做爰高潮A片在线播放,日韩一级视频,青青青青青青久久久久久久

2022
02-14

sem掃描電鏡在材料領域的具體應用介紹
sem掃描電鏡是介于透射電鏡和光學顯微鏡之間的一種微觀性貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質性能進行微觀成像。掃描電鏡的優點是，有較高的放大倍數，萬倍之間連續可調；有很大的景深，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細微結構；試樣制備簡單。它是當今十分有用的科學研究儀器。sem掃描電鏡SEM的原理：能顯示各種圖像的信息是由于聚焦的電子束與樣品的相互作用而產生的各種信號。相互作用區的線性體積：隨原子序數的增加而減小；隨電子束能量的增加而增加；電子束與樣品的角度關系是傾斜角增加
2022
02-11

成就客戶 | MaipSCAN&中國石油長城鉆探，驗收工作穩步進行
2021年6月中旬，全新一代巖石屬性分析系統MaipSCAN順利落地中國石油長城鉆探工程有限公司，在錄井基地地質檢測中心巖礦掃描室成功安裝調試。設備安裝現場現階段，設備驗收工作穩步進行中，長城公司滿懷信心、翹首以待！驗收工作分為重復性、穩定性、平行性實驗對比。重復性實驗，取3塊具有代表性的巖心樣品，每個樣品重復測量10次；穩定性實驗，取3塊具有代表性的巖心樣品，在不同時間段分別測量5次。部分測試結果如下：重復性試驗：Sample1，深度3683.50米，重復測量10次穩定性試驗：Sample1，
2022
01-07

可以實時檢測形貌與元素信息的“鎢燈絲掃描電鏡”
鎢燈絲掃描電鏡成像平臺即時可用。彩色圖像讓成分分布更直觀，實時定量能譜分析讓科研更高效，低電壓及電子束減速模式配合經典的CBS探頭(同軸環狀背散射探頭)使不導電樣品也可以在不鍍金條件下呈現*的成像性能。低真空則可以在不鍍膜的情況下對不導電樣品進行更真實的能譜元素分析。專為快速分析而設計，智能型掃描電鏡，讓新手用戶也可以輕松操縱。鎢燈絲掃描電鏡將微區成分分析與電鏡成像集成在同一平臺上，快速提供所需微觀形貌及實時成分信息，幫助學術和工業用戶快速獲得全面、可靠的數據，準確執行故障分析和缺陷檢測。通用型
2022
01-07

場發射掃描電鏡的性能特點介紹，真的很全！
場發射掃描電鏡搭載*的實時元素成像功能和先進的自動光學系統，實現灰色區域解析，讓您不再憂心顯微鏡性能，更加專注于研究本身。掃描電鏡具有多功能性和高質量成像性能，采用了創新性的末級透鏡設計，引入靜電式末級透鏡，支持鏡筒內高分辨率檢測，即使是針對磁性樣品也可實現成像及分析性能。在原有性能基礎之上，進一步優化了超高分辨成像能力，并且增設許多新功能提升其易用性。場發射掃描電鏡在耐用的SEM平臺上引入了智能對中技術，不再需要用戶手動進行調整操作，而且，FLASH自動執行精細調節工作，只需移動鼠標幾次，就可
2021
12-06

專為快速分析而設計的“賽默飛電子顯微鏡”
賽默飛電子顯微鏡引入全新的能譜分析概念，采用*方法進行樣品成分信息的采集、處理和展示。傳統能譜會利用二次電子或背散射電子信息，卻不利用其圖像進行數據處理，因而數據獲取速度較慢，而且圖像分辨率相對粗糙。相比而言，賽默飛顯微鏡采集數據所用的是同一掃描發生器，將掃描電鏡圖像與能譜圖像對中，因而圖像更加銳利，圖像噪音更少。此外，脈沖處理采用自適應脈沖整形技術，確保各種條件下均能獲得可靠數據。元素分布圖通過定量算法形成，因此，所顯示的成分數據可靠，且結果中不會出現重疊峰誤判等。專有的陰影檢測算法幫助確保信
2021
12-03

