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ZFW 多參數測試臺MPT 詳細摘要:導熱材料會隨著溫度的變化會產生間隙變化,這種熱誘導運動導致作用在間隙中的 TIM 上的拉力或壓縮力。除了所描述的力外,熱誘導運動通常會使CTE 失配而形成剪切力,這描述了 TIM 的不同溫度相關膨脹與施加 TIM 的載體材料之間的差異。另一方面,TIM 在較高的
所在地:浙江杭州市 更新時間:2024-10-21 在線留言 -
NeoColor 500臺式分光測色儀 詳細摘要:NeoColor 500臺式分光測色儀采用45/0°光學結構,專為交通路標色度測量、咖啡色度、柑橘色度、番茄色度、茶葉色度等固體顆粒物色度測量而設計,更加符合人眼目測評估的一致性。
所在地:浙江杭州市 更新時間:2024-08-17 在線留言 -
Gamma Scientific UDT S2575微型積分球 詳細摘要:Gamma Scientific UDT S2575微型積分球由一個型號260的硅傳感器與一個型號2575、直徑為50毫米的積分球組成。該設備提供以瓦特(W)或毫瓦(mW)為單位的測量結果。
所在地:浙江杭州市 更新時間:2024-08-15 在線留言 -
Radiant磁電性能測試組件套裝 詳細摘要:Radiant磁電性能測試組件套裝用于塊體或薄膜樣品的磁電響應(MER),采用綜合封裝設計,可幫助研究人員有效地表征磁耦合多鐵性或磁壓電器件,針對被測試樣品的類型,塊狀陶瓷和薄膜兩種版本。
所在地:浙江杭州市 更新時間:2024-08-11 在線留言 -
EddyCus® map 2530RM電阻率測試儀 詳細摘要:EddyCus® map 2530RM電阻率測試儀在非接觸模式下自動測量大型樣品的薄層電阻,最大可達300×300平方毫米(12×12英寸)。在手動樣品定位時,該設備會自動測量并顯示整個樣品區域的薄層電阻的準確映射。測量設置允許輕松靈活地在低于
所在地:浙江杭州市 更新時間:2024-06-08 在線留言 -
EddyCus map C2C全自動電阻率成像系統 詳細摘要:EddyCus map C2C全自動電阻率成像系統用于晶圓襯底或外延片的全面積表征,以確保半導體行業的工藝可靠性和質量保證。該系統配備了兩個在傳輸模式下工作的非接觸式渦流傳感器。這允許非常詳細地顯示基底材料或導電涂層的均勻性。該系統能夠測量薄膜的薄層電阻
所在地:浙江杭州市 更新時間:2024-06-08 在線留言