菲希爾鍍層測厚儀XDL240

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 型儀器在 FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型儀器基礎上發展而來。

菲希爾金屬鍍層測厚儀FISCHER代理

菲希爾X射線測厚儀FISCHER代理核心功能

與上一代相似，適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，可全自動檢測大規模生產的零部件及印刷線路板上的鍍層。儀器采用基本參數法，無需標準片，即可對鍍層系統、固體和液體樣品進行測量與分析，測量范圍涵蓋元素氯（17）到鈾（92），適用于質量控制、進料檢驗和生產流程監控。

典型應用領域

• 測量大規模生產的電鍍部件

• 測量超薄鍍層，如裝飾鉻

• 測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層

• 全自動測量印刷線路板

• 分析電鍍溶液

菲希爾X射線測厚儀FISCHER代理產品型號及配置

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 為界面友好的臺式測量儀器系列，根據不同用途分為多種版本：

• XDL 210 型：固定式工作臺，固定位置的 Z 軸系統

• XDL 220 型：固定式工作臺，馬達驅動的 Z 軸系統

• XDL 230 型：配備可手動操控的 X/Y 工作臺，馬達驅動的 Z 軸升降系統

• XDL 240 型：配備馬達驅動的 X/Y 工作臺，保護門開啟時自動移至樣品放置位；搭配馬達驅動的可編程 Z 軸升降系統

此外，XDL 系列儀器可選配圓形或長方形準直器，采用比例接收器，測量距離 0 - 80mm，使用保護的 DCM 測量距離補償法。