德國菲希爾FISCHERSCOPE? X-RAY XDV?-SDD高性能熒光測試儀

        配有可編程XY平臺和Z軸，可自動測量超薄鍍層和分析痕量元素

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD熒光測試儀儀器特點

• 高級型號儀器，具有常見的所有功能
• 射線激發量的靈活性很大，激發量可根據測量面積大小和光譜組成而改變
• 通過硅漂移探測器，在 > 10萬cps（每秒計數率） 的超高信號量下也可以正常工作，而不會出現能量分辨率的降低
• 極低的檢測下限和出色的測量重復度
• 帶有快速、可編程 XY 工作臺的自動測量儀器
• 大容量便于操作的測量艙

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD熒光測試儀典型應用領域

• 測量極薄的鍍層，例如應用于電子和半導體行業中
• 痕量分析，例如根據 RoHS、玩具標準、包裝標準對有害物質進行檢測
• 進行高精度的黃金和貴金屬分析
• 光伏產業
• 測量 NiP 鍍層的厚度和成分

X射線測厚儀原理

　　XRAY測厚儀原理是根據XRAY穿透被測物時的強度衰減來進行轉換測量厚度的，即測量被測鋼板所吸收的X射線量，根據該X射線的能量值，確定被測件的厚度。由X射線探測頭將接收到的信號轉換為電信號，經過前置放大器放大，再由測厚儀操作系統轉換為顯示給人們以直觀的實際厚度信號。

　　X射線測厚儀適用范圍

　　XRAY測厚儀適用于生產鋁板、銅板、鋼板等冶金材料為產品的企業，可以與軋機配套，應用于熱軋、鑄軋、冷軋、箔軋。其中，XRAY測厚儀還可以用于冷軋、箔軋和部分熱軋的軋機生產過程中對板材厚度進行自動控制。

　　菲希爾電解測厚儀 - 用于庫侖電量分析的涂層厚度測量儀器。