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Omega/Theta XRD Mapping面掃功能儀Mapping面掃臺允許使用受控的網格模式來探索整個樣品表面。Omega/Theta XRD可以很容易地...
晶錠粘接轉移（堆垛 stacking）系統晶體（如SiC的晶錠）。這些需要在線切過程之前進行定向對準。Freiberg儀器公司提供了一個方便的支架系統，使用Om...
Omega/Theta - 搖擺曲線測量儀測量搖擺曲線意味著在Theta-scan模式下進行測量，這需要一個測角儀。一個雙晶體被帶入主光束路徑，以減少光譜寬度和...
XRD-SDCOM小晶體樣品臺式X射線單晶定向儀在晶圓片的注入和光刻過程中，需要平面或凹槽作為定位標記。切割過程中，晶片必須正確地對準晶圓片上易于切割的晶格面。...
XRD-OEM在線X射線衍射儀可測量材料：硅，碳化硅，砷化鎵及更多樣品尺寸：鋼錠直徑450毫米冷卻：空氣，低噪音可能的用途：在鋸/磨/平/缺口檢測前對大型晶錠進...
德國弗萊貝格 Quatrz XRD 石英晶體衍射儀德國弗萊貝格儀器Quatrz XRD——石英晶體X射線衍射儀主要應用于對石英棒、硅片和坯料進行生產質量控制。而...
Omega/Theta XRD - X射線晶體定向儀Omega/Theta XRD用于超快速的晶體定向、生產中的晶體排列、質量控制、搖擺曲線測量、材料研究等。S...
DDCOM X射線單晶定向儀確定單晶的晶格取向，使用Omega掃描方法的超高速晶體定位，測量立方晶體任意未知取向的測定，特別設計用于點陣方向的方位設置和標記。氣...
德國弗萊貝格--MDpicts 微波探測光誘導電流瞬態譜儀微波探測的光感應電流瞬態圖譜檢測，非接觸且無損傷，用于溫度依賴的少數載流子壽命測量以及半導體的界面陷阱...
PHI X射線光電子能譜儀PHI Genesis 500是新一代配置了全自動多功能掃描聚焦X 射線光電子能譜，易操作式多功能選配附件，能夠實現全自動樣品傳送停放...
飛行時間二次離子質譜儀PHI nano TOF3+，先進的多功能TOF-SIMS具有更強大的微區分析能力，更加出色的分析精度詳細介紹PHI nanoTOF3+ ...
俄歇電子能譜儀PHI公司的PHI 710掃描俄歇納米探針是一臺設計的高性能的俄歇電子能譜（AES）儀器。該設備能分析納米級特征區域,超薄薄膜和多層結構表界面的元...
PHI 硬X射線光電子能譜儀主要應用于電池、半導體、光伏、新能源、有機器件、納米顆粒、催化劑、金屬材料、聚合物、陶瓷等固體材料及器件領域。用于全固態電池、半導體...
布魯克X射線單晶衍射儀布魯克X射線單晶衍射儀D8 VENTURE/QUEST是布魯克公司推出的新款，功能強大的X射線單晶衍射儀。一體化的設計， 配備優良的光源以...
布魯克X射線衍射儀D8 ADVANCE布魯克X射線衍射儀采用達芬奇設計，通過TWIN-TWIN光路設計，成功實現了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄...
布魯克X射線桌面型衍射儀D6 PHASERX射線桌面型衍射儀是德國布魯克AXS公司新推出用于X射線粉末衍射反射與透射幾何、掠入射衍射與反射法薄膜分析以及塊體樣品...
布魯克X射線衍射儀布魯克X射線衍射儀D8 DISCOVER 采用達芬奇設計，配備了集成化的DIFFRAC.SUITETM軟件，附件自動識別、即插即用以及*集成化...
布魯克三維X射線顯微鏡 納米級micro CTSKYSCAN 2214 是布魯克推出的新納米斷層掃描系統，在為用戶帶來了終級分辨率的同時,提供非常好的用戶體驗。...
布魯克波長色散型X射線熒光光譜儀2017年，布魯克波長色散型X射線熒光光譜儀第二代S8 TIGER成功推出，采用HighSenseTM技術，保證從鈹（4Be）到...
布魯克X射線多道熒光儀布魯克X射線多道熒光儀(S8 LION)布魯克AXS公司全新設計的多道波長色散X射線熒光光譜儀，采用了當前新技術設計的固態發生器、新技術設...
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