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產品簡介
測試頻率20Hz～1MH*有8600個以上的測試頻率
詳細介紹
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產品概述詳細
測試電平10mV～2V，10mv步進
zui高達80次/s的測量速度
六位讀數分辨率
內部自帶直流偏置源
圖形掃描分析功能
內建比較器，10檔分選及計數功能
測試頻率20Hz～1MH*有8600個以上的測試頻率
基本準確度0.1%
320×240點陣大型圖形LCD顯示
10點列表掃描測試功能
外置偏流源至40A
V、I測試信號電平監視功能
20組內部儀器設定可供儲存/讀取
多種通訊接口方便用戶聯機使用
全英文操作界面
LCR測量參數 | C，L，R，Z，Y，X，B，G，D，Q，θ，DCR |
測試頻率 | 20Hz～1MHz，10mHz步進 |
測試電平范圍 | f≤1MHz |
輸出阻抗 | 25Ω50Ω，100Ω |
基本準確度 | 0.1% |
測量速度或測試時間 | 快速：80次/s（f﹥30KHz），100次/s（f﹥1KHz） |
等效電路 | 串聯方式，并聯方式 |
量程方式 | 自動，保持 |
觸發方式 | 內部，手動，外部，總線 |
平均次數 | 1-80 |
清零功能 | 開路/短路掃頻清零，負載校準 |
內部直流偏置源 | 電壓模式：-5V～+5V，±（10%+10mV），1mV步進，電流模式（內阻為50Ω）：-100mA～+100mA， |
比較器功能 | 十檔：（九檔合格，一檔不合格），另有一個附屬檔 |
存儲器 | 可保存20組儀器設定值 |
接口 | RS232C，HANDLER， |
R、X、Z Y、B、G C L D Q θ（DEG） Δ% DCR | 0.1mΩ～999.999MΩ 0.1nS～99.9999S 0.001pF～999.99mF 0.1nH～9.9999kH 0.0001～99999 0.0001～99999 -90.99°～+90.00° -999.99%-999.99% 0.01mΩ—99.999kΩ |
列表掃描 | 10點列表掃描 |
顯示器 | 320×240點陣大型圖形LCD |
測試端 | 5端法 |
顯示方式 | 直讀，ΔABS，Δ%，V/I（電壓/電流監示），檔號及檔計數 |
簡要介紹：
高頻自動元件分析儀是采用當前的自動平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測試儀器，其0.05%/0.1%的基本精度、20Hz—1MHz的頻率范圍及高達100MΩ的阻抗測試范圍可以滿足元件與材料的一切測量要求，特別有利于測量低D電容器和高Q電感器的測量。其支持20V交流測試信號和40A直流偏置的高功率測試條件及列表掃描功能將有利于用戶擴展元件評價的能力。四端對的端口配置方式可有效消除測試線電磁耦合的影響，將低阻抗測試能力的下限比常規五端配置的儀器向下擴展了十倍。
高頻自動元件分析儀是電子元件設計、檢驗、質量控制和生產測試的強有力工具。它的優良性能和功能為電路的設計和開發以及材料（電子材料和非電子材料）的研究和開發提供了強有力的工具。計算機通訊及測試過程記錄提供了條件。
廣泛的測量對象：
無源元件：電容器、電感器、磁芯、電阻器、變壓器、芯片組件和網絡元件等的阻抗參數測量。
半導體元件：電容器、電感器、磁芯、電阻器、變壓器、芯片組件和網絡元件等的阻抗參數測量。
其它元件：印制電路板、繼電器、開關、電纜、電池等的阻抗評估。
介質材料：塑料、陶瓷和其它材料的介電常數的損耗角評估。
磁性材料：鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估。
半導體材料：半導體材料的介電常數，導電率和C-V特性。
液晶材料：液晶單元的介電子常數、彈性常數等C-V特性。
多種元件、材料特性測量能力
揭示電感器件的多種特性
高頻自動元件分析儀的性能和20Hz-1MHz的測試頻寬可以地分析磁性材料、電感器件的性能
使用10301選件的100mADC的偏置電流可以測量高頻電感器件、通訊變壓器，濾波器的小電流疊加性能。使用1775電流疊加裝置，可使偏置電流達40A以分析高功率、大電流電感器件。
