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磁光學橢偏儀（HO-A216MOE-PH）
閱讀：83 發布時間：2024-11-29Holmarc 推出了一種利用 VIS-NIR 波長的創新型高靈敏度和高磁場光譜橢偏測量設備。HOLMARC A216 測試站提供標準化的測試解決方案，適
用于各種光學旋轉測量應用。模塊化硬件設計允許用戶在磁場和無磁場條件下自動測量液體、固體和薄膜樣品。專為磁光學材料研究和測試而設計，包括鐵磁和鐵磁薄膜和材料的磁特性分析。測量包括超薄磁性薄膜和多層膜的磁滯回線、橢圓度測量、介電材
料薄膜厚度測量、折射率、Delta 和 psi 測量等。系統可在極性、縱向和橫向配置下運行。
規格
光源：Spectra 鹵素燈、氘燈/鹵素燈或氙弧燈
單色儀 ： Quasar 300F Czerny-Turner 型
波長范圍：350 - 900 納米
準直和聚焦鏡：50 毫米直徑，300 F
光學光柵：1200 l / mm
光譜色散：2.6 nm / mm
光柵尺寸：50 x 50 毫米
絕對衍射效率：45 - 65
狹縫寬度：0 ~ 3 mm 連續可調
分辨率：0.1 納米
波長精度：0.2 nm
波長重復性：0.1 nm
雜散光：10-3
線性色散的倒數：2.7 毫米
光譜線半寬：0.2 nm @ 586 nm
偏振分析方法：旋轉分析方法
ARMS ： 步進電機控制自動定位
光斑直徑：1 - 5 毫米
薄膜支架 樣品尺寸：1 - 12 mm
(可根據要求提供定制支架）
比色皿：10 毫米路徑長度石英比色皿
樣品室選項：高/低溫樣品架
樣品進樣裝置：步進電機控制自動定位系統
電磁單元：PC 控制恒流操作
冷卻方式：水冷
最大磁場：1.75 特斯拉 @ 12 毫米磁極間隙
最小磁場 磁場檢測：1 高斯
磁場精確度：± 0.05
磁場檢測：基于霍爾探針（基于 PC 的磁場測量）
磁場反饋 ： 霍爾元件
冷卻器：5 ~ 25°C 冷凍水（用于冷卻電磁鐵）
容量：2 升/分鐘
電磁鐵電源：雙極型（最大 ± 90 V/5A）
電磁鐵電源：2.5 kVA AC 220V 50Hz
控制裝置：1 kVA AC 220V 50Hz
軟件 ： Spectra ORMS 軟件
功能
350 - 900 nm 測量范圍
0.005 度光學旋轉分辨率
全自動控制
磁場檢測和反饋設備
MOKE 測量
橢偏測量
性能
光學旋轉測量分辨率：± 0.009 度
檢測靈敏度：0.009 度（透明度大于 20%）。
穩定性：0.03 度（透明度大于 20 % 時）。
橢圓度測量：± 0.01 度。
光學旋轉測量范圍：± 90 度。
測量波長范圍：350 - 900 nm
光譜帶寬：1 納米（可變帶通高達 10 納米）
最大磁場：17,500 高斯
最小磁場 磁場檢測：1 高斯
磁場精確度：± 0.05
測量項目
或 測量具有法拉第效應的薄膜、晶體、流體等
測量透明固體和液體的維爾德常數
法拉第旋轉角/橢圓角
極性克爾旋轉角/橢圓度角
所需波長下的磁場與法拉第旋轉角特性的關系
法拉第旋轉角 vs. 波長色散特性
法拉第旋轉角與熱依賴性（可選）
測量光學特性
光學旋轉
薄膜厚度
折射率
吸收系數
光導率
相速度
群指數
布儒斯特角
空氣折射率
摩爾折射率
光子能量
典型動量
動量
群速度
PSI - Δ
ε1和2