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XperRam Ultimate多功能拉曼-熒光成像光譜系統
產品簡介
XperRam Ultimate是一款多功能共聚焦拉曼/熒光/光電流/熒光壽命檢測光譜成像系統，采用透射式光路設計，提高了產品的靈敏度和穩定性。*的振鏡掃描技術能夠在臺面固定不動的情況下實現快速二維成像掃描。該技術在聯用光電流成像系統載臺時優勢明顯，并且可擴展增加熒光壽命檢測系統。可實現拉曼/PL/光電流/熒光時間壽命/熒光檢測等功能。
整個系統的個構成如下圖，需要測量拉曼和熒光信號時，樣品激發的拉曼信號和熒光信號通過顯微鏡，再由光譜儀分光至CCD檢測器接收，計算機軟件讀出拉曼和熒光的光譜信號并掃描成圖像輸出。需要測量熒光時間壽命時，轉換器將樣品激發的瞬態熒光信號分光至TCSPC（單光子計數器），通過單光子計數器記錄熒光的時間壽命。需要測量光電流時，接上探針臺和電流計，激光激發樣品產生的光電流信號通過探針引出至電流計，再讀出至電腦軟件，記錄整個檢測面的電流分布。
功能描述
光學成像圖 Raman mapping 拉曼成像圖2
WS2拉曼光譜圖 WS2 光致發光（PL）譜圖
穩態熒光成像圖 TCSPC 瞬態熒光成像(FLIM)
光電流系統探針臺 光電流成像圖和電流計數值
產品特點
（光透過率>90%,比反射式光柵高30%,信號傳輸效率更高）
應用領域
石墨烯，二維材料，生物樣本，半導體工業，碳納米管，碳材料，太陽能電池，儲能材料，納米纖維分布，探測器光電性能檢測，晶圓體分析，制藥分析，納米材料檢測，生物細胞成像，微塑料檢測，金剛石微粉檢測。
基本參數
激光器 |
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顯微鏡 |
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掃描模塊 |
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探測器 |
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電流計 |
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探針臺 |
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拉曼 |
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熒光 |
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熒光壽命（FLIM） |
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光電流成像 |
NIR I： 650~1050nm NIR II： 1050~1550nm 典型的 532nm/633nm/785nm/1550nm
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