目錄:上海首立實業有限公司>>HORIBA（理科學）>>X射線熒光分析儀>> XGT-1700WRX射線熒光分析儀
XGT-1700WR
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分析原理
| 能量色散X射線熒光分析法
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分析元素
| Si～U(Cd/Pb高精度型)
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檢出下限(Cd/Pd)
| Cd≦2 ppm, Pb≦5 ppm Cl≦50ppm
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樣品形狀
| zui大460×360 mm(高150 mm)
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樣品室氣氛
| 大氣
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X射線管
| 靶材
| Rh
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管電壓
| zui大50 kV
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管電流
| zui大1 mA
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X射線照射徑
| Φ3 mm
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檢測器
| 高純硅檢測器 XEROPHY
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液氮罐容量
| 3升
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液氮消耗量
| 每日1升以下(不開機時不用)
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光學圖像觀察
| 倍率 50倍(X射線同軸)
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軟件
| 定性分析：自動定性或手動定性
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定量分析：檢量線法 照射直徑3mm時
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計算機
| CPU
| Pentium IV 1.8 GHz 以上
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內存
| 1GB 以上
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硬盤
| 120 GB 以上
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OS
| Windows XP
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監視器
| 17寸 CRT(任選：17寸 LED)
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打印機
| 彩色噴墨打印機
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周圍溫度
| 10～35 ℃(性能溫度)/ 5～40 ℃(動作溫度)
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周圍濕度
| 5～31 ℃時溫度范圍：zui大相対濕度80 %以下
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電源
| AC 100 V、120 V、220 V、240 V ±10 %、50/60 Hz
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消耗電力
| 1.3 kVA 以下(含計算機、CRT、打印機)
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設備重量
| 約 265 kg(不含桌子、計算機)
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外形尺寸
| 分析單元
| 610(W)×750(D)×500(H)mm
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信號處理單元
| 220(W)×500(D)×480(H)mm | ||
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