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玉崎科學儀器（深圳）有限公司
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產品簡介
| 產地類別 | 進口 |
|---|
日本OTSUKA玉崎科學供應大冢光學膜厚量測儀
這是一款小型、低成本的膜厚計，采用高精度光學干涉法測量膜厚，操作簡單。
我們采用一體式外殼，將必要的設備存儲在主體內，實現穩定的數據采集。
盡管價格低廉，但也可以通過獲得絕對反射率來分析光學常數。
產品介紹
日本OTSUKA玉崎科學供應大冢光學膜厚量測儀這是一款小型、低成本的膜厚計，采用高精度光學干涉法測量膜厚，操作簡單。
我們采用一體式外殼，將必要的設備存儲在主體內，實現穩定的數據采集。
盡管價格低廉，但也可以通過獲得絕對反射率來分析光學常數。
日本OTSUKA玉崎科學供應大冢光學膜厚量測儀產品信息：
特征：
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緊湊、低成本、易于操作的膜厚測量。
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通過選擇光譜儀和光源可以選擇測量膜厚范圍。
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簡單的條件設定和測量操作，任何人都可以輕松測量。
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配備實時監控功能、模擬功能等。
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測量光斑直徑φ3mm（標準），支持從3nm到35μm的薄膜到厚膜的廣泛測量。
測量項目
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絕對反射率測量
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膜厚分析（10層）
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光學常數分析（n：折射率，k：消光系數）
測量目標
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功能膜、塑料
透明導電膜（ITO、銀納米線）、相位差膜、偏光膜、AR膜、PET、PEN、TAC、PP、PC、PE、PVA、粘合劑、粘合劑、保護膜、硬涂層、防指紋代理等。 -
半導體
化合物半導體、Si、氧化膜、氮化膜、抗蝕劑、SiC、GaAs、GaN、InP、InGaAs、SOI、藍寶石等。 -
表面處理
DLC涂層、防銹劑、防霧劑等。 -
光學材料
濾光片、增透膜等。 -
FPD
LCD（CF、ITO、LC、PI）、OLED（有機薄膜、封裝材料）等。 -
其他
硬盤、磁帶、建筑材料等。
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