美國博曼（BOWMAN）X射線熒光膜厚測試儀  采用真正的基本參數原理（FP）來測量厚度，準。實用性:無數次的發明,包括使用DCM自動對焦方法和透明的準值器，操作簡單。
膜厚測試儀  主要功能
可進行零點校準及二點校準。
可對測頭進行基本校準。
設有五個統計量：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、測試次數（NO）、標準偏差（S.DEV）。
可存貯和統計計算15個測量值。
具有兩種測量方式：連續測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGL）
具有自動關機功能。
刪除功能：對測量中出現的單次可疑數據進行刪除，也可刪除存貯區內的所有數據，以便進行新的測量。 
操作過程有蜂鳴聲提示。
有欠壓指示功能。
有錯誤提示功能。
博曼膜厚測試儀，鍍層測厚儀，膜厚測試儀，X-射線鍍層測厚儀，可滿足所有鍍層厚度測量需求的雙檢測器型鍍層測量儀，實現了超微小面積，高精度無損測量。可測量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度。可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層,合金鍍層.可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對方式,無需購買標準藥液. 可測元素范圍：鈦(Ti) –鈾(U)可測量厚度范圍：原子序22-92，0.1-0.8μm ，可通過CCD攝像機來觀察及選擇任意的微小面積以進行微小面積鍍層厚度的測量，避免直接接觸或破壞被測物。讓客戶滿意是我們金東霖科技始終的目標.