詳細介紹
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產品概述詳細
詳細資料:
一、概述
數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置,它可以測量片狀、塊狀半導體材料的電阻率,擴散層的薄層電阻(亦稱方塊電阻)。也可測柔性導電薄膜和玻璃等硬基底上導電膜的方塊電阻(簡稱方阻),換上四端子測試夾具,還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量。
本測試儀可贈設電池供電,適合手持式變動場合操作!
儀器所有參數設定、功能轉換全部采用一旋鈕輸入;具有零位、滿度自校功能;自動轉換量程;測試探頭采用高耐磨碳化鎢探針制成,故定位準確、游移率小、壽命長;測試結果由數字表頭直接顯示。
二、基本技術參數
1.測量范圍、分辨率
電阻:1.0×10-2~2000Ω,分辨率0.1×10-3~0.1×10Ω
電阻率:1.0×10-3~2000Ω-cm分辨率0.1×10-2~0.1Ω-cm
方塊電阻:1.0×10-3~2000Ω/□分辨率1.0×10-1~0.1×10Ω/□
2.可測半導體材料尺寸(手持式)
直徑:測試臺直接測試方式Φ15~130mm,其他方式不限.
長(或高)度:測試臺直接測試方式H≤160mm,其他方式不限.
3.量程劃分及誤差等級
量程
2.000
200.0
20.00
2.000
200.0
kΩ-cm/□
Ω-cm/□
mΩ-cm/□
基本誤差
±1%FSB±2LSB
±1.5%FSB
±4LSB
4)適配器工作電源:220V±10%,f=50Hz±4%,PW≤5W,或電池供電
5)外形尺寸:W×H×L=18cm×7.5cm×13cm
凈重:≤0.5kg