線性壓電納米位移臺MF30系列 參考價：面議
線性壓電納米位移臺MF30系列，大行程直線位移臺，不僅擁有緊湊的安裝尺寸，同時還兼具低溫真空等應用環境，支持定制納米位移臺。
線性壓電納米位移臺MF40-25A 參考價：面議
線性壓電納米位移臺MF40-25A，大行程直線位移臺，不僅擁有緊湊的安裝尺寸，同時還兼具低溫真空等應用環境，支持定制納米位移臺。
線性壓電納米位移臺ML-15A 參考價：面議
線性壓電納米位移臺ML-15A，大行程直線位移臺，不僅擁有緊湊的安裝尺寸，同時還兼具低溫真空等應用環境，支持定制納米位移臺。
線性壓電納米位移臺ML-23A 參考價：面議
線性壓電納米位移臺ML-23A，大行程直線位移臺，不僅擁有緊湊的安裝尺寸，同時還兼具低溫真空等應用環境，是小空間內大行程高精度的定位的優先選擇產品。支持定制納米...
低溫恒溫器系統 參考價：面議
低震動干式液氦光學低溫恒溫器系統，使用氣體導熱隔震，實現樣品臺納米級的機械穩定性。為有效降低環境震動影響，產品設計安裝在光學隔震平臺上。
低溫液氮探針臺 LN-4H-06 參考價：面議
低溫液氮探針臺 LN-4H-06產品主要是由真空腔體、探針控制、顯微鏡模塊、變溫樣品臺、進口分子泵組、全旺程真空規、智能溫控儀等組成。
手動探針臺系統 參考價：面議
手動探針臺系統，可測試晶圓尺寸:最大4英寸樣品臺行程:100mm*100mm移動分辨率:~0.1mm樣品臺旋轉范圍:360度低漏電底柵接口，標準Triax 輸出...
ZP3-4 微納探針臺 參考價：面議
ZP3-4 微納探針臺包含4個壓電三軸探針臂，每個三軸配備1個可拆卸式電學探針接口，可在毫米級尺度上進行宏觀運動并實現納米尺度上的微觀運動。
SEM納米探針臺 參考價：面議
SEM納米探針臺產品實現了三維空間上的準確定位， 它具有分辨率高，尺寸緊湊，行程大，操作簡單，能在真空下使用等優點，可應于SEM真空腔體內完成各種納米精度運動操...
室溫半自動探針臺 TZ-H-06 參考價：面議
室溫半自動探針臺 TZ-H-06室溫自動探針臺，高可靠性探針臺系統，主要應用在半導體/微電子， 電子，機電，物理，化學，材料，光電，納米，微機電/MEMs，生物...
干式液氦溫區探針臺 LHe-6H-06 參考價：面議
干式液氦溫區探針臺 LHe-6H-06產品特點，真空腔體：真空度優于610-4 Pa。降溫后優于610-5 Pa。留有2個用戶法蘭接口（KF40可接入氣體或者額...
壓電物鏡NF100LA 參考價：面議
壓電物鏡NF100LA采用壓電陶瓷驅動的納米級物鏡掃描臺，內部使用無摩擦及空回的柔性較鏈導向機構，確保了掃描臺優秀的運動精度。
超高真空微型光柵尺SMG26 參考價：面議
體積小、結構緊湊超高真空微型光柵尺SMG26特點，體積小，結構緊湊，適用于超高真空使用，良好的耐高溫性，最高可達100℃，SMG26系列光柵的柵距為256μm，...
真空組件及配件 參考價：面議
真空組件及配件，各種類型都有，可定制真空饋通，本頁面未找到您需要的產品請聯系客服。
線性壓電納米位移臺ML-37A 參考價：面議
線性壓電納米位移臺ML-37A，大行程直線位移臺，不僅擁有緊湊的安裝尺寸，同時還兼具低溫真空等應用環境，是小空間內大行程高精度的定位的優先選擇產品。支持定制納米...
多種旋轉位移臺 參考價：面議
多種旋轉位移臺可實現高精度及高分辨率的開環/閉環控制，適用于大氣及真空環境下工作。
隧道顯微鏡 參考價：面議
掃描隧道顯微鏡STM（Ultrascan LT-100），掃描探針顯微鏡（STM）為代表的超高真空設備廣泛應用于科學研究中，主要進行對表面有關或者在表面發生的所...
二維材料轉移系統 參考價：面議
二維材料轉移系統，可用于機械解理的各種二維材料的轉移及二維材料范德華異質結的堆疊，尤其適用于二維材料的精準轉角調控。
半自動、全自動臺階儀 參考價：面議
半自動、全自動臺階儀。JS100B提供兩個彩色攝像頭對樣品和針尖同時成像，可無畸變的觀察樣品區，方便定位特征區域，同時探針掃描時可實時觀察掃描區域。JS2000...
手動臺階儀 JS10B 參考價：面議
國產手動臺階儀 JS10B，穩定可靠的重復性測量，采用金剛石探針，無畸變的觀察樣品區，實時觀察掃描區域，突破三個核心技術，國內研發生產，便于售后服務?！局С侄ㄖ?..
原位解決方案力學-電學測量系統 參考價：面議
原位解決方案力學-電學測量系統（定量力+電+三維操縱）在標配TEM-STM樣品桿內集成納牛力傳感器，實現高精度的力學及電學測量。
原位解決方案-低溫電學測試系統 參考價：面議
原位解決方案-低溫電學測試系統（非定量力+電+低溫+三維操縱）在標配TEM-STM樣品桿內集成低溫環境控制單元，從而實現在透射電鏡中進行原位低溫電學測量的目的。
原位解決方案-光電性質測試系統 參考價：面議
原位解決方案-光電性質測試系統（非定量力+電+光+三維操縱）在標配TEM-STM樣品桿內集成光纖單元，配合外接光譜儀或激光器實現光電測量或者CL測量。
原位MEMS-TEM-STM多場測量系統 參考價：面議
原位MEMS-TEM-STM多場測量系統（非定量力+電+光+加熱）是一種革命性的原位透射電子顯微鏡實驗系統，使研究者可以在透射電子顯微鏡中構建一個可控的多場環境...
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