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IM7585阻抗分析儀

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生產地址：
瀏覽次數：

南京詠儀電子科技有限公司
2016-07-19 14:18:26
上海市
日本
2430

【簡單介紹】

品牌	HIOKI/日本日置

阻抗分析儀
?測量頻率：1MHz~1.3GHz
?測量時間：Z快0.5ms（模擬測量時間）
?測量值偏差：0.07%（測量頻率1GHz時的代表值）
?基本精度：±0.65% rdg.
?緊湊主機僅機架一半大小，測試頭僅手掌大小
?豐富的接觸檢查功能（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定）
使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量

【詳細說明】

元器件測量儀器(電感、電容、電阻測量)

阻抗分析儀IM7585

高速、高穩定性測量，提高生產量！測量時間：zui快0.5ms，測量值偏差0.07%

測量頻率：1MHz~1.3GHz
測量時間：zui快0.5ms（模擬測量時間）
測量值偏差：0.07%（測量頻率1GHz時的代表值）
基本精度：±0.65% rdg.
緊湊主機僅機架一半大小，測試頭僅手掌大小
豐富的接觸檢查功能（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定）
使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量

主機不帶測試治具。需要使用阻抗分析儀的測試治具。

基本參數

（精度保證時間1年，調整后精度保證時間1年）

測量模式	LCR（LCR測量），分析（掃頻測量），連續測量
測量參數	Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q
精度保證范圍	100 mΩ~5 kΩ
顯示范圍	Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ) Ls, Lp: ± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q: ± (0.00~9999.99) θ: ± (0.000°~999.999°), Cs, Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF) D: ± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS) G, B: ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)
基本精度	Z: ±0.65 % rdg. θ: ±0.38°
測量頻率	1 MHz~1.3 GHz (設置分辨率100kHz)
測量信號電平	功率 (dbm)模式: -40.0 dBm~ +1.0 dBm 電壓 (V)模式: 4 mV~502 mVrms 電流 ( I )模式: 0.09 mA~20.02 mArms
輸出阻抗	50 Ω (10 MHz時)
顯示	彩色TFT8.4英寸、觸屏
測量時間	zui快0.5ms（FAST、模擬測量時間、代表值）
功能	接觸檢查、比較器、BIN判定（分類功能）、面板讀取·保存、存儲功能、等效電路分析、相關補償
接口	EXT I/O (處理器), USB通訊, U盤, LAN RS-232C (選件), GP-IB (選件)
電源	AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max
體積和重量	主機: 215W × 200H × 348D mm, 8.0 kg 測試頭: 90W × 64H × 24D mm, 300 g
附件	電源線 ×1, 測試頭 ×1, 連接線 ×1, 使用說明書 ×1, CD-R (通訊使用說明書) ×1


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