卡爾蔡司 ZEISS新品發(fā)布高分辨電子掃描顯微鏡 EVO10

卡爾蔡司 ZEISS新品發(fā)布高分辨電子掃描顯微鏡 EVO10

2025年5月22日近期我司推出了卡爾蔡司 ZEISS新品發(fā)布高分辨電子掃描顯微鏡 EVO10 EVO 系列儀器將掃描電子顯微鏡的強(qiáng)大功能與直觀、用戶友好的操作相結(jié)合，使其成為對(duì)經(jīng)驗(yàn)豐富的顯微鏡專家和新手顯微鏡專家都 吸引力的解決方案。 EVO 提供多種選擇，以滿足各種應(yīng)用的要求，包括生命科學(xué)、材料科學(xué)以及工業(yè)常規(guī)質(zhì)量保證和故障分析。

產(chǎn)品蔡司 EVO 系列直觀、模塊化的 SEM 平臺(tái)，適用于常規(guī)和研究應(yīng)用

EVO 系列儀器將掃描電子顯微鏡的強(qiáng)大功能與直觀、用戶友好的操作相結(jié)合，使其成為對(duì)經(jīng)驗(yàn)豐富的顯微鏡專家和新手顯微鏡專家都 吸引力的解決方案。 EVO 提供多種選擇，以滿足各種應(yīng)用的要求，包括生命科學(xué)、材料科學(xué)以及工業(yè)常規(guī)質(zhì)量保證和故障分析。

適用于中央顯微鏡設(shè)施和工業(yè)質(zhì)量保證實(shí)驗(yàn)室的多功能解決方案

從任何真實(shí)樣本中獲取優(yōu)質(zhì)圖像

六硼化鑭（LaB 6）發(fā)射器可實(shí)現(xiàn)最高的圖像質(zhì)量

對(duì)非導(dǎo)電、無涂層樣品進(jìn)行  的成像和分析

工作流自動(dòng)化和數(shù)據(jù)集成

特征EDX 解決方案EVO系列配件應(yīng)用下載

詢問

 的可用性

SmartSEM Touch 讓您可以輕松直接控制交互式工作流程。操作簡(jiǎn)單易學(xué)，大大減少培訓(xùn)工作量和成本。即使是新手用戶也可以在幾分鐘內(nèi)獲得出色的圖像。用戶界面還支持需要自動(dòng)化工作流程來執(zhí)行重復(fù)檢查任務(wù)的工業(yè)操作員。

出色的圖像質(zhì)量

EVO 擅長(zhǎng)從未涂層或未處理的樣品中提取最佳質(zhì)量的數(shù)據(jù)。 EVO 還將樣本保存在生理環(huán)境中，保護(hù)水合或嚴(yán)重污染樣本的數(shù)據(jù)質(zhì)量。此外，在困難的成像和痕量分析應(yīng)用中，LaB6發(fā)射器可提高分辨率、對(duì)比度和信噪比。

標(biāo)題：打火機(jī)燧石中的鈰鐵顆粒。使用 ZEISS EVO 和 HDBSD 探測(cè)器進(jìn)行成像。

EVO 易于與其他設(shè)備配合使用

EVO 可以配置為半自動(dòng)化多模式工作流程的一部分，并帶有重新定位感興趣區(qū)域的工具，并無縫集成從多種模式獲取的數(shù)據(jù)。結(jié)合光學(xué)和電子顯微鏡數(shù)據(jù)進(jìn)行材料表征和組件檢查。或者，EVO 可以與 ZEISS 光學(xué)顯微鏡結(jié)合使用，進(jìn)行相關(guān)粒子分析。

進(jìn)一步支持以實(shí)現(xiàn)您的目標(biāo)