掃描電鏡顯微鏡在不同行業中的應用
由于掃描電鏡顯微鏡的高分辨率和大焦深，使得它可以對各種化學物質進行非常詳細的分析。它打破了傳統臺式掃描電鏡采用BSD探測器成像的局限性，利用創新的雙聚光鏡成像技術，采用大型掃描電鏡成像方式，使用二次電子探測器作為基礎成像單元，從而，可以獲得更高的分辨率，是真正意義上的高分辨率臺式掃描電鏡。在檢查半導體和微電子器件時，需要靈活選擇和使用操作參數(加速電壓、樣品傾斜、掃描線時間等)以及正確的分析程序，以獲得最大的信息。QFN器件中由濕熱環境(如吸濕)引起的界面裂紋很常見，會導致器件失效。掃描電鏡顯微
2021
12-03

場發射電鏡真的那么好用嗎？
場發射電鏡是電子顯微鏡的一種，是以場發射電子發射體發射電子，并以電子束為光源，在真空狀態下通過電磁透鏡控制電子束匯集成很小的束斑照射并透過樣品。由于電子的德布羅意波長非常短，可以獲得樣品原子級微觀形貌。其原理是利用二次電子或背散射電子成像，對樣品表面放大一定的倍數進行形貌觀察，同時利用電子激發出樣品表面的特征X射線來對微區的成分進行定性定量分析。具有電子束斑小、高分辨率、穩定性好等特點。場發射電鏡有以下幾種用途：1.納米材料基本特性分析：對有機、無機、納米材料進行微觀形態研究，獲得其表面形貌。利
2021
12-03

透射掃描電子顯微鏡的核心優勢介紹，請收好！
透射掃描電子顯微鏡既有透射電子顯微鏡又有掃描電子顯微鏡的顯微鏡，可以將樣品冷卻到液氮溫度，特別適用于觀測蛋白、生物切片等對溫度敏感的樣品。通過對樣品的冷凍，可以降低電子束對樣品的損傷，減小樣品的形變，從而得到更加真實的樣品形貌。透射掃描電子顯微鏡成像是利用會聚的電子束在樣品上掃描來完成的。在掃描模式下，場發射電子源發射出電子，通過在樣品前磁透鏡以及光闌把電子束會聚成原子尺度的束斑。電子束斑聚焦在試樣表面后，通過線圈控制逐點掃描樣品的一個區域。在每掃描一點的同時，樣品下面的探測器同步接收被散射的電
2021
12-03

PFIB顯微鏡的小知識，快來學習一下！
PFIB顯微鏡是一款雙束電鏡，它可以簡單理解為單束聚焦離子束系統與普通SEM的耦合。單束聚焦離子束系統由離子源、離子光學柱、束描畫系統、信號采集系統和樣品臺五個部分構成。離子源設置在離子束鏡筒的頂端，在其上加較強的電場可以抽取出帶正電荷的離子，這些離子通過靜電透鏡及偏轉裝置的聚焦和偏轉來實現對樣品的可控掃描。樣品加工是通過將加速的離子轟擊樣品使其表面原子發生濺射來實現，同時產生的二次電子和二次離子被相應的探測器收集并用于成像。為了避免離子束受周圍氣體分子的影響，與掃描電鏡類似，樣品腔和離子束鏡筒
2021
12-03

一文帶你認識球差電鏡！
球差電鏡，什么是球差？球差是像差的一種，是影響TEM分辨率的主要原因之一。由于像差(球差、像散、彗形像差和色差)的存在，無論是光學透鏡還是電磁透鏡，其透鏡系統都無法做到。光學透鏡中，可通過將凸透鏡和凹透鏡組合使用來減少由凸透鏡邊緣匯聚能力強中心匯聚能力弱所致的所有的光線(電子)無法匯聚到一個焦點的缺點，可對于電磁透鏡，我們沒有凹透鏡，球差便成了影響TEM分辨率最主要也最難解決的問題。球差電鏡，球差是由什么產生的？TEM中包含多個磁透鏡：聚光鏡、物鏡、中間鏡和投影鏡等。球差是由于磁鏡的構造不好造成
2021
12-03

