端午節過后，國內各大車企紛紛公布了今年5月份新能源汽車銷售數據，頭部企業保持月銷十萬臺以上，造車新勢力也都紛紛站上月銷4萬的大關。于此同時，今年1至4月，中國占世界新能源車份額68%。當“月銷過萬"不再是新聞，當價格戰已成為常態，每家車企都開始拆解、營銷自家產品的模塊和技術，SiC電池模塊，智能駕駛高算力芯片，毫米波雷達等硬核概念也都“飛入平常百姓家"，讓普通消費者不再陌生。
雖然我國新能源汽車占全球新能源車份額超過68%，但是據統計，2024年我國車規芯片自有化率僅為15%，甚至大大低于我國半導體整體芯片自給率。
車規芯片的以下特點導致其自有化率提升緩慢：
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種類多
分為5大域，60多種；
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質量要求高
車規芯片要達到0 PPM級別的失效水平，即每一百萬個產品，不能出現一個失效產品。近期，對于某造車新勢力在新車的車機座艙芯片上采用消費級芯片就引起了廣泛的探討。雖然，大多車機使用消費級芯片的車型，都對芯片的封裝、溫控做了更多優化，但在長期使用過程中，其穩定性可靠性還是不能和車規級芯片相提并論。
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生命周期長，測試與分析成本高
如2005年某車企發生一起音響突然達到最高音量的事故。彼時，該芯片已裝車近500萬顆。為了發現這顆成本僅6歐元的芯片出現故障的原因，企業耗時4個月，花費超過5萬歐元的分析費用。
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標準龐雜
從設計、流片制造、認證測試到應用驗證，每個環節對車規芯片都有專門的標準要求。其中最為大家熟悉的可能就是AEC-Q100認證測試。
由此可見，車規芯片的自有化率提升，離不開分析測試，可以說，好芯片是測出來的。賽默飛半導體失效分析解決方案，提供從可靠性測試驗證到失效定位和失效分析的全流程解決方案，助力國產車規芯片不斷創新、發展，加速“上車"。
賽默飛半導體失效分析工作流
MK系列靜電放電測試系統
符合標準的閂鎖激發源和器件偏壓：符合AEC-Q100靜電放電測試要求
基于快速繼電器的操作 - 多達 2304 個通道，優秀的測試和產量
6 個獨立的矢量激勵電源實現高級設備預處理
ELITE鎖相熱紅外成像系統
實現無損故障定位
快速定位主板上有缺陷的器件以方便后續的分析驗證
微米級精度定位 x-y 缺陷，深度位置準確度高達 20 µm
nProber IV納米探針
基于SEM的納米探針臺，定位晶體管和 BEOL 故障
支持最小100V加速電壓下點針，并且支持自動下針
可支持-40°C 至 150°C溫度范圍的探測，利于模擬車規芯片真實工作條件
Helios 5 Hydra等離子體聚焦離子束電鏡
4 個快速切換離子種類（Xe、Ar、O、N），用于對種類豐富的材料進行優化 PFIB 處理
Xe和Ar實現快速樣品切割
高質量的樣品表面拋光，無窗簾效應
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Talos F200E（掃描）透射電子顯微鏡
半導體和微電子裝置的高質量 (S)TEM 成像
使用 EDS 進行精確、高速的化學表征
專用半導體相關應用
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