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SteREO Discovery.V8常規(guī)手動體視顯微鏡是擁有手動 8x 變倍的模塊化體視顯微鏡，在發(fā)育生物學研究中獲取更豐富的細節(jié)信息，配有各種鏡筒，可以與使...

SteREO Discovery.V12電動體視顯微鏡是擁有電動 12x 變倍功能的模塊化體視顯微鏡，捕獲的圖像具有高銳度、對比度豐富和顏色逼真等特點，同時還包...

半導體檢查顯微鏡MX61L切換物鏡時自動調(diào)節(jié)連動的亮度光圈等，實現(xiàn)了舒適的檢查環(huán)境。配備14×12英寸載物臺，能應對大型樣本。

金相顯微鏡BX51M的顯微觀察技術所使用的偏振光是由一組濾鏡（檢偏振器和起偏振器）產(chǎn)生的。樣本特征會直接影響系統(tǒng)反射光的強度。該觀察法適用于觀察金相組織、礦物、...

正置金相顯微鏡BX53M根據(jù)工業(yè)和材料學的不同應用，可以組合成反射顯微鏡、透反射顯微鏡、紅外顯微鏡、偏光顯微鏡等多種應用的顯微鏡。

德國蔡司EVO 18分析型掃描電鏡是一款具有處理各種材料能力的分析型顯微鏡，為您提供優(yōu)異的成像品質(zhì)。標配能譜儀和波譜儀（EDS & WDC）接口，另有用于高級形...

德國蔡司MultiSEM 505/506掃描電子顯微鏡專為 7 x 24 小時的連續(xù)、可靠運行而設計。只需簡單設置高性能數(shù)據(jù)采集流程，MultiSEM 便能夠獨...

ParticleSCAN VP掃描電子顯微鏡配有 SmartPI 用戶界面, 堅固耐用的設計使其能為自動顆粒度分析提供更高度的靈活和耐用性。這款便攜式儀器能夠?qū)?..

德國蔡司Sigma 系列產(chǎn)品場發(fā)射掃描電子顯微鏡用于高品質(zhì)成像與高級分析. 將高級的分析性能與場發(fā)射掃描技術相結合，利用成熟的 Gemini 電子光學元件。多種...

日本三豐MF -176測量顯微鏡可觀察清晰無閃爍正像，且視場開闊。測量精度在同類設備中高（符合JIS B 7153標準）。使用ML 系列，專門為MF 系列設計的...

MF 系列測量顯微鏡 X、Y 和Z 軸均為電動控制，工作臺可由控制手柄進行操作。Vision Unit （選件） 能使圖像自動對焦。照明裝置（反射/ 透射） 可...

日本三豐Hyper MF/MF-U高精度測量顯微鏡實現(xiàn)了高精度的測量顯微鏡。（小顯示分辨力0.01um）。主機的前臺操作設計是基于UD（通用化設計）的理念。配備...

日本三豐TM-500工具顯微鏡176系列配有新設計的LED 照明，可以進行清晰觀察測量，并具有顏色再現(xiàn)性。設置可選的LED 環(huán)形照明，可以進行豐富的觀察測量。小...

FS-70系列半導體檢測顯微鏡單元是一款帶目鏡觀察的小巧顯微鏡單元。適于檢測金屬表面、半導體、液晶基板、樹脂等。可應用于切割、修整、校正、 給半導體電路做標記/...

日本三豐VMU視頻顯微鏡系統(tǒng)屬于緊湊輕量型顯微鏡，相機觀察型。適于檢測金屬表面、半導體、液晶面板、樹脂等。多種鏡體通常用作適用于專業(yè)器械的OEM（原廠委制） 產(chǎn)...

日本三豐WIDE VMU視頻顯微鏡系統(tǒng)裝配大視場圖像傳感器（相當2 型），保障光學性能不變，視場半徑約為VMU 系列的3倍，視場面積擴大約7 倍，為提高檢測效率...

日本三豐MF-U通用測量顯微鏡可觀察清晰無閃光正像，且視場開闊。測量精度在同類設備中高（符合JIS B 7153標準）。使用經(jīng)過驗證的FS 光學系列高NA 物鏡...

日本三豐MF-U系列通用測量顯微鏡X、Y 和Z 軸均為電動控制，工作臺可由控制手柄進行操作。Vision Unit （選件） 能使影像自動對焦。照明裝置（反射/...

FPD/LSI檢查顯微鏡ECLIPSE L300N/ L300ND型集尼康光學技術于一身的CFI60光學系統(tǒng)，在亮度、對比度和可操作性能方面都達到高度，適合于大...

日本尼康 ECLIPSE MA100倒置金相顯微鏡是一款反射照明的、經(jīng)濟實惠的小型倒立顯微鏡。有明視場和簡易偏光兩種觀察方式，對金相組織、電子元器件和材料領域的...