當前位置:阿美特克科學儀器部-普林斯頓及輸力強電化學>>技術文章展示
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08-27VersaScan微區掃描電化學工作站可實現多個微區形貌測試
VersaScan微區掃描電化學工作站是一個建立在電化學掃描探針的設計基礎上的,進行高測量分辨率及空間分辨率的非接觸式微區形貌及電化學微區測試系統。它是提供給電化學及材料測試以*空間分辨率的一個測試平臺。它是一個模塊化配置的系統,可以實現如下微區掃描探針電化學技術以及激光非接觸式微區形貌測試:ScanningElectrochemicalMicroscopy(SECM)掃描電化學顯微鏡ScanningVibratingElectrodeTechnique(SVET)掃描振動電極測試Localiz2019
08-262019
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