15810842463
當前位置：北京恒奧德科技有限公司>>技術文章>>四探針探頭 訂購指南
四探針探頭是一種專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測試儀配用的四探針測試探頭，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻。
四探針探頭 探頭 型號：GSZ-HP-501
四探針探頭是一種專門測量半導體薄層電阻（面電阻）的方塊電阻測試儀配用的四探針測試探頭，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜（ITO透明氧化膜），金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻。
| ◆ 特性及規(guī)格： | ||||||||||
|
型號 | 曲率半徑 | 壓力 | 探針間距 | 探針排列 |
GSZ-HP-501 | 0.5mm | 100g | 3.8mm | 直線 |
請輸入賬號
請輸入密碼
以上信息由企業(yè)自行提供，信息內容的真實性、準確性和合法性由相關企業(yè)負責，化工儀器網對此不承擔任何保證責任。
溫馨提示：為規(guī)避購買風險，建議您在購買產品前務必確認供應商資質及產品質量。
