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產品概述詳細

產品概述

世界的快速光譜輻射計。*美國IESNA和中國GB/T 24824等標準要求。

可實現LED的瞬態光學特性測量（脈沖測量）及穩態光學特性測量（直流測量）。

國家863計劃研究成果，獲美國*（號：US 7,978,324 B2），“*批自主創新產品”，“國家重點新產品”榮譽。

技術參數

一、產品選型表：

二、基本工作原理：

世界*高精度快速光譜輻射計一般由凹面平均衍射光柵和科學級CCD構成，世界上也只有極少數制造商能夠提供如此高精度的CCD和光柵。然而實踐證明即便是世界*的商用凹面平場衍射光柵和世界*的商用科學級CCD，在系統光學耦合匹配方面仍存在一定不足，公司在高精度快速光譜儀方面積累了豐富經驗，改良了CCD與光柵的匹配設計，使整個系統的光學匹配更趨*，系統所獲得的光譜更純，線性更好。此外，公司采用*的雜散光控制技術、寬動態線性技術、精密CCD電子驅動技術和復變矩陣軟件技術，并成功應用了帶通色輪校正技術（BWCT）、分光積分結合技術（SBCT），以及修正的NIST雜散光校正技術等多項技術，整個系統實現了*的5.00E-05的極低雜散光水平（在A光源嚴格條件下）和0.3%的全動態光度線性性能。關鍵技術指標在處地位。

三、技術*性：

1、低雜散光

通過改良設計后高度匹配度的高精度光柵和科學級制冷型陣列探測器，并利用BWCT技術和修正的NIST雜散光校正技術，雜散可以比原有高精度快速光譜儀的十分之一還要低。

2、寬線性動態測量范圍

與普通陣列探測器相比，科學級陣列探測器具有更寬的線性動態范圍，且光學匹配改造設計后，儀器的動態范圍進一步拓寬。此外，SBCT技術也大輻提高了線性動態范圍。

3、快速

不僅可以測量光源的穩態特性，而且可以測量它們瞬態光學特性，*符合相關標準的規定。在儀器的靈敏度范圍內，無論被測光的瞬態脈沖多快（如小于微秒級），儀器均可以通過同步觸發功能實現快速的全光譜測量。采用科學級陣列探測器代替機械掃描系統，可以在極短的測量時間內（毫秒級）完整完成測量整個光譜范圍。

4、高精度

專為高精度應用場合設計，通過對世界*商用科學級制冷型陣列探測器和精密光柵進行改良設計，使其更加匹配，再配以精密的光學系統和電子線路，同時采用多項技術，整個系統可以實現高分辨率、高靈敏度、低噪聲、低雜散光和寬動態范圍，從而實現測量的目的。

5、高重復性和穩定性

儀器沒有機械運動的掃描機構，*會產生隨環境變化的溫度因素也被恒溫制冷技術控制到了±0.05℃的水平，測量的重復性和穩定性。

6、小巧

由于不含機械掃描裝置，設計精巧，無機械磨損，壽命極長，可靠性。設計輕巧，非常適合于需要便攜的應用場合。

7、NIM和NIST 溯源

儀器可溯源至中國國家*（NIM）和美國NIST傳遞的標準，量值準確度高。

8、光纖輸入

采用光纖輸入端，配置合適的光纖適配器以及相關附件后可以靈活的實現多種測量方案，這種靈活性使得不僅應用在實驗室和研究場合，也可應用在質量控制和生產線。

9、測量附件

廣泛的可選附件為應用提供了方便。應用領域包括普通電光源、LED、顯示屏等的光譜輻射度色度和光度測量以及光譜反射/透射測量。幾乎所有的附件都由公司自行設計和生產制造，所以不存在不兼容的問題。

10、高靈敏度

經系統匹配改造設計的采用光柵和HAMAMATSU TE-制冷陳列探測器，使得儀器的靈敏度。

11、關鍵部件：陣列探測器

中所使用的科學級高靈敏度陣列探測器與普通相比，成本要貴近100倍，它具有如下特性：

TE制冷： 內置TE制冷器，可以降低被照射的探測器芯片的溫度，該項技術可以將動態范圍提高一個數量級，并且降低暗噪聲。

背照式：光子不需要穿到芯片的深處，這使得它的靈敏度比傳統前照式高一個數量級。

宏模式：在同一列的象素點累加。通過宏操作，二維陣列探測器作為探測口徑較長的一維線性光電探測器使用，明顯提高了信噪比和信號處理速度。

低噪聲，寬動態，穩定度較好的高UV響應。

三、主要技術指標：

1）應用BWCT技術； 　　　

2）應用SBCT技術； 　　

3）不計源自標準燈的不確定度，公司可提供客戶高精度但低價格的標準燈系統。