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Nanobase50萬RMB！高速大面積共聚焦拉曼成像系統采用透射式光路設計，提高了產品的靈敏度和穩定性。*的振鏡掃描技術能夠在臺面固定不動的情況下實現快速二維成像掃描。該技術在聯用光電流成像系統載臺時優勢明顯，并且可擴展增加熒光壽命檢測系統。
XperRam C series是基礎款，采用一個532nm激光器激發，集成了奧林巴斯顯微鏡，可以測量樣品的Raman/PL的光譜信號和mapping（Image）圖像。光譜信號強，掃描速度快，。
50萬RMB！高速大面積共聚焦拉曼成像系統
系統光路
拉曼成像mapping
(a) MoS2 sample microscope image (b)50x50µm size 0.3µm step Intensity image
(c) 30x30µm size 0.1µm step Intensity image (d)30x30µm size 0.1µm step Frequency image
產品特點
（激光掃描分辨率< 0.02 um & 重復性< 0.1 μm）
應用領域
石墨烯，二維材料，生物樣本，半導體工業，碳納米管，碳材料，太陽能電池，儲能材料，納米纖維分布，探測器光電性能檢測，晶圓體分析，制藥分析，納米材料檢測，生物細胞成像，微塑料檢測，金剛石微粉檢測。
基本參數
激光器 |
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顯微鏡 |
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掃描模塊 |
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探測器 |
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光譜范圍 |
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光柵選擇 |
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其它附加選項 |
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使用Nanobase XperRam Compact系列拉曼成像光譜儀發表的部分文獻：
1. Ising-Type Magnetic Ordering in Atomically Thin FePS3gnetic Ordering in Atomically Thin FePS3
影響因子： 12.08 期刊名稱： NANO Letters（2016） ， 作者單位： 首爾國立大學物理與天文學系， 通訊作者： Hyeonsik Cheong
2. Electrically conductive cement mortar: Incorporating rice husk-derived high-surface-area graphene
期刊名稱： Construction and Building Materials（2016） ， 作者單位： 全南國立大學高分子科學與工程學院， 通訊作者： Ji Hoon Kim
3. Wafer-Scale van der Waals Heterostructures with Ultraclean Interfaces via the Aid of Viscoelastic Polymer
影響因子： 8.097 期刊名稱： ACS Applied Materials and Interfaces（2018） ， 作者單位： 成均館大學， 通訊作者： Young Hee Lee
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