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離子遷移測(cè)試儀可對(duì)離子遷移絕緣電阻值進(jìn)行高精度，高信賴，高效率的測(cè)量、評(píng)價(jià)，需要將測(cè)試樣品放置于高溫高濕的環(huán)境試驗(yàn)箱中，并在線路板上焊接電纜線，引出至環(huán)境試驗(yàn)箱外的有關(guān)測(cè)試設(shè)備上，在線路板上施加促進(jìn)離子遷移發(fā)生的偏置電壓和進(jìn)行絕緣電阻測(cè)試，同時(shí)能實(shí)時(shí)檢測(cè)測(cè)試樣品上的泄漏電流。
離子遷移測(cè)試儀的工作原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓, 設(shè)定一段時(shí)間的測(cè)試（(1 ~ 1,000 小時(shí))）, 并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象, 采用獨(dú)立的電源供應(yīng)及個(gè)別電流電壓量測(cè)系統(tǒng), 并透過計(jì)算機(jī)分析及記錄電阻值變化狀況. 對(duì)個(gè)別頻道設(shè)定不同測(cè)試電壓, 采集測(cè)試品在不同的環(huán)境條件下產(chǎn)生劣化之?dāng)?shù)據(jù)。
金合博源提供的離子遷移測(cè)試儀可有效監(jiān)測(cè)離子遷移弓|致表面絕緣阻抗(SIR) 變化以及生產(chǎn)PCB內(nèi)層陽(yáng)極導(dǎo)電絲(CAF現(xiàn)象)。廣泛應(yīng)用于成品壽命可靠度，材料和制程特性研究。
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