根據(jù)實(shí)際的實(shí)驗(yàn)室環(huán)境，SEM 的操作可能成為專業(yè)電子顯微鏡專家的專屬領(lǐng)域。然而，這種情況帶來了挑戰(zhàn)，因?yàn)榉菍I(yè)用戶（例如學(xué)生、實(shí)習(xí)生和質(zhì)量工程師）通常需要從 SEM 獲取數(shù)據(jù)。因此，EVO 配備了用戶界面選項(xiàng)，以滿足經(jīng)驗(yàn)豐富的顯微鏡專家和非專家用戶的操作需求。

推薦給專家用戶的UI：SmartSEM專家用戶可以使用高級(jí)成像參數(shù)和分析功能。

推薦給初學(xué)者的UI：SmartSEM Touch

智能導(dǎo)航與成像

增加樣品通量以提高生產(chǎn)率和性能

將您的研究提升到新的水平

六硼化鑭（LaB 6）電子源，可實(shí)現(xiàn)更好的數(shù)據(jù)采集

通過使用六硼化鑭陰極發(fā)射的電子而不是傳統(tǒng)的鎢發(fā)夾燈絲，您可以在需要時(shí)獲得高圖像質(zhì)量和分辨率。有兩種方法可以利用這一點(diǎn)。

對(duì)于給定的電子探針尺寸（分辨率），更高的探針電流可以更容易地實(shí)現(xiàn)圖像導(dǎo)航和優(yōu)化。

對(duì)于可比的探測(cè)電流（信噪比），更小的光束直徑可提高圖像分辨率。

EVO 易于與其他設(shè)備配合使用

受益于工作流程自動(dòng)化和相關(guān)顯微鏡

EVO 和 ZEN 核心生態(tài)系統(tǒng)：交換樣本和數(shù)據(jù)、跨規(guī)模和模式可視化和管理數(shù)據(jù)、執(zhí)行金屬應(yīng)用和基于深度學(xué)習(xí)的圖像分析。

借助 ZEISS ZEN core 拓展可能性

網(wǎng)絡(luò)顯微鏡和圖像分析軟件套件

由于蔡司是顯微鏡和測(cè)量設(shè)備的供應(yīng)商，EVO 的 之處在于它與其他蔡司解決方案高度兼容。在您的（數(shù)字）光學(xué)顯微鏡和 EVO 之間建立高效的多模式工作流程。將光學(xué)顯微鏡 的光學(xué)對(duì)比方法與 SEM 同樣 的成像和分析方法相結(jié)合，可以提供互補(bǔ)數(shù)據(jù)，提供有關(guān)樣品材料、質(zhì)量和失效機(jī)制的更多有意義的信息。

使用 ZEN 核心作為聯(lián)網(wǎng)顯微鏡的集線器。可以定制功能以適合您的應(yīng)用，并且當(dāng)由多人使用時(shí)，可以定義考慮到顯微鏡的經(jīng)驗(yàn)水平的工作流程。

特征：

相關(guān)顯微鏡：光學(xué)、數(shù)字和電子顯微鏡之間的樣本和數(shù)據(jù)交換

查看上下文數(shù)據(jù)：通過關(guān)聯(lián)不同的尺度和成像模式來可視化和組織數(shù)據(jù)

金相應(yīng)用（包括使用 Microsoft Word 進(jìn)行報(bào)告）：網(wǎng)絡(luò)中圖像和數(shù)據(jù)集的集成報(bào)告

自動(dòng)圖像分析：基于深度學(xué)習(xí)：基于機(jī)器學(xué)習(xí)算法的圖像分割。

微分析應(yīng)用的 EDX 解決方案

當(dāng)單獨(dú)的 SEM 成像無法提供您充分了解組件或樣品所需的信息時(shí)，您可以切換到能量色散 X 射線光譜 (EDS) 來獲取具有空間分辨率的元素化學(xué)信息。

蔡司 SmartEDX

對(duì)于要求苛刻的應(yīng)用程序，建議僅使用一臺(tái) PC

提高 SEM 和 EDS 系統(tǒng)的運(yùn)行效率