近年來,人們一直在探索局部電化學過程的研究。材料腐蝕的電化學測試方法局限于整個樣品的宏觀測試, 測試結果只反映樣品的不同局部位置的整體統計結果,不能反映出局部的腐蝕及材料與環境的作用機理。為進行局部表面科學研究,微區掃描系統提供了一個新的途徑,并日益得到包括局部腐蝕領域的廣泛應用。代掃描參比電極技術(SRET)能探測局部腐蝕的發生。第二代掃描振動電極技術(SVET)采用振動電極測量局部 (電流,電位〕隨遠離被測電極表面位置的變化。 SVET具有比SRET更高的靈敏度。在SVET和SVET基礎上,又提出了采用掃描Kelvin振動電極(SKP)測量不同材料表面功函數。
SKP掃描開爾文探針系統為表面科學測量提供了一個新的途徑,開爾文探針是一種無接觸,無破壞性的儀器,可以用于測量導電的、半導電的,或涂覆的材料與試樣探針之間的功函差。 這種技術是用一個振動電容探針來工作的,通過調節一個外加的前級電壓可以測量出樣品表面和掃描探針的參比針尖之間的功函差。功函和表面狀況有直接關系的理論的完善使SKP成為一種很有價值的儀器,它能在潮濕甚至氣態環境中進行測量的能力使原先不可能的研究變為現實。
SRET和SVET主要測量材料在液體電解質環境下的局部電化學反應過程;SKP能夠測量材料在不同濕度大氣環境下,甚至其它氣體環境下的微區特性及其隨環境變化過程等?,F在公司將用于液體電解質環境下的局部電化學反應過程的SVET和用于大氣環境下的SKP技術有機的結合在一起,極大地拓展了您的研究領域,有效地利用資源,降低了您的購買費用。
SKP掃描開爾文探針系統為表面科學測量提供了一個新的途徑,開爾文探針是一種無接觸,無破壞性的儀器,可以用于測量導電的、半導電的,或涂覆的材料與試樣探針之間的功函差。 這種技術是用一個振動電容探針來工作的,通過調節一個外加的前級電壓可以測量出樣品表面和掃描探針的參比針尖之間的功函差。功函和表面狀況有直接關系的理論的完善使SKP成為一種很有價值的儀器,它能在潮濕甚至氣態環境中進行測量的能力使原先不可能的研究變為現實。
SRET和SVET主要測量材料在液體電解質環境下的局部電化學反應過程;SKP能夠測量材料在不同濕度大氣環境下,甚至其它氣體環境下的微區特性及其隨環境變化過程等?,F在公司將用于液體電解質環境下的局部電化學反應過程的SVET和用于大氣環境下的SKP技術有機的結合在一起,極大地拓展了您的研究領域,有效地利用資源,降低了您的購買費用。
相關產品
免責聲明
- 凡本網注明“來源:化工儀器網”的所有作品,均為浙江興旺寶明通網絡有限公司-化工儀器網合法擁有版權或有權使用的作品,未經本網授權不得轉載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經本網授權使用作品的,應在授權范圍內使用,并注明“來源:化工儀器網”。違反上述聲明者,本網將追究其相關法律責任。
- 本網轉載并注明自其他來源(非化工儀器網)的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網贊同其觀點和對其真實性負責,不承擔此類作品侵權行為的直接責任及連帶責任。其他媒體、網站或個人從本網轉載時,必須保留本網注明的作品第一來源,并自負版權等法律責任。
- 如涉及作品內容、版權等問題,請在作品發表之日起一周內與本網聯系,否則視為放棄相關權利。