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無(wú)損檢測(cè)設(shè)備: 螺栓預(yù)緊力電磁超聲測(cè)試儀超聲探傷系統(tǒng) 退磁機(jī) 非熒光磁粉熒光磁粉 TOFD探頭延遲塊臺(tái)式熒光磁粉機(jī) 水浸探頭多通道探傷儀高斯計(jì) 測(cè)厚儀探頭點(diǎn)焊探頭電導(dǎo)率測(cè)試儀粘接檢測(cè)儀點(diǎn)焊儀渦流探傷儀相控陣探頭超聲波測(cè)厚儀連接線著色探傷劑熒光磁粉探傷儀黑白照度計(jì) 單晶探頭雙晶探頭工業(yè)探傷器材全聚焦相控陣探傷儀數(shù)字超聲波探傷儀便攜式多通道渦流探傷儀密度計(jì) 觀片燈工業(yè)X射線機(jī) 探傷試塊金屬元素分析儀手持式LED黑光燈直流磁粉探傷儀奧林巴斯OLYMPUS超聲測(cè)厚儀工業(yè)內(nèi)窺鏡

電子測(cè)量?jī)x器: 電壓電流探頭信號(hào)源可編程電源多路溫度測(cè)試儀電池測(cè)試儀電阻測(cè)試儀交流電源電子負(fù)載臺(tái)式數(shù)字示波器耐壓絕緣測(cè)試儀 LCR測(cè)試儀漏電流測(cè)試儀絕緣電阻測(cè)試儀直流穩(wěn)壓電源臺(tái)式萬(wàn)用表手持式示波器多功能數(shù)據(jù)采集器

環(huán)境檢測(cè)設(shè)備: 露點(diǎn)儀智能化輻射儀溫濕度計(jì) 風(fēng)速計(jì) 紅外測(cè)溫儀高清紅外熱像儀

機(jī)械檢測(cè)設(shè)備: 切割機(jī) 顯微鏡試驗(yàn)機(jī) 表面清潔度儀器及耗材臺(tái)式硬度計(jì) 粗糙度儀脈沖發(fā)生接收儀應(yīng)力測(cè)試儀里氏硬度計(jì) 數(shù)顯式涂層測(cè)厚儀拉拔儀廠家

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45MG超聲測(cè)厚儀：
操作簡(jiǎn)便、堅(jiān)固耐用、性能可靠

45MG是一款配備有標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量功能和軟件選項(xiàng)的高級(jí)超聲測(cè)厚儀。這款特色的儀器與奧林巴斯的所有雙晶和單晶測(cè)厚探頭相兼容，是一款集多種解決方案于一機(jī)的創(chuàng)新型儀器，可用于幾乎所有測(cè)厚應(yīng)用。

使用雙晶探頭進(jìn)行腐蝕測(cè)量
使用單晶探頭進(jìn)行精確測(cè)量

標(biāo)準(zhǔn)功能OLYMPUS/45MG維修/45MG說(shuō)明書(shū)

提供基本配置的45MG儀器是一款簡(jiǎn)單易學(xué)的測(cè)厚儀，操作人員只需少量的培訓(xùn)，就可以處理大多數(shù)常見(jiàn)的測(cè)厚應(yīng)用。不過(guò)，添加了可選購(gòu)軟件選項(xiàng)和探頭之后的45MG儀器，就會(huì)變成一款非常優(yōu)良的測(cè)厚儀，可以進(jìn)行典型的初級(jí)儀器不能完成的應(yīng)用。此外，大多數(shù)選項(xiàng)可以在購(gòu)買(mǎi)儀器時(shí)分別購(gòu)買(mǎi)，或在日后需要時(shí)購(gòu)買(mǎi)。

與所有奧林巴斯雙晶探頭兼容，可對(duì)內(nèi)部腐蝕金屬的厚度進(jìn)行測(cè)量
最小值/最大值模式
兩個(gè)報(bào)警模式
差值模式
時(shí)基B掃描
縮減率
增益調(diào)整（標(biāo)準(zhǔn)、高、低）
通過(guò)密碼鎖定儀器

45MG超聲測(cè)厚儀
帶有可選橡膠保護(hù)套和支架的45MG儀器

可選功能OLYMPUS/45MG維修/45MG說(shuō)明書(shū)

只需幾次按鍵，即可完成從簡(jiǎn)單的腐蝕測(cè)厚儀到多功能精確測(cè)厚儀的華麗變身。45MG測(cè)厚儀提供5個(gè)需密碼激活的軟件選項(xiàng)，從而躋身于工業(yè)領(lǐng)域中用途廣泛的測(cè)厚儀行列。

回波到回波/穿透涂層（THRU-COAT）：使用回波到回波選項(xiàng)，儀器屏幕上會(huì)顯示金屬的實(shí)際厚度，而涂層的厚度會(huì)被忽略。穿透涂層選項(xiàng)測(cè)量金屬厚度與非金屬涂層的厚度，兩種厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此，在進(jìn)行厚度測(cè)量時(shí)，無(wú)需去掉材料表面上的漆層或涂層。
單晶：這個(gè)選項(xiàng)可對(duì)很多材料，如：金屬、塑料、復(fù)合材料、玻璃及陶瓷，進(jìn)行非常精確的厚度測(cè)量。這個(gè)選項(xiàng)可與范圍在2.25 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。
單晶高穿透：這個(gè)選項(xiàng)可對(duì)較厚或衰減性較高的材料，如：玻璃纖維或鑄造金屬，進(jìn)行厚度測(cè)量。可與范圍在0.5 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。這個(gè)選項(xiàng)包含單晶選項(xiàng)。
數(shù)據(jù)記錄器：45MG測(cè)厚儀帶有一個(gè)功能齊全的內(nèi)置雙向字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器，可方便地存儲(chǔ)和傳輸厚度讀數(shù)和波形數(shù)據(jù)。這個(gè)選項(xiàng)包含基于Windows的GageView接口程序。
帶有波形調(diào)整功能的實(shí)時(shí)A掃描：用戶(hù)使用這個(gè)可選配實(shí)時(shí)A掃描模式，可以在測(cè)厚儀的顯示屏上直接查看超聲波形（或稱(chēng)A掃描），核查厚度測(cè)量讀數(shù)，對(duì)增益和空白設(shè)置進(jìn)行手動(dòng)調(diào)整，以在具有挑戰(zhàn)性的應(yīng)用中大幅增強(qiáng)測(cè)量性能。這個(gè)有益的選項(xiàng)包含手動(dòng)增益調(diào)整、擴(kuò)展空白、回波空白、范圍及延遲等參數(shù)。

在惡劣環(huán)境中正常操作

堅(jiān)固耐用，設(shè)計(jì)符合IP67標(biāo)準(zhǔn)。
爆炸性氣氛測(cè)試：通過(guò)了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810F方法511.4程序I中規(guī)定的測(cè)試。
撞擊測(cè)試：通過(guò)了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810G方法516.5程序I中規(guī)定的測(cè)試，每軸6個(gè)循環(huán)，15 g，11 msec半弦波。
振動(dòng)測(cè)試：通過(guò)了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810G方法514.5程序I附錄C圖6中的測(cè)試，一般暴露：每軸1小時(shí)。
寬泛的操作溫度范圍
可選購(gòu)帶有支架的橡膠保護(hù)套