測量顯微鏡15J

15J測量顯微鏡是光學計量儀器*，它結構簡單，操作方便，適用范圍*廣，主要用途如下：
1. 直角坐標中測定長度，例如測定孔距，基面距離，刻線寬度，鍵槽寬度，狹縫寬度，通孔外圓直徑等等。
2. 轉動度盤測定角度，例如對刻度盤，樣板、量規，鉆孔模板及幾何形狀復雜的零件進行角度測量。
3. 用作觀察顯微鏡，以比較法檢查工作表面光潔度，鑒定冶金工業的礦石標本。檢定印刷照相制版，檢驗紡織纖維等等。

測量顯微鏡15J
X-軸移動測量范圍                 50mm
Y-軸移動測量范圍                 13mm
測微器分度值                       0.01mm
測量臺轉動范圍                    不限
測量臺刻度盤分度范圍            00 ~ 360 0
測量臺刻度盤之分度值            10
測量臺刻度盤游標讀數示值      6''

   儀器示值誤差±(5+L/15)μm
   儀器示值誤差: 包括測量誤差與儀器系統誤差。

注： 測量地點溫度變化（200 C±30 C）
L-被測件長度（mm）
儀器之主要尺寸：
測量臺與物鏡之間zui大距離       80mm
測量工作臺直徑                      120mm
儀器外形尺寸                   *325×長262×寬220mm
儀器重量                          約10.6Kg

1．另配透射照明器為：15JA測量顯微鏡

2．數字式為:15JE數顯測量顯微鏡