SWXWY-600型*材料高低溫應變測量系統 參考價：面議
SWXWY-600型*材料高低溫三維顯微應變測量系統系統——光學顯微鏡和DIC數字圖像相關技術的結合，可以滿足納米級精度測量需求。SWXWY-600型*材料三維...
RRAM阻變式存儲器測試儀 參考價：面議
應用領域主要有：Ferroelectric/ Multiferroic Tunnel-Junctions (FTJ/MFTJ) 鐵電/多鐵隧道結Electro-...
aixPES壓電材料綜合表征測試系統 參考價：面議
aixPES壓電材料綜合表征系統本系統主要用于壓電塊體陶瓷樣品的全面電性能和機電性能的表征。大信號和小信號材料的特征可以在一定溫度范圍內表征。樣品上的電流響應測...
aixPES-DR鐵電自放電測試儀 參考價：面議
本設備主要用來研究電介質材料的自漏電性。由于測試條件非常接近實際情況，因此通過這種方式可容易地測試應用于DRAM材料的合適性。技術說明：
TF Analyzer 3000鐵電壓電分析儀 參考價：面議
TF Analyzer 3000鐵電壓電分析儀 TF ANALYZER 3000E是一款擴展性的高速型模塊化鐵電壓電分析儀，具備鐵電、壓電、熱釋電材料所有基本特...
TF Analyzer 2000E鐵電壓電分析儀 參考價：面議
TF ANALYZER 2000E是一款擴展性的模塊化鐵電壓電分析儀，具備鐵電、壓電、熱釋電材料所有基本特性測試功能，可與激光干涉儀和SPM掃描探針顯微鏡等微位...
TF Analyzer 1000鐵電壓電分析儀 參考價：面議
鐵電壓電分析儀 TF Analyzer 1000TF ANALYZER 1000是一款緊湊型鐵電壓電分析儀，具備鐵電、壓電材料所有基本特性測試功能，可與激光干涉...
FeRAM鐵電隨機存儲器測試儀 參考價：面議
內存窗口信息是基于對器件*集成后進行模擬電滯回線測量后得出的。應用領域：鐵電存儲器的生產生產過程中的質量控制，以便不會影響到CMOS生產過程在MHz的操作速度下...
鐵電遲豫電流測試儀 aixPES-RX 參考價：面議
本設備主要用來研究電子陶瓷材料的遲豫性能，也就是介電體和鐵電材料的極化和去極化電流的，即施加電壓階躍后的電流響應。該測試能將材料的馳豫電流和漏電流分開，并可記錄...
雙光束激光干涉儀 aixDBLI 參考價：面議
雙光束激光干涉儀專門用于壓電薄膜的蝴蝶曲線和縱向壓電系數d33的測試。這一臺適合于從小尺寸薄膜到8英寸晶圓表征的雙光束激光干涉儀。半自動的系統用于8“晶圓上的M...
熱釋電性能測試儀 aixPYM 參考價：面議
熱釋電性能測試儀 aixPYM(Pyroelectric Measurement)本系統主要用于薄膜及塊體材料變溫的熱釋電性能測試。薄膜材料變溫范圍：-196℃...
熱激發極化電流測試儀 TSDC 參考價：面議
熱激發極化電流測試儀 TSDC(Thermally Stimulated Depolarization Current Measurement)本系統除了可以測...
熱電性能測試儀 COMTESSE 參考價：面議
熱電性能測試儀 COMTESSE(Thermoelectric Measurement)本系統主要用于熱電性能測試。包括：熱導率thermal conducti...
機電薄膜e31測試儀 aix4PB 參考價：面議
機電薄膜e31測試儀 aix4PB(Electromechanical thin film e31 analyzer )薄膜材料的機電性能是MEMS器件設計的關...
高溫塊體壓電分析儀 aixPES-600/800 參考價：面議
高溫塊體壓電分析儀 aixPES-600/800本系統主要用于高溫下的壓電塊體陶瓷樣品的全面電性能和機電性能的表征。壓電測試溫度可以達到室溫到600℃或室溫到8...
多鐵材料磁電磁阻測試儀 aixPES-MR 參考價：面議
多鐵材料磁電磁阻測試儀 aixPES-MR(MagnetoResistive Measurement)本系統主要用于研究磁阻和鐵性材料。本系統提供連續電流激勵和...
電卡效應測試儀 ECM (ElectroCalori 參考價：9999
電卡效應測試儀 ECM(ElectroCaloric Measurement)本系統除了可以測試材料的鐵電、壓電、熱釋電性能外，還可以用于測試材料在寬溫度范圍內...
低溫塊體壓電分析儀 aixPES-Cryo 參考價：面議
低溫塊體壓電分析儀 aixPES-Cryo本系統主要用于高低溫下的壓電塊體陶瓷樣品的全面電性能和機電性能的表征。壓電測試溫度可以達到-100℃到+600℃。大信...
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