美國博曼LED鍍層測厚儀遵循ASTM B568，DIN ENISO 3497標準，主要基于WinFTM? V6L核心控制軟件的鍍層厚度測量和材料分析的X-射線系統。采用全新數學計算方法,采用的FP（Fundamental Parameter）、DCM (Distenco Controlled Measurement)及強大的電腦功能來進行鍍層厚度的計算，在加強的軟件功能之下，簡化了測量比較復雜鍍層的程序，甚至可以在不需要標準片之下，一樣精準測量。
LED鍍層測厚儀的特點：
A：區別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時測定zui多4層及24種元素。 
B ：精確度于世界
C ：數據統計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求,如在分析報告中插入數據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。 
D ：統計功能提供數據平均值、誤差分析、zui大值、zui小值、數據變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數據分析模式。能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品； 
E ：可測量任一測量點
LED鍍層測厚儀應用領域： 
1、分析電子部品電鍍層的厚度 
2、各類五金電鍍件的鍍層厚度管控分析    
        3、各鍍層的成分比例分析。
期待您的來電深圳市金東霖科技有限公司位于中國深圳廣東省深圳市沙井北環大道新橋綜合大樓502，主營鍍層膜厚測試儀,X-RAY膜厚測試儀,X射線膜厚測試儀等。公司秉承“顧客*，銳意進取”的經營理念，堅持“客戶*”的原則為廣大客戶提供優質的服務。歡迎惠顧！
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