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首頁>>深圳市達瑞博電子有限公司>>產品展示>>光學儀器及設備

  • 晶圓檢測儀 參考價：面議

    HMI eScan 315 晶圓檢測儀是一款由HMI公司制造的自動化晶圓和掩模檢查設備，旨在為圖案化晶圓和光罩檢查過程提供經濟高效的解決方案。該系統采用專有的P...
    型號： eScan 315 廠商性質：經銷商所在地：深圳市 對比
    自動化晶圓掩模檢查圖案化晶圓光罩檢查全面的缺陷審查
    2025/4/29 10:04:38595

  • 光學顯微鏡 參考價：面議

    OLYMPUS AL3110 光學顯微鏡是一款多功能的顯微鏡，適用于多種應用領域.OLYMPUS AL3110 顯微鏡設計用于提供高精度和圖像質量，廣泛應用于生...
    型號： AL3110 廠商性質：經銷商所在地：深圳市 對比
    多功能OLYMPUS/奧林巴斯高精度高分辨率CCD相機機動聚焦
    2025/4/29 10:02:47395

  • 光學顯微鏡 參考價：面議

    OLYMPUS AL2100 光學顯微鏡是一款高性能的顯微鏡，具有多種功能和用途。AL2100顯微鏡具有明場、暗場、偏振光、熒光和相位對比度成像能力。它還配備了...
    型號： AL2100 廠商性質：經銷商所在地：深圳市 對比
    放大倍率范圍從5倍到1000倍明場暗場200mm晶圓檢測OLYMPUS/奧林巴斯
    2025/4/29 10:00:23496

  • 光學顯微鏡 參考價：面議

    OLYMPUS AL2000 光學顯微鏡是一款由奧林巴斯公司生產的顯微鏡，具有多種應用和功能。此顯微鏡特別適用于晶圓檢測，是一種晶圓檢查顯微鏡，適用于半導體行業...
    型號： AL2000 廠商性質：經銷商所在地：深圳市 對比
    奧林巴斯通用顯微鏡高速掃描高級照明明場和暗場模式
    2025/4/29 9:58:47521

  • 光學顯微鏡 參考價：面議

    OLYMPUS AL120 光學顯微鏡是一種用于半導體晶圓搬送及檢測的顯微鏡系統，具有多種型號和配置，以滿足不同尺寸和需求的晶圓處理。
    型號： AL120 廠商性質：經銷商所在地：深圳市 對比
    半導體晶圓搬送及檢測奧林巴斯MX專業晶圓檢查顯微鏡微分干涉（DIC）近紅外線（IR）深紫外線（DUV）
    2025/4/29 9:57:10445

  • 光學顯微鏡 參考價：面議

    Nikon OST 3200 光學顯微鏡是一款多功能的光學顯微鏡和晶圓檢測設備，廣泛應用于研究、臨床和教學領域。Nikon OST-3200 提供了圖像質量和優...
    型號： OST 3200 廠商性質：經銷商所在地：深圳市 對比
    多功能光學顯微鏡晶圓檢測設備掩模缺陷
    2025/4/29 9:54:51559

  • 光學顯微鏡 參考價：面議

    Nikon OST 3100 光學顯微鏡是一種用于半導體檢測的顯微鏡系統，專為300mm晶圓設計。高分辨率成像：它能夠提供高分辨率、三維動態變焦和溫度控制的樣本...
    型號： OST 3100 廠商性質：經銷商所在地：深圳市 對比
    半導體檢測光學顯微鏡300mm晶圓高分辨率成像三維動態變焦
    2025/4/29 9:52:59917

  • 晶圓檢測儀 參考價：面議

    THERMA-WAVE TP 630 晶圓檢測儀是一種先進的晶圓測試和計量設備，廣泛應用于半導體、數據存儲和光伏產業。該設備具備多種尖duan技術，能夠提供高精...
    型號： THERMA-WA... 廠商性質：經銷商所在地：深圳市 對比
    THERMA-WAVE TP 630晶圓測試和計量紅外激光掃描光學器件雙色高溫計紅外成像技術和分析技術
    2025/4/29 9:50:57703

  • 光學計量儀 參考價：面議

    KLA-Tencor Spectra-Shape 8660 光學計量儀是一種先進的半導體晶圓測試和計量設備，主要用于精確測量半導體晶圓的特征尺寸和形狀。該系統采...
    型號： Spectra-S... 廠商性質：經銷商所在地：深圳市 對比
    半導體晶圓測試和計量CD測量和形狀測量自動非接觸式2D（高度）測量非接觸式計量工具缺陷審查
    2025/4/29 9:48:41440

  • 晶圓檢測儀 參考價：面議

    KLA-Tencor Puma 9100 晶圓檢測儀是一款先進的半導體晶圓測試和計量設備，廣泛應用于生產及研發領域。該設備具有高精度和可重復性的特點，能夠提供精...
    型號： Puma 9100 廠商性質：經銷商所在地：深圳市 對比
    半導體晶圓測試和計量設備自動化樣品處理能力微米級測量暗場缺陷檢測高精度和可重復性
    2025/4/29 9:46:58539

  • 晶圓檢測儀 參考價：面議

    KLA-Tencor Puma 9000 晶圓檢測儀是一款優良的晶圓檢測和計量設備，廣泛應用于半導體制造業。該系統利用KLA-Tencor創新的Streak&t...
    型號： Puma 9000 廠商性質：經銷商所在地：深圳市 對比
    晶圓檢測和計量Streak™暗視野成像技術高分辨率成像光學掃描高速成像技術
    2025/4/29 9:45:21781

