表面性狀測(cè)定采用尼康自主開發(fā)的方式——“FVWLI（Focus Variation with White Light Interferometry）法”。該方法可使對(duì)象材料的表面生成干涉紋，高精度決定各像素的焦點(diǎn)位置。通過使用這種方式，可在2.5倍（視野4.4×4.4mm）至100倍（視野111.0×110.0μm）的所有倍率下實(shí)現(xiàn)三維算數(shù)平均高度（Sa）為0.1nm級(jí)別的表面性狀評(píng)估。能夠以單一模式測(cè)定超平滑表面到粗糙表面，無需更換光學(xué)濾光片等部件。另外，在測(cè)定膜厚時(shí)使用光譜干涉法。能以不到0.1秒的時(shí)間測(cè)定厚度為1nm～40μm的透明薄膜的厚度。

可通過程序控制手段實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)測(cè)定，能夠自動(dòng)實(shí)施對(duì)焦、調(diào)整樣品的傾斜、判斷是否合格等操作。可自動(dòng)測(cè)定多個(gè)視野，除了材料研發(fā)一線之外，還可輕松用于品質(zhì)管理及*現(xiàn)場(chǎng)。

該顯微鏡配備最大行程為300×300mm的電動(dòng)XY軸載物臺(tái)，以及最大行程為200mm的電動(dòng)Z軸變焦載物臺(tái)。可測(cè)定半導(dǎo)體、LED、薄膜材料、高分子材料、精密機(jī)械加工部件等多種樣品（圖2、圖3）。在測(cè)定鉆頭*的表面形狀時(shí)，可用夾具保持其直立固定狀態(tài)。