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雙折射顯微鏡 EXICOR-MICROIMAGER 參考價：面議
雙折射顯微鏡 EXICOR-MICROIMAGER為學術界和工業界的研究人員提供了評估雙折射的能力。無論是生物材料還是工業材料。
雙折射（應力）測量系統 EXICOR-SYSTERMS 參考價：面議
雙折射（應力）測量系統 EXICOR-SYSTERMS，設計減去了光學系統中的移動部件，并避免了在測量角度之間切換。 氦氖激光束被偏振，然后被PEM調制。
雙折射（應力）測量系統 EXICOR-PV-Si 參考價：面議
雙折射（應力）測量系統 EXICOR-PV-Si還可測量藍寶石、碳化硅、硒鋅、鎘等材料。PV-Si鑄錠模型堅固、通用，可容納和測量直徑達8英寸的500毫米粗錠。
各向異性測量系統2-MGEM橢圓計 參考價：面議
各向異性測量系統2-MGEM橢圓計是一個重大的突破，光學各向異性測量技術更快、更準確、收集更多的數據。
Strokes 偏振計 參考價：面議
Strokes 偏振計在光學元件表征、光學系統光束輸出特性、天文學、光纖制造、光源和激光質量控制等方面有著廣泛的應用。
圓二色性測量系統 參考價：面議
圓二色性測量系統使用垂直光路直接從標準孔板測量圓二色性。這樣就不需要將溶液轉移到試管中進行篩選，也不需要在分析過程中清洗試管
雙折射（應力）測量系統 EXICOR-GEN 參考價：面議
雙折射（應力）測量系統 EXICOR-GEN，液晶基板應力分布測量，大型液晶基板應力分布測量，應力測量。Hinds，ExicorGEN5， ExicorGEN6...
雙折射（應力）測量系統-EXICOR OIA 參考價：面議
雙折射（應力）測量系統-EXICOR OIA是透鏡、平行面光學、曲面光學在正常和斜入角度評估的主要雙折射測量系統。
應力雙折射 參考價：面議
Hinds Instruments 的ExicorOIA 是透鏡、平行面光學、曲面光學在正常和斜入角度評估的主要應力雙折射測量系統。該系統是建立在Hinds l...
應力雙折射測量系統 參考價：面議
Hinds 儀器的應力雙折射測量系統Exico-150AT是Exicor®雙折射測量系統系列產品的工作平臺。 該系統具有足夠的多樣性，在生產車間和研發...
應力雙折射檢測 參考價：面議
在硅太陽能電池板的生產過程中，硅晶體中的應力在制作過程中往往沒有被檢測到，我們描述了一種測量硅錠的應力雙折射檢測，它可以是方形的，也可以是生長的，然后被鋸成硅片...
光學玻璃應力測量 參考價：面議
光學玻璃應力測量占地小-大限度地減少設備所需的工廠空間；平臺設計-使可測量面積盡可能大；強大的自動化-質量階段和硬件正常運行時間。
美國Hinds Instruments 參考價：面議
美國Hinds Instruments 的Exicor®雙折射測量技術于1999年推出，型號為150AT，為客戶提供技術，具生產價值的測量雙折射的能力...
殘余應力檢測 參考價：面議
150AT 應力雙折射系統是Hinds應力雙折射測量系統家族系列產品，用于殘余應力檢測。該應力雙折射測量系統既可作為實驗室科研探索測量光學組件應力分布測量，也可...
殘余應力測量 參考價：面議
該系統利用PEM調制光束的偏振狀態、先進探測和解調電子來測量光學如何改變偏振狀態。這就導致了一個偏振狀態相對于另一個偏振狀態的光延遲測量結果是90°。...
Hinds 參考價：面議
美國Hidns Instruemtns -LCD材料的超低階雙折射測量在與眾多的光學材料制造商合作多年后，Hinds 儀器公司推出了Exicor 1500AT系...
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