半導(dǎo)體參數(shù)分析儀RTM2-霍爾源測(cè)系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
半導(dǎo)體參數(shù)分析儀RTM2-霍爾源測(cè)系統(tǒng)利用半導(dǎo)體參數(shù)分析儀RTM2的集成開(kāi)關(guān)矩陣實(shí)現(xiàn)無(wú)限的精度和穩(wěn)定性用于片狀、霍爾和電阻張量的測(cè)量。
時(shí)域熱反射測(cè)量系統(tǒng) （TDTR 測(cè)試系統(tǒng)） 參考價(jià)：面議
我司新推出的時(shí)域熱反射測(cè)量系統(tǒng)可用于測(cè)量金屬薄膜、塊體或液體的熱導(dǎo)率、界面熱阻等多項(xiàng)熱物性參數(shù)，薄膜測(cè)量厚度可達(dá)納米量級(jí)！在微納結(jié)構(gòu)新材料的研發(fā)與分析等方面得以...
高效率熒光壽命成像系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
高效率熒光壽命成像系統(tǒng)或FLIM是基于熒光樣品中不同區(qū)域的熒光的指數(shù)衰減速率的差異。 由τ決定熒光壽命成像的每個(gè)像素的強(qiáng)度，這使研究 人員可以查看具有不同熒光衰...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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