聚焦離子束電鏡究竟有何不同？
隨著納米科技的發展，納米尺度制造業發展迅速，而納米加工就是納米制造業的核心部分，納米加工的代表性方法就是聚焦離子束。近年來發展起來的聚焦離子束(FIB)技術利用高強度聚焦離子束對材料進行納米加工，配合聚焦離子束電鏡等高倍數電子顯微鏡實時觀察，成為了納米級分析、制造的主要方法。目前已廣泛應用于半導體集成電路修改、切割和故障分析等。典型的聚焦離子束電鏡包括液態金屬離子源及離子引出極、預聚焦極、聚焦極所用的高壓電源、電對中、消像散電子透鏡、掃描線圈、二次粒子檢測器、可移動的樣品基座、真空系統、抗振動和
2021
12-03

什么行業可以使用環境掃描電鏡？它能在你的行業中使用嗎？
環境掃描電鏡是介于透射電鏡和光學顯微鏡之間的一種微觀性貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質性能進行微觀成像。掃描電鏡的優點是有較高的放大倍數，萬倍之間連續可調，有很大的景深，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細微結構，試樣制備簡單。它是當今十分有用的科學研究儀器。環境掃描電鏡的應用范圍：1、金屬、陶瓷、礦物、水泥、半導體、紙張、塑料、食品、農作物和化工產品的顯微形貌、晶體結構和相組織的觀察與分析。2、各種材料微區化學成分的定量檢測。3、粉末、微粒、納米樣品形態觀察和粒度
2021
12-03

看看這些內容，這是你想了解的STEM透射電鏡嗎？
STEM透射電鏡是怎么來的？掃描電子顯微鏡已成為表征物質微觀結構*的儀器。在掃描電鏡中，電子束與試樣的物質發生相互作用，可產生二次電子、特征X射線、背散射電子等多種的信號，通過采集二次電子、背散射電子得到有關物質表面微觀形貌的信息，背散射電子衍射花樣得到晶體結構信息，特征X-射線得到物質化學成分的信息，這些得到的都是接近樣品表面的信息。在掃描電鏡中，電子束與薄樣品相互作用時，會有一部分電子透過樣品，這一部分透射電子也可用來成像，其形成的像就是掃描透射像(STEM像)。STEM透射電鏡透射電子像的
2021
12-03

看看這篇文章，了解一下掃描電子顯微鏡！
掃描電子顯微鏡是介于透射電鏡和光學顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質性能進行微觀成像。廣泛用于生物學、醫學、金屬材料、高分子材料、化工原料、地質礦物、商品檢驗、產品生產質量控制、寶石鑒定、考古和文物鑒定及公安刑偵物證分析。可以觀察和檢測非均相有機材料、無機材料及在上述微米、納米級樣品的表面特征。掃描電子顯微鏡是以能量為1-30kV間的電子束，以光柵狀掃描方式照射到被分析試樣的表面上，利用入射電子和試樣表面物質相互作用所產生的二次電子和背散射電子成像，獲得試樣表面微觀組
2021
12-03

FIB雙束掃描電鏡是什么？他又有那些用途？
隨著半導體電子器件及集成電路技術的飛速發展，器件及電路結構越來越復雜，這對微電子芯片工藝診斷、失效分析、微納加工的要求也越來越高。FIB雙束掃描電鏡所具備的強大的精細加工和微觀分析功能，使其廣泛應用于微電子設計和制造領域。FIB雙束掃描電鏡是指同時具有聚焦離子束(FocusedIonBeam，FIB)和掃描電子顯微鏡(ScanningElectronMicroscope，SEM)功能的儀器。它可以實現SEM實時觀測FIB微加工過程的功能，把電子束高空間分辨率和離子束精細加工的優勢集于一身。其中，
2021
12-03

環掃電鏡常見分類和應用領域
環掃電鏡是一種掃描電子顯微鏡，利用聚焦電子束掃描樣品的表面來產生樣品表面的圖像。最常見的掃描電鏡模式是檢測由電子束激發的原子發射的二次電子。可以檢測的二次電子的數量，取決于樣品測繪學形貌。環掃電鏡常見分類：1.分析掃描電鏡:掃描電鏡配備X射線能譜儀EDS后發展成分析掃描電鏡，不僅比X射線波譜儀WDS分析速度快、靈敏度高、也可進行定性和無標樣定量分析。2.場發射槍掃描電鏡：場發射掃描電鏡得到了很大的發展，不僅提高了常規加速電壓時的分辨本領，還顯著改善了低壓性能。3.低壓掃描電鏡：低壓掃描電鏡LVS
2021
12-03

