GEN3 CAF2 離子遷移測試儀-256通道 1250V
- 公司名稱 蘇州金合博源測控技術(shù)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 GEN3 CAF2
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2024/7/17 21:25:56
- 訪問次數(shù) 6607
離子遷移測試儀SIR表面絕緣電阻劣化日本J-RAS離子遷移SIR系統(tǒng)CAF設(shè)備1000V CAF設(shè)備
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子/電池,汽車及零部件,電氣,綜合 |
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GEN3 Auto CAF2+離子遷移監(jiān)測系統(tǒng)設(shè)備
有效監(jiān)測離子遷移引致表面絕緣阻抗(SIR)變化及生成PCB內(nèi)層陽極導(dǎo)電絲(CAF)
一、GEN3 CAF2(1250V)用途:
根據(jù)IPC標(biāo)準(zhǔn)中有明確要求,測試條款為IPC-TM-650 2.6.25 《Conductive Anodic Filament (CAF) Resistance》。另外各大汽車零部件廠商如德爾福、博世、大陸等也有其專門的企業(yè)測試標(biāo)準(zhǔn),主要測試內(nèi)容就是將被測PCB板放置在85℃,85%RH的環(huán)境中處理1000小時,并在PCB板的孔與孔之間、線與線之間,或者是孔與內(nèi)層之間、層與層之間施加一定的電壓,然后持續(xù)監(jiān)控其絕緣阻值變化,通過絕緣阻值變化了解其內(nèi)部可能存在的一系列問題,而這種測試的缺陷就是板材內(nèi)部出現(xiàn)了CAF現(xiàn)象。通過CAF測試可以基本了解具體是在哪個工藝環(huán)節(jié)可能產(chǎn)生了問題,從而進一步工藝改善。具體包括指導(dǎo)PCB設(shè)計人員選用合適的孔間距和線間距;指導(dǎo)PCB制造商選用適合的耐CAF材料組合;指導(dǎo)PCB制造商改進生產(chǎn)工藝;指導(dǎo)CCL供應(yīng)商改進材料配方和加工工藝。
可根據(jù)各種標(biāo)準(zhǔn)要求條件和自定義條件進行SIR,CAF測試。
GEN3保持和IEC,ISO,IPC,BSI......等機構(gòu)學(xué)會的長期合作,發(fā)展并訂立相關(guān)SIR測試協(xié)定,應(yīng)用于成品壽命可靠度,材料和制程特性研究。
GEN3 CAF2適用于:
IEC61189-5;ISO9455-17;IPC-TM-650;
BELLCORE GR78;DIN German & JIS Japanese STD;ANS/IPC-JSTD001;
IPS-JSTD-004;IPC-SM-840;IPC-CC-830&IEC 1086;IPC-9691;
ISO 19295:2016(E)Automotive.
二、GEN3 CAF2(1250V)測試原理:
三、GEN3 CAF2(1250V)規(guī)格:
四、關(guān)于CAF測試推薦配套:
根據(jù)CAF測試的標(biāo)準(zhǔn)中要求,需要將被測的-考試板放置在“80℃+85%RH”的環(huán)境中放置1000小時。故考慮到長時間的測試,對配套的“試驗箱”提出了要求,推薦使用-艾斯佩克GPR系列高低溫濕熱試驗箱。
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