  • 晶圓檢測儀 參考價：面議

    KLA-Tencor AIT XUV 晶圓檢測儀是一款優良的晶圓測試和計量設備，主要用于半導體行業的高精度檢測。該系統采用超紫外（UV）模式匹配技術和最新一代的...
    型號： AIT XUV 廠商性質：經銷商所在地：深圳市 對比
    晶圓測試和計量超紫外（UV）模式1/10000毫米大小激光掃描雙暗場光學檢查
    2025/4/29 9:43:44551

  • 晶圓檢測儀 參考價：面議

    KLA-Tencor AIT XP 晶圓檢測儀是一款功能強大且高效的晶圓測試和計量設備，通過其先進的檢測技術、自動化功能和模塊化設計，能夠顯著提升半導體制造過程...
    型號： AIT XP 廠商性質：經銷商所在地：深圳市 對比
    圖案化晶圓晶圓測試和計量暗場顯微鏡技術缺陷檢測掩模
    2025/4/29 9:41:37564

  • 晶圓檢測儀 參考價：面議

    KLA-Tencor AIT II 晶圓檢測儀是一種先進的晶圓測試和計量系統，專為半導體行業設計。該系統具有多種功能和特點，使其在晶圓缺陷檢測和過程控制方面表現...
    型號： AIT II 廠商性質：經銷商所在地：深圳市 對比
    晶圓測試和計量200mm、300mm甚至450mm雙暗場檢查工具SECS/GEM通信接口缺陷檢查
    2025/4/29 9:39:48645

  • 晶圓檢測儀 參考價：面議

    KLA-Tencor AIT I 晶圓檢測儀是一種用于檢測圖案化晶圓表面缺陷的系統。該系統配置為處理6英寸（150毫米）和8英寸（200毫米）的晶圓，并具備自動...
    型號： AIT I 廠商性質：經銷商所在地：深圳市 對比
    圖案化晶圓表面缺陷6英寸（150毫米）8英寸（200毫米）自動對焦雙暗場檢查
    2025/4/29 9:37:45514

  • 晶圓檢測儀 參考價：面議

    KLA-Tencor 2351 晶圓檢測儀是一種先進的晶圓和掩模檢測系統，廣泛應用于半導體制造行業。該系統具備多種功能，包括高分辨率成像、自動化分析以及專門的缺...
    型號： 2351 廠商性質：經銷商所在地：深圳市 對比
    晶圓檢測儀KLA-Tencor掩模檢測系統缺陷檢測200mm晶圓尺寸
    2025/4/29 9:35:35656

  • 晶圓檢測儀 參考價：面議

    KLA-Tencor 2135 晶圓檢測儀是一種高duan的掩模和晶圓檢測系統，具有多種先進技術和高靈敏度成像功能。以下是其詳細規格參數：用途：主要用于圖案化晶...
    型號： 2135 廠商性質：經銷商所在地：深圳市 對比
    晶圓檢測儀KLA-Tencor晶圓檢測系統缺陷檢測晶片表面映射
    2025/4/29 9:33:11546

  • 顆粒檢測儀 參考價：面議

    KLA-Tencor Surfscan SP2 顆粒檢測儀是一款先進的掩模和晶圓檢測設備，廣泛應用于集成電路(IC)制造過程中的缺陷檢測與分類。該系統采用先進的...
    型號： SP2 廠商性質：經銷商所在地：深圳市 對比
    顆粒檢測儀晶圓檢測KLA-Tencor缺陷檢測晶圓檢測儀
    2025/4/29 9:30:42898

  • 顆粒檢測儀 參考價：面議

    KLA-Tencor SFS6420 顆粒檢測儀是一種用于晶圓檢測和計量的系統，廣泛應用于半導體制造領域。該設備由KLA-Tencor公司生產，具有多種功能和特...
    型號： SFS6420 廠商性質：經銷商所在地：深圳市 對比
    顆粒檢測儀KLA-Tencor晶圓檢測表面分析計量
    2025/4/29 9:28:43561

  • 橢圓偏光儀 參考價：面議

    RUDOLPH S3000A 橢圓偏光儀是一種高性能的橢圓偏光計，廣泛應用于半導體行業。以下是其詳細規格參數：波長：該設備配備532nm的激光源。樣品尺寸：適用...
    型號： S3000A 廠商性質：經銷商所在地：深圳市 對比
    橢圓偏光儀Rudolph Technologies魯道夫技術12英寸晶圓薄膜
    2025/4/29 9:26:39484

  • 薄膜厚度測試儀 參考價：面議

    Rudolph MP300 薄膜厚度測試儀是一種高性能的晶圓測試和計量設備，廣泛應用于半導體制造行業。以下是其詳細規格參數：類型：晶圓測試和計量設備。用途：用于...
    型號： MP-300 廠商性質：經銷商所在地：深圳市 對比
    薄膜厚度測試Rudolph Technologies魯道夫晶圓測試計量設備Cu薄膜厚度測量
    2025/4/29 9:24:20568

  • 薄膜厚度測試儀 參考價：面議

    Rudolph MP200薄膜厚度測試儀是一款由Rudolph Technologies制造的薄膜厚度測量設備型號：Rudolph MP200 。制造商：Rud...
    型號： MP-200 廠商性質：經銷商所在地：深圳市 對比
    薄膜厚度晶圓測試Rudolph Technologies魯道夫技術計量系統晶圓大小: 8“
    2025/4/29 9:22:17448

  • 掃描電子顯微鏡 參考價：面議

    Applied Materials CX 200 掃描電子顯微鏡設備概述型號: SEMVision CX 200制造商: Applied Materials應用...
    型號： CX 200 廠商性質：經銷商所在地：深圳市 對比
    Applied Materials掃描電子顯微鏡光學檢查機器0.2 NA光學系統半導體檢測設備
    2025/4/29 9:20:33702
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