15803007556
當前位置：藤田（重慶）精密儀器設備有限公司>>產品展示>>檢測、計量類
SIGMAKOKI西格瑪高穩定不銹鋼鏡架MHX-50.8F薄型空心框架結構，剛性高，熱平衡所需時間短。非常適用于光干涉測量，或其他的光學高精密測量等用途。
SIGMAKOKI西格瑪高穩定不銹鋼鏡架MHX-50.8A薄型空心框架結構，剛性高，熱平衡所需時間短。非常適用于光干涉測量，或其他的光學高精密測量等用途。
SIGMAKOKI西格瑪高穩定不銹鋼鏡架 光學物鏡薄型空心框架結構，剛性高，熱平衡所需時間短。非常適用于光干涉測量，或其他的光學高精密測量等用途。
SIGMAKOKI西格瑪高穩定不銹鋼鏡架MHX-25.4F薄型空心框架結構，剛性高，熱平衡所需時間短。非常適用于光干涉測量，或其他的光學高精密測量等用途。
SIGMAKOKI西格瑪高穩定不銹鋼鏡架MHX-25.4A薄型空心框架結構，剛性高，熱平衡所需時間短。非常適用于光干涉測量，或其他的光學高精密測量等用途。
SIGMAKOKI西格瑪 物鏡 高穩定不銹鋼鏡架薄型空心框架結構，剛性高，熱平衡所需時間短。非常適用于光干涉測量，或其他的光學高精密測量等用途。
SIGMAKOKI西格瑪反射鏡鏡架 高穩定不銹鋼薄型空心框架結構，剛性高，熱平衡所需時間短。非常適用于光干涉測量，或其他的光學高精密測量等用途。
SIGMAKOKI西格瑪反射鏡鏡架 高穩定不銹鋼薄型空心框架結構，剛性高，熱平衡所需時間短。非常適用于光干涉測量，或其他的光學高精密測量等用途。
日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測儀 OPTM 系列可攜帶至現場的手持式 可測量0.1μm單位具有形狀的樣品也可非破壞的測量
Otsuka大塚高感度分光輻射亮度計 HS-1000可攜帶至現場的手持式 可測量0.1μm單位具有形狀的樣品也可非破壞的測量
日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測儀OPTM-H3可攜帶至現場的手持式 可測量0.1μm單位具有形狀的樣品也可非破壞的測量
日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測儀 OPTM-H2可攜帶至現場的手持式 可測量0.1μm單位具有形狀的樣品也可非破壞的測量
日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測儀 OPTM-H1可攜帶至現場的手持式 可測量0.1μm單位具有形狀的樣品也可非破壞的測量
日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測儀 OPTM series 可攜帶至現場的手持式 可測量0.1μm單位具有形狀的樣品也可非破壞的測量
日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測儀 SF-3可攜帶至現場的手持式 可測量0.1μm單位具有形狀的樣品也可非破壞的測量
日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測儀 OPTM series 可攜帶至現場的手持式 可測量0.1μm單位具有形狀的樣品也可非破壞的測量
日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測儀 OPTM series 可攜帶至現場的手持式 可測量0.1μm單位具有形狀的樣品也可非破壞的測量
日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測儀 OPTM series 可攜帶至現場的手持式 可測量0.1μm單位具有形狀的樣品也可非破壞的測量
日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測儀Smart 可攜帶至現場的手持式 可測量0.1μm單位具有形狀的樣品也可非破壞的測量
KANOMAX加野粒子計數器超小型3950-00技術革新，致輕、致小，實現了嵌入組裝在半導體制造等裝置中2.83L/min，同時測試0.1、0.3μm微小粒子4...
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
以上信息由企業自行提供，信息內容的真實性、準確性和合法性由相關企業負責，化工儀器網對此不承擔任何保證責任。
溫馨提示：為規避購買風險，建議您在購買產品前務必確認供應商資質及產品質量。
