18930218592
當前位置：> 供求商機> 美國CID CI-710葉片光譜探測儀
美國CID CI-710葉片光譜探測儀CI-710功能強大，可以非破壞性測量葉片的透射光、吸收光、反射光光譜。
美國CID CI-710葉片光譜探測儀產品簡介：
•CI-700系列之葉片光譜分析儀CI-710功能強大，可以非破壞性測量葉片的透射光、吸收光、反射光光譜
•通過光譜可以定性、定量的研究葉片內各組分葉綠素a或b、蛋白質、糖、礦物質等含量及比例變化
•直觀的光譜圖像和現場數據存儲,為植物葉片光合作用、植物遺傳特性、植物脅迫生理、植物病理等方面研究提供了迅捷的手段
產品特點：
•非常便攜，適合于室內或野外使用
•非破壞性測量葉片在400~950nm波長范圍內的反射率、透射率和吸收率
•掃描速度快，靈敏度高
•USB接口連接UMPC數據處理終端
•樣品類型，葉片或扁平的物體
標準配置：
•光譜探測器、CI-700LP葉夾、光纖、UMPC數據終端、光譜分析軟件、說明書、便攜式儀器箱
技術參數：
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
以上信息由企業自行提供，信息內容的真實性、準確性和合法性由相關企業負責，化工儀器網對此不承擔任何保證責任。
溫馨提示：為規避購買風險，建議您在購買產品前務必確認供應商資質及產品質量。
