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二階相干度HBT測量儀
光場的高階相關性符合測量——HBT實驗設備
二階相關度HBT測量儀——光場的高階相關性符合測量。二階相關度HBT測量儀由光纖分束器，兩個單光子探測器和一個時數轉換器TDC。TDC記錄探測事件的到達時間，用以評估計算二階相關函數g(2)(τ)
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上海昊量光電推出二階相干度HBT測量儀。由光纖分束器，兩個單光子探測器和一個時數轉換器TDC。TDC記錄探測事件的到達時間，用以評估計算二階相關函數g(2)(τ)。
用戶能夠通過用戶界面控制整個裝置。軟件計算二階函數并提供幾種標配擬合函數：熱光，非聚束光，無探測器時間抖動。這些評估和數據可以保存在文件中。
單光子探測器是硅基SPAD或APD，有效探測波長500nm-900nm。TDCzui小的窗口寬度81ps，如果內探測器不能滿足客戶需求，設備也可以連接外部探測器，此外，在壽命測量應用中還可連接一個外觸發。
關鍵特性：
l 一體化HBT測量系統
l 計算 g(2) 自相關函數
l 配備幾種標準函數
l 高時間分辨率81ps
l 包含外部探測器輸入接口
l 壽命測量用外部觸發接口
l 集成計數器
應用領域：
l 單光子源特性描述：量子點，金剛石色心，單離子/原子
l 光子統計測量 (熱，相干性，非經典光源)
l 使用外部同步輸入壽命分析
主要技術參數
中心波長 | 800nm(客戶需求) |
輸入光纖纖芯 | 62.5um多模 |
zui大計數率 | >500kcps |
APD時間抖動 | <500ps(FWHM) |
探測效率 | 30%@800nm |
zui小時間分辨率 | 81ps |
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