半導體晶圓缺陷與少子壽命測試系統(tǒng)-SPM900 參考價：300000
半導體晶圓缺陷與少子壽命測試系統(tǒng)-SPM900，PL測試是一種無損的測試方法，可以快速、便捷地表征半導體材料的缺陷、雜質以及材料的發(fā)光性能。
半導體缺陷檢測：自動化顯微成像模組 參考價：200000
半導體缺陷檢測：自動化顯微成像模組，針對半導體集成電路工藝線從表面缺陷檢查到圖形尺寸測量等各環(huán)節(jié)自動化視覺檢測需求。
深紫外寬禁帶半導體熒光測試OminFluo990 參考價：面議
深紫外寬禁帶半導體熒光測試系統(tǒng)OminFluo990-DUV，基于我司20年左右的第三代半導體表征測試經(jīng)驗，可以有效地對寬禁帶與超寬禁帶半導體材料例如AlN和A...
深紫外光電流測試系統(tǒng)DSR300-DUV 參考價：面議
深紫外光電流測試系統(tǒng)DSR300-DUV，通過193的脈沖激光器或者等離子體光源+單色儀的連續(xù)193光源，對器件的光電流響應進行測量，測量速度約4KHZ，同時通...
SPM300半導體晶圓應力與載流子濃度檢測儀 參考價：面議
卓立漢光SPM300半導體晶圓應力與載流子濃度檢測儀，拉曼光譜作為一種非破壞性檢測技術，能夠高靈敏度地檢測材料中的應力狀態(tài)。其原理基于光與材料內(nèi)化學鍵的相互作用...
晶圓缺陷參數(shù)檢測 : 非接觸測試解決方案 參考價：面議
晶圓缺陷參數(shù)檢測 : 非接觸測試解決方案，基于我司自主研發(fā)的激光自動聚焦、自動化顯微成像、寬場熒光成像、共焦光致發(fā)光和拉曼光譜等核心測試技術，聯(lián)合白光干涉等其它...
晶圓缺陷檢測：寬場熒光顯微成像模組 參考價：面議
晶圓缺陷檢測：寬場熒光顯微成像模組，以自動化顯微鏡模組為基礎，針對 SiC 等化合物半導體晶圓位錯、層錯等缺陷檢測需求。
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