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詳細摘要：EyeTech激光光阻粒度粒形分析儀能夠精確測量樣品尺寸、粒形和濃度，形成完整的顆粒大小表征。光阻技術（LOT）與視頻分析生成的綜合信息，結果可以顯示在大量的表格和圖表中，可以自定義以顯示所需的信息，可通過直觀的數據報告軟件訪問。這項技術提供了令人興

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詳細摘要：. . . .ZetaPALS是目前*能夠精確測量低電泳遷移率體系的Zeta電位分析儀器，它采用的是真正的硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技術，比其它測量Zeta電位的技術靈敏度高1000倍！

詳細摘要：. . . .ZetaPlus是簡單、方便而且準確的電泳遷移率測量儀器，其*的開放式樣品槽設計與頻譜漂移分析技術相結合，使其具有*的分辨率，足以分辨等電點附近的多峰電泳分布情況。它的革新之處是從根本上消除了傳統Zeta電位測量儀器中固有的電滲誤差的影響，從而使

詳細摘要：BI-2010粘度檢測器采用全新專利技術的毛細管全橋式設計，具有高靈敏、低展寬、低噪音和節約測量時間等特點，其溫控可從室溫達到80℃。利用BI-2010可得到特征粘度，對樣品進行同樣校正，從而得到真實分子量和結構信息。特征粘度的檢測結合Mark－Houwink曲線，

詳細摘要：Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀*結合了背向光散射技術與傳統動態光散射技術以及硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技術，擁有15°、90°與173°三個散射角度，突破了傳統單角度光散射儀測量的局限性，硬件PALS技術*

詳細摘要：Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀*結合了背向光散射技術與傳統動態光散射技術以及硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技術，擁有15°、90°與173°三個散射角度，突破了傳統單角度光散射儀測量的局限性，硬件PALS技術*

詳細摘要：廣角度動/靜態激光散射儀采用TurboCorr數字相關器，通過動態光散射的方法可以測量小至1nm的納米顆粒分布情況，通過靜態光散射的方法可測量高分子材料的Zimm、Berry、Debye曲線、分子量、均方根回旋半徑及第二維里系數。經國內外眾多*實驗室使用，證明BI-200SM