tài)、動(dòng)態(tài)、沖擊試驗(yàn)等，采用多種加載方式，如：機(jī)械加載、電/液伺服加載、多軸協(xié)調(diào)加載等
微納拉伸試驗(yàn)機(jī) 參考價(jià)：面議
微納力學(xué)，微納拉伸測(cè)試，納米拉伸測(cè)試
納米壓痕儀 參考價(jià)：面議
高精度納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)，原位納米力學(xué)測(cè)試平臺(tái)。
原子力顯微鏡 參考價(jià)：面議
原子力顯微鏡可進(jìn)行高精度的粗糙度、臺(tái)階高度及微納米級(jí)別三維輪廓等測(cè)量，同時(shí)可以測(cè)量相位、電場(chǎng)、磁場(chǎng)、導(dǎo)電力等其他各種高級(jí)物理量。
橢偏儀 參考價(jià)：面議
橢偏儀：超薄膜的實(shí)時(shí)可視化分析測(cè)試，實(shí)時(shí)觀察樣品微觀尺度上的結(jié)構(gòu)。可以測(cè)量諸如薄膜厚度、折射率和吸收系數(shù)等參數(shù)。也可以對(duì)薄膜進(jìn)行區(qū)域化(選區(qū))分析，獲得所選區(qū)域...
白光干涉儀 參考價(jià)：面議
白光干涉垂直掃描和移相干涉測(cè)量法，0.1nm臺(tái)階，采用TotalFocus 技術(shù)，全視場(chǎng)真彩色圖像。
三維光學(xué)輪廓儀 參考價(jià)：面議
多模組三維光學(xué)輪廓儀標(biāo)配ZDot白光共聚焦逐層成像，可選裝多模式光學(xué)系統(tǒng)。
探針式輪廓儀（臺(tái)階儀） 參考價(jià)：面議
探針式輪廓儀（臺(tái)階儀）源自AFM的光學(xué)杠桿技術(shù)，精確測(cè)量臺(tái)階高度及表面輪廓。
探針式輪廓儀（臺(tái)階儀） 參考價(jià)：面議
探針式輪廓儀（臺(tái)階儀）高精度、低噪聲、高穩(wěn)定性和大掃描量程，這些技術(shù)特點(diǎn)為P系列臺(tái)階儀在晶圓測(cè)試領(lǐng)域的廣泛使用奠定了堅(jiān)實(shí)的基礎(chǔ)，也為其拓展了在其他材料測(cè)試方面的...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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