在許多應(yīng)用領(lǐng)域，如可再生能源（光伏或氫氣技術(shù)）、航空航天和電子領(lǐng)域，半導(dǎo)體（尤其是硅）是不可少的基礎(chǔ)材料。為了保證高效率和產(chǎn)品質(zhì)量，以雜質(zhì)的識別和定量、缺陷的檢測或光學(xué)器件的功能測試為形式的硅質(zhì)量控制成為半導(dǎo)體工業(yè)中一項關(guān)鍵而艱巨的任務(wù)。
在免費的兩部分網(wǎng)絡(luò)研討會中，我們將向您介紹使用傅立葉變換紅外光譜進行半導(dǎo)體質(zhì)量控制的高靈敏度解決方案，歡迎屆時參加。
主題：
High sensitivity Silicon QC using FT-IR Spectroscopy
語言：英文（English）
時間：
| 第一部分 | 6月14日(周一) 晚上10點-11點 |
| 第一部分（重播） | 6月15日(周二)下午3點-4點 |
| 第二部分 | 6月21日(周一) 晚上10點-11點 |
| 第二部分（重播） | 6月22日(周二)下午3點-4點 |
（以上為北京時間）
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