高分辨率掃描電鏡的檢測范圍和基本構造
高分辨率掃描電鏡是電子顯微鏡的一種，其原理是利用二次電子或背散射電子成像，對樣品表面放大一定的倍數進行形貌觀察，同時利用電子激發出樣品表面的特征X射線來對微區的成分進行定性定量分析，是我們材料研究分析中一雙亮麗的“眼睛”。掃描電鏡按照電子槍分類可以分為鎢(W)燈絲、六硼化鑭(LaB6)燈絲、場發射三種，場發射掃描電鏡相比于鎢燈絲、六硼化鑭，具有電子束斑小、高分辨率、穩定性好等特點。高分辨率掃描電鏡的檢測范圍：1.金屬、陶瓷、高分子、礦物、半導體、紙張、化工產品的顯微形貌觀察及材料的晶體結構、相組
2021
10-11

環境掃描電子顯微鏡的工作原理和儀器特點
環境掃描電子顯微鏡工作原理：電子與樣品中的原子相互作用，產生包含關于樣品的表面測繪學形貌和組成的信息的各種信號。電子束通常以光柵掃描圖案掃描，并且光束的位置與檢測到的信號組合以產生圖像。掃描電子顯微鏡由電子槍發射出電子束，在加速電壓的作用下經過磁透鏡系統匯聚，形成電子束，聚焦在樣品表面上，在第二聚光鏡和物鏡之間偏轉線圈的作用下，電子束在樣品上做光柵狀掃描，電子和樣品相互作用產生信號電子。這些信號電子經探測器收集并轉換為光子，再經過電信號放大器加以放大處理，成像在顯示系統上。環境掃描電子顯微鏡的儀
2021
09-08

聚焦離子束顯微鏡原來可以用于這些地方！
聚焦離子束顯微鏡的利用鎵(Ga)金屬作為離子源，再加上負電場(Extractor)牽引端細小的鎵原子，而導出鎵離子束再以電透鏡聚焦，經過一連串可變孔徑光闌，決定離子束的大小，再經過二次聚焦以很小的束斑轟擊樣品表面，利用物理碰撞來進行特定圖案的加工，一般單粒子束的顯微鏡，可以提供材料切割、沉積金屬、蝕刻金屬和選擇性蝕刻氧化層等功能。聚焦離子束顯微鏡主要應用于半導體集成電路修改、切割和故障分析、TEM制樣等。1.精細切割及材料蒸鍍：利用顯微鏡可以在素玻璃上分別進行鎵離子精細切割及鎢離子鍍膜。2.截面
2021
08-24

FIB雙束電鏡是什么？有哪些功能？
隨著半導體電子器件及集成電路技術的飛速發展，器件及電路結構越來越復雜，這對微電子芯片工藝診斷、失效分析、微納加工的要求也越來越高。FIB雙束電鏡所具備的強大的精細加工和微觀分析功能，使其廣泛應用于微電子設計和制造領域。FIB雙束電鏡系統是指同時具有聚焦離子束和掃描電子顯微鏡功能的系統，可以實現SEM實時觀測FIB微加工過程的功能，把電子束高空間分辨率和離子束精細加工的優勢集于一身。其中，FIB是將液態金屬離子源產生的離子束經過加速，再聚焦于樣品表面產生二次電子信號形成電子像，或強電流離子束對樣品

6 7 8 9 10 11 共11頁211條記錄

成人做爰免费视频免费看_成人a级高清视频在线观看,成人a大片在线观看,成人a大片高清在线观看,成人av在线播放,一a一级片,一级黄中国色片,一级黄色蝶片,一级黄色片生活片

北京歐波同光學技術有限公司

提示

成人做爰免费视频免费看_成人a级高清视频在线观看,成人a大片在线观看,成人a大片高清在线观看,成人av在线播放,一a一级片,一级黄 中国色 片,一级黄 色蝶 片,一级黄色 片生活片

北京歐波同光學技術有限公司

提示

成人做爰免费视频免费看_成人a级高清视频在线观看,成人a大片在线观看,成人a大片高清在线观看,成人av在线播放,一a一级片,一级黄中国色片,一级黄色蝶片,一级黄色片生活片