FischerScope MMS/FischerScope MMS PC2 是一款搭載內(nèi)置 Windows™ CE 操作系統(tǒng)且具備網(wǎng)絡(luò)互聯(lián)功能的臺(tái)式多功能測(cè)量系統(tǒng)，在無損、高精度的鍍層厚度測(cè)量及材料測(cè)試領(lǐng)域表現(xiàn)好。

操作便捷性上，該設(shè)備提供多樣化選擇，既可用大尺寸高分辨率彩色觸摸屏直觀操控，也能通過鍵盤和鼠標(biāo)精準(zhǔn)操作；接口配置豐富，配備 LAN 與 USB 接口，可輕松集成至自動(dòng)生產(chǎn)線中。其強(qiáng)大的測(cè)量能力體現(xiàn)在支持同時(shí)連接多達(dá) 8 個(gè)探頭，能高效滿足多任務(wù)測(cè)量需求。

MMS PC2 采用模塊化設(shè)計(jì)，不僅可根據(jù)客戶具體需求靈活定制配備方案，還能在后續(xù)使用中隨時(shí)擴(kuò)展模塊和探頭，實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)升級(jí)，充分保障設(shè)備的長(zhǎng)期適用性。在測(cè)量方法上，它具備高度靈活性，可根據(jù)實(shí)際需求選用電渦流法、磁性法、感應(yīng)法、電阻法等多種方式，適用范圍廣泛：既能測(cè)量金屬表面幾乎所有材料的鍍層厚度，也能應(yīng)對(duì)非電材料上的金屬鍍層厚度檢測(cè)；還可用于測(cè)定非鐵磁金屬的電導(dǎo)率，以及奧氏體或雙相鋼材中的鐵素體含量。

借助 BETASCOPE® 模塊，該系統(tǒng)可通過 beta 散射法測(cè)量不同底材上有機(jī)物和金屬鍍層的厚度。這一方法的優(yōu)勢(shì)在于，只要兩種材料的原子序數(shù)差達(dá)到 5 以上，就能實(shí)現(xiàn)任意底材上任意涂層的測(cè)量，突破了傳統(tǒng)測(cè)量的材料限制。搭配適配探頭后，還能滿足質(zhì)量控制場(chǎng)景下的特殊測(cè)量需求，例如測(cè)量軟性鍍層和潤(rùn)滑鍍層的厚度，像不銹鋼表面的有機(jī)納米膜（防指紋膜）、金屬板生產(chǎn)加工中的防銹油層等。

在應(yīng)用場(chǎng)景方面，配備合適的測(cè)量模塊后，MMS PC2 展現(xiàn)出強(qiáng)的靈活性，可廣泛應(yīng)用于來料檢驗(yàn)、出廠檢驗(yàn)及生產(chǎn)過程控制等環(huán)節(jié)。數(shù)據(jù)管理與質(zhì)量控制上，它能提供多種數(shù)據(jù)報(bào)告形式，并通過 FISCHER 專屬的 FDD 軟件實(shí)現(xiàn)高效的質(zhì)量過程控制。此外，系統(tǒng)支持直接控制馬達(dá)測(cè)量臺(tái)或 XY 樣品臺(tái)，結(jié)合 LAN 及 I/O 模塊可嵌入自動(dòng)生產(chǎn)線，輕松搭建自動(dòng)化測(cè)量流程，為工業(yè)生產(chǎn)的質(zhì)量管控提供方位支持。