的陶瓷電容測量1kHz和1MHz是陶瓷材料和電容器的主要測試頻率。陶瓷電容器具有低損耗值的特征，同時其容量、損耗施加之交流信號會產生明顯的變化。儀器具有寬頻測試能力并可提供良好的準確度，六位分辨率和自動電平控制（ALC）功能等，中以滿足陶瓷材料和電容器可靠、準確的測試需要。
液晶單元的電容特性測量
電容－電壓（C－Vac）特性是評價液晶材料性能的主要方法，常規儀器測量液晶單元的C－Vac特性遇到一個問題是zui大測試電壓不夠。使用選件可提供分辨率為1%及zui高達20Vms的可編程測試信號電平，使它能在*條件下進行液晶材料的電容特性測量。
半導體材料和元件的測量
進行MOS型半導體制造工藝評價時，需要氧化層電容和襯底雜質密度這些參數，這些可從C－Vdc特性的測量結果推導出來。
20HZ－1MHz的測量頻寬及高達40VDC的可編程偏置電壓方可方便地完成C-VDC特性的測量。
為了測試晶圓上的半導體器件，需要延伸電纜和探頭，儀器的2m/4m延伸電纜選件可將電纜延伸的誤差降至zui小。各種二極管、三機管、MOS管的分布電竄也是本儀器的測試內容。
適應多種領域的測試需要提高生產效率
高頻自動元件分析儀30次/秒的測試速度可滿足大多數生產場合高效測試的需要，從而提高生產廠的產能。內建比較器、電纜長度補償、Handler接口可方便地用于自動測試系統。
應用廣泛的品質檢驗手段
儀器具備的20Hz-1MHz的頻寬及5mVms-20ms的信號電平范圍可滿足絕大多數元件的檢測需要。
10301及1775的配置解決了器件直流偏置測量的要求。提供徑向、軸向、SMD元件的多種測試夾具配置。
用戶友好的操作界面簡化的前面板操作儀器配置的320x240點陣的LCD顯示器使操作者可清晰地觀察測量結果，各種設定狀態一目了然，交互式軟鍵大大簡化了儀器操作。
非易失性存儲器以保存多種儀器設置
高頻自動元件分析儀提供有內部非易失性存儲器可保存20組儀器測量設置，
靈活的數據通訊方式
高頻自動元件分析儀為多機通訊并組成自動測試系統提供了可能，同時，
儀器還提供了低成本的RS232C串行通訊方式以方便地與計算機進行遠程通訊。
比較器功能 | |||
比較器 | 測量的參數值可以分選為10檔 | ||
計數值 | 0—999999 | ||
列表掃描比較 | 掃描列表中的每個點都可以輸出HIGH/IN/LOW信號 | ||
輸入保護 | |||
當充電的電容連上測試端時，內部保護電路工作。zui大可以保護的電容電壓可以由下式推出： | |||
其他功能 | |||
存儲功能 | 外部非易失存儲器可以保存20個儀器的設置文件 | ||
RS232C | 所有的儀器控制參數，測量值，比較值和掃描列表都可以通過RS232C實現多機通訊或對PC通訊。 | ||
選件 | |||
10301 | 功率放大/直流偏置增加交流信號到20Vrms/0.2Arms.擴展直流偏置范圍到±40VDC. | ||
10401 | 2m/4m測試線選件擴展測試線的長度，增加2m或4m。 | ||
10202 | Handler接口輸入的9對上下限值可以分選10檔的L、C或|Z|值。 | ||
準確度（細節請查看操作手冊） | |||
測試環境 | 熱機時間 | ≥30分鐘 | |
環境溫度 | 23±5ºC | ||
測試信號電平 | 0.3Vrms–1Vrms | ||
清零 | 開路和短路 | ||
測試線長度 | 0m | ||
|Z|，|Y|，L，C，R，X，G，B | ±[A+（Ka+Kb+Kc）×100]（%ofreading） | ||
D | ±[Ae/100]（D的值） | ||
Q（WhenQx×De<0.1） | 當，Qx符合Qvalue時De是D的度 | ||
θ | DEG | ±[Ae/100]（degress值） | |
RAD | ±[（180/π）×（Ae/100）]（degress值） | ||
工作溫度：0℃—40℃
濕度≤90%RH
電源要求：198V—242VAC、99V-121VAC、47.5Hz—63Hz
功耗：≤100VA
尺寸（W×H×D）：430mm×185mm×300mm
重量：8.5kgApprox