卡爾蔡司ZEISS新品發布sigma360  FESEM場發射掃描電子顯微鏡

卡爾蔡司ZEISS新品發布sigma360  FESEM場發射掃描電子顯微鏡

2025年5月22日近期我司推出了卡爾蔡司ZEISS新品發布sigma360  FESEM場發射掃描電子顯微鏡 ZEISS Sigma 系列將場發射掃描電子顯微鏡 (FE-SEM) 技術與 的用戶體驗相結合。結構化成像和分析程序可提高生產率，并可用于研究新材料、質量控制的顆粒樣本、生物和地質樣本等。即使在低于 1 kV 的低加速電壓下，不妥協的高分辨率成像也能實現高分辨率和對比度。此外，您可以使用 的 EDS 幾何結構執行高級顯微鏡分析，以兩倍的速度獲得更準確的分析數據。

產品蔡司適馬實現高質量成像和高級分析的場發射SEM

ZEISS Sigma 系列將場發射掃描電子顯微鏡 (FE-SEM) 技術與 的用戶體驗相結合。結構化成像和分析程序可提高生產率，并可用于研究新材料、質量控制的顆粒樣本、生物和地質樣本等。即使在低于 1 kV 的低加速電壓下，不妥協的高分辨率成像也能實現高分辨率和對比度。此外，您可以使用 的 EDS 幾何結構執行高級顯微鏡分析，以兩倍的速度獲得更準確的分析數據。

Sigma 系列為先進的納米分析打開了大門。

Sigma 360 因其直觀的成像和分析能力而成為核心成像設施的 場發射掃描電子顯微鏡 (FE-SEM)。

Sigma 560 提供 的 EDS 幾何結構，可用于高通量分析，并可實現原位實驗的自動化。

特征技術應用配件下載

詢問

Sigma 360

核心設施選擇的直觀成像

體驗直觀的成像工作流程，從設置到 AI 驅動的結果都有專門的指導操作。

即使在 1 kV 以下也能實現出色的分辨率和最佳對比度

即使在 挑戰性的非導電材料條件下，VP 成像也能獲得出色的結果

圖片說明：在 NanoVP Lite 模式下對聚苯乙烯進行成像。

Sigma 560

原位實驗的高通量分析和自動化

有效分析真實世界的樣本。實現快速且多功能的基于 SEM 的分析。

自動化現場實驗：實現 集成的實驗室進行無人值守測試。

支持 1 kV 以下難以成像的樣本。可以收集全面的樣本信息。

技術

帶有光束增強器、Inlens 探測器和 Gemini 物鏡的 Gemini 光學柱的橫截面。

雙子座1號光學系統

Gemini 1 光學系統由三個元素組成：物鏡、光束增強器和 Inlens 檢測概念。物鏡設計結合了靜電場和磁場，以最大限度地提高光學性能，同時最大限度地減少磁場對樣品的影響。即使對于磁性材料等具有挑戰性的樣品，也可以實現出色的成像。 Inlens 的概念是檢測二次電子 (SE) 和背散射電子 (BSE)，以實現高效的信號檢測，同時最大限度地延長成像時間。光束增強技術確保探頭尺寸小且信噪比高。