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偏光顯微鏡BX53P
熒光觀察的通用物鏡，能應對包含偏振光觀察的多種研究和檢查。*EF值：平行尼科爾和正交尼科爾亮度比較，EF值越高光學失真越少，表明偏振光特性越好。觀察影像實例。
能夠實現小光學失真的偏振光用物鏡ACHN-P、UPLFLN-P系列產品中選擇所需產品。UPLFLN-P系列物鏡是能夠用于微分干涉觀察和包括紫外線激發的熒光觀察的通用物鏡，能應對包含偏振光觀察的多種研究和檢查。
*EF值：平行尼科爾和正交尼科爾亮度比較，EF值越高光學失真越少，表明偏振光特性越好。
的操作性能和光學性能
操作簡便、觀察清晰的顯微鏡機體
*追求人機工程學的Y形框架，操作更為舒適，提高了觀察效率。極大地降低了長時間觀察的疲勞度。
視場數達到了22，與一般視場數為20的顯微鏡相比，觀察的范圍增寬了21%。此外，照明系統采用了12 V，100 W明亮的鹵素燈，能觀察明亮逼真的偏振光影像。
補償板 | 測量范圍 | 主要用途 |
U-CTB厚型Berek | 0-11,000nm | 較大的延遲測量（R*＞3λ）。（結晶、高分子、纖維、光彈性失真等） |
U-CBE Berek | 0-1,640nm | 延遲測量（結晶、高分子、纖維、生物體組織等） |
U-CSE Senarmont | 0-546nm | 延遲測量（結晶、生物體組織等）對比度增強（生物體組織等） |
U-CBR1 Brace-Kohler 1/10λ | 0-55nm | 微小延遲測量（結晶、生物體組織等） |
U-CBR2 Brace-Kohler 1/30λ | 0-20nm | 對比度增強（生物體組織等 |
U-CWE2 石英楔子 | 500-2,200nm | 延遲的近似測量（結晶、高分子等） |
支持更高效的偏振光觀察的載物臺
帶有旋轉中心輸出機構的旋轉載物臺，樣品可以流暢旋轉。此外，每隔45°裝有的鎖定機構，提高了觀察效率。旋轉載物臺上裝有復式機械載物臺，能夠控制樣品的細微移動。
全面改良了偏振光用聚光鏡和偏振光板的設計，提高了偏振光性能，實現了高EF值*、高對比度的偏振光觀察。
*EF值：平行尼科爾和正交尼科爾亮度比較，EF值越高光學失真越少，表明偏振光特性越好。
簡單的操作就可以切換正像鏡和錐光鏡，并且能夠對焦錐光鏡影像。此外，采用了伯特蘭透鏡，即使是樣本的微小范圍，也能觀察到逼真的錐光鏡影像。
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