電光引伸計非接觸式測量樣品上兩個黑白邊緣（目標）的運動，模擬輸出信號與應變成正比。電光引伸計200XR型的頻率范圍為0-250 kHz。集成的查看器和兩個液晶顯示器簡化了儀器設置所需的調節性能；在進行測量時，觀察者還可以觀察樣品上的黑白邊緣。可以通過法蘭將具有1 mm-500mm不同測量范圍的鏡頭組件安裝到200XR型號上。透鏡單元的校準導致在應變范圍內的輸出電壓Δl為±10V。可以提供帶有開關的200XR，以在兩個測量軸之間切換。這樣就可以將該儀器也用作Biaxial Extensometer 200XR，以測量垂直或水平方向的應變。標準標距lo為75mm。通過安裝在鏡頭單元上的標距適配器，可以建立1mm至125mm的連續可調標距。

引伸計概述：

引伸計是一種在材料測試（例如拉伸測試）過程中測量材料樣品應變的儀器。原則上，引伸計有兩種類型：接觸式和非接觸式。接觸測量可以通過夾式引伸計進行；這種儀器具有至少兩個機械地連接到樣本的邊緣。拉伸樣本會導致邊緣之間的距離變長，這與樣本長度的變化相對應。

對于非接觸式測量，使用模擬或數字光學引伸計。為了測量材料樣品上的應變，樣品通常帶有黑白標記。引伸計內的傳感器檢測標記的運動，從而檢測拉伸試驗期間長度的變化。有引伸計，即使材料樣品溫度非常高（高達3000°C），它們也能夠測量非常快的應變（> 100 m / s）。

在拉伸試驗中，非接觸式測量裝置是有利的。通常可以將它們設置在距樣品一定距離的位置，以防止樣品的飛散碎片損壞測量儀器。因此，光學引伸計也適用于破壞性材料測試期間的測量。

H.-D. Rudolph GmbH提供各種類型的光學引伸計：

• 電光引伸計200XR可進行高達500kHz的非常快速的測試

• CMOS線掃描傳感器ZS64A5K每秒可實現1：64000和4673測量的高分辨率

• 線掃描傳感器ZS16A分別是速度更快的版本ZS16AHS，可實現1：16000的高分辨率和高穩定性

• 引伸計ZS32和ZS32HS分別具有1：32000的分辨率