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Leica DMi8 S倒置顯微鏡有從手動到電動的各種組件,可*自由配置,讓您創建滿足研究和預算需求的理想成像系統。顯微鏡有多達兩個無限遠光路接口,可作為添加熒...
Axio Examiner臺式研究級顯微鏡在固定載物臺式顯微鏡上聚焦時無需移動樣品,而是移動物鏡。可以從側面和前部操作樣品,樣品空間超過100 mm。
Primotech智能化顯微鏡可靠的檢測結果,快速獲取可靠的結果。編碼型 5x 物鏡轉盤 – 節省時間并消除可能存在的誤差源。穩定的色溫和節能型 LED 光源。
LSM 800多功能共聚焦顯微鏡光顯微成像與共聚焦成像的出色結合,共聚焦平臺LSM 800 是應2D和3D材料應用需求而研發。并應用了正置顯微鏡的一系列觀察方式...
半導體檢查顯微鏡MX61L切換物鏡時自動調節連動的亮度光圈等,實現了舒適的檢查環境。配備14×12英寸載物臺,能應對大型樣本。
日本三豐MF -176測量顯微鏡可觀察清晰無閃爍正像,且視場開闊。測量精度在同類設備中高(符合JIS B 7153標準)。使用ML 系列,專門為MF 系列設計的...
MF 系列測量顯微鏡 X、Y 和Z 軸均為電動控制,工作臺可由控制手柄進行操作。Vision Unit (選件) 能使圖像自動對焦。照明裝置(反射/ 透射) 可...
日本三豐Hyper MF/MF-U高精度測量顯微鏡實現了高精度的測量顯微鏡。(小顯示分辨力0.01um)。主機的前臺操作設計是基于UD(通用化設計)的理念。配備...
日本三豐TM-500工具顯微鏡176系列配有新設計的LED 照明,可以進行清晰觀察測量,并具有顏色再現性。設置可選的LED 環形照明,可以進行豐富的觀察測量。小...
FS-70系列半導體檢測顯微鏡單元是一款帶目鏡觀察的小巧顯微鏡單元。適于檢測金屬表面、半導體、液晶基板、樹脂等。可應用于切割、修整、校正、 給半導體電路做標記/...
日本三豐VMU視頻顯微鏡系統屬于緊湊輕量型顯微鏡,相機觀察型。適于檢測金屬表面、半導體、液晶面板、樹脂等。多種鏡體通常用作適用于專業器械的OEM(原廠委制) 產...
日本三豐WIDE VMU視頻顯微鏡系統裝配大視場圖像傳感器(相當2 型),保障光學性能不變,視場半徑約為VMU 系列的3倍,視場面積擴大約7 倍,為提高檢測效率...
日本三豐MF-U通用測量顯微鏡可觀察清晰無閃光正像,且視場開闊。測量精度在同類設備中高(符合JIS B 7153標準)。使用經過驗證的FS 光學系列高NA 物鏡...
日本三豐MF-U系列通用測量顯微鏡X、Y 和Z 軸均為電動控制,工作臺可由控制手柄進行操作。Vision Unit (選件) 能使影像自動對焦。照明裝置(反射/...
FPD/LSI檢查顯微鏡ECLIPSE L300N/ L300ND型集尼康光學技術于一身的CFI60光學系統,在亮度、對比度和可操作性能方面都達到高度,適合于大...
MULTIZOOM AZ100多功能變焦顯微鏡是一款介于體視顯微鏡和金相顯微鏡之間、兼備體視顯微鏡和金相顯微鏡兩方面特點的多功能變焦顯微鏡,它是尼康新推出的、具...
N-SIM超分辨率顯微鏡系統是尼康新推出的活細胞超分辨率成像技術, 可獲得傳統光學顯微鏡兩倍的分辨率。使用*的光學科技與制造技術,尼康享譽的Eclipse Ti...
N-STORM 4.0超分辨顯微成像系統實現了激光激發設計和sCMOS相機的升級,單張圖像的采集速率從分鐘級提高到秒極。另外,新系統在成像視野的選擇上提供了更高...
Multizoom AZ100AZ100M 變焦顯微鏡是一款可滿足從低倍到高倍變焦觀察應用需求的顯微鏡。其變焦范圍更廣,可實現5倍至400倍多種變焦倍率。 AZ...
A1+A1R+全自動共聚焦顯微鏡系統開創共聚焦成像新高度。A1 憑借傳統檢流計,獲取 4096x4096 高解析圖像;A1R 引入特別混合掃描器,512x512...
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