核心參數(shù)
儀器種類：納米壓痕儀
產(chǎn)地類別：進(jìn)口納米壓痕儀、劃痕儀
大壓痕深度： 100 um
有效加載載荷范圍：100 mN
有效載荷分辨率： 3 nN
位移分辨率: 0.003 nm
產(chǎn)品介紹：
超高精度、高穩(wěn)定納米壓痕測(cè)試儀
UNHT3 高精度超納米壓痕測(cè)試儀采用真實(shí)力傳感器，可用于測(cè)量材料在納米尺度的機(jī)械性能。UNHT3采用獨(dú)TE的主動(dòng)表面參比專LI技術(shù)，幾乎消除了熱漂移和框架剛度的影響。因此，非常適用于所有類型的材料（包括聚合物、納米涂層和軟組織）的長(zhǎng)時(shí)間測(cè)量。
主要特點(diǎn)
用于低載荷測(cè)量的的計(jì)量型納米壓痕測(cè)試儀表面參比系統(tǒng)上的真實(shí)力傳感器確保可直接測(cè)量微牛級(jí)的力
主動(dòng)表面參比技術(shù)：獨(dú)TE的專LI設(shè)計(jì)（歐洲專LI 1828744 和美國(guó)專LI 7,685,868）
從低壓入位移（幾納米）到高壓入位移（高達(dá) 100 μm）
從低載荷 (10 μN(yùn)) 到高載荷（高達(dá) 100 mN）
市場(chǎng)上穩(wěn)定性高的納米壓痕測(cè)試儀長(zhǎng)期蠕變測(cè)試不需要進(jìn)行熱漂移修正
未修正的熱漂移低至 10 fm/sec，消除了熱漂移影響
即使在高載荷下也保持高框架剛度 (>108 N/m)
獨(dú)TE的無(wú)熱膨脹 Macor 材料
載荷和位移的全部反饋控制系統(tǒng)
“快速點(diǎn)陣"壓痕模式帶“模板"模式采用“快速點(diǎn)陣"壓痕模式的快速測(cè)量點(diǎn)陣：每小時(shí)測(cè)量高達(dá) 600 次，符合 ISO14577 儀器化壓入測(cè)試 (IIT)要求
全新“模板"模式讓您可以用導(dǎo)出的數(shù)據(jù)創(chuàng)建一個(gè)自定義模板，從而更靈活快速分析數(shù)據(jù)
多樣品夾具用于 6 個(gè)或更多樣品連夜進(jìn)行一系列測(cè)試
高精度的納米壓痕測(cè)試儀用于進(jìn)行準(zhǔn)確的表面檢測(cè)高質(zhì)量載荷-位移曲線，載荷<0.1 mN
超靈敏表面探測(cè)包含剛度探測(cè)
測(cè)量凝膠和硬質(zhì)材料
載荷分辨率為 0.003 μN(yùn)
位移率分辨為 0.003 nm
可用于多種分析模式的多種測(cè)試模式多種測(cè)試模式：連續(xù)多周期 (CMC)、恒定應(yīng)變速率、用戶自定義、點(diǎn)陣
動(dòng)態(tài)力學(xué)分析 (DMA) 模式包含“正弦"模式
各種機(jī)械性能的不同分析：硬度、彈性模量、儲(chǔ)能和損耗模量、蠕變、應(yīng)力 - 應(yīng)變、赫茲應(yīng)力分析
環(huán)境控制：真空、液體、溫度和相對(duì)濕度
技術(shù)指標(biāo)
載荷大載荷100mN分辨率3nN位移大位移100μm分辨率小至 0.006nm載荷框架剛度>107 N/mISO14577, ASTM E2546