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產品簡介
光譜輻亮度計是一款可進行光譜輻射曲線分析和極低亮度測量的分光輻射亮度計，可滿足高測量要求的實驗室應用，而且對于野外現場測量應用也十分方便，廣泛應用于照明工程、光源和發光器件、電影電視、交通信號、建筑、大氣光度等領域。
詳細介紹
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產品概述詳細
產品概述
光譜輻亮度計是一款可進行光譜輻射曲線分析和極低亮度測量的分光輻射亮度計，可滿足高測量要求的實驗室應用，而且對于野外現場測量應用也十分方便，廣泛應用于照明工程、光源和發光器件、電影電視、交通信號、建筑、大氣光度等領域。
0.003cd/m2低亮度測量能力；
1000000：1對比度測量能力。
技術參數
1、主要技術特性：
（1）不存在V（λ）失匹配誤差，測量精度高；
（2）視場角設置靈活：內置4個視場角，分別為2°、1°、0.2°、0.1°，可方便的適用于不同大小的測量對象，亮度測量范圍廣。
（3））配有大口徑高像質的望遠物鏡，加輔助鏡后，能提供更小的視場角，可對近距離細微物體或光源的亮度進行瞄點測量。
（4）采用恒溫制冷型陣列探測器具備靈敏度高、噪聲低、線性動態范圍寬等優點；
（5）光柵與陣列探測器光學系統經過改良設計，雜散光影響極小；
（6）測試方便，儀器本身具有以TFT液晶和觸摸屏為介質的人機交互界面，可方便快速進行測試或組成測試系統。
2、主要測量功能：
光亮度、輻射亮度、相對光譜功率分布P（λ）、色品坐標（x，y）、（u'，v'）、相關色溫Tc、顯色指數Ra、色容差、峰值波長、半寬度、色純度、主波長、紅色比等。
3、主要技術指標：
波長范圍 | 380-780nm | |||
波長分辨率 | 0.6nm/像素 | |||
顯示波長間隔 | 1.0nm | |||
波長精度 | ±0.3nm | |||
觀察視場 | 8° | |||
zui小測量距離 | 約400mm（標準鏡頭） | |||
測量視場角 | 2° | 1° | 0.2° | 0.1° |
zui小測量區域 （標準鏡頭） | Φ11mm | Φ5.6mm | Φ1.1mm | Φ0.55mm |
測量亮度范圍 （標準A光源） | 0.003-5000 cd/㎡ | 0.012-20000 cd/㎡ | 0.3-500,000 cd/㎡ | 1.2-2,000,000 cd/㎡ |
亮度精度等級 | 標準級，按國家計量檢定規程JJG211-2005 | |||
亮度測量允許誤差 | ±2%讀數+1個字 （按國家計量檢定規程JJG211-2005方法檢驗，指標高于2.5%的允許誤差要求） | |||
色度精度（x, y） （標準A光源） | 0.002（<0.05cd/㎡） 0.001（<5,000cd/㎡） | 0.002 （<0.2cd/㎡） 0.001 （<20,000cd/㎡） | 0.002 （<5cd/㎡） 0.001（<500,000cd/㎡） | 0.002 （<20cd/㎡） 0.001（<2,000,000cd/㎡） |
色溫顯示范圍 | 1000K – 100000K | |||
積分時間 | 9ms-240000ms | |||
色空間模式 | Lv x y、Lv u’ v’、Lv Δuv、XYZ、主波長、光譜圖 | |||
接口 | RS232 | |||
選項 | 可選配輔助鏡，用于更小發光面